[發(fā)明專利]一種掩膜版在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011019614.6 | 申請日: | 2020-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN112068396A | 公開(公告)日: | 2020-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李淑君;祝宏勛;孔施琴;張麗潔 | 申請(專利權(quán))人: | 南京中電熊貓液晶顯示科技有限公司 |
| 主分類號: | G03F1/54 | 分類號: | G03F1/54;G02F1/1337 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 210033 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 掩膜版 | ||
本發(fā)明揭示一種掩膜版,用于光配向技術(shù),其包括遮光區(qū)域和曝光區(qū)域,掩膜版的曝光區(qū)域包括正常曝光區(qū)域以及位于正常曝光區(qū)域兩側(cè)的拼接曝光區(qū)域,所述拼接曝光區(qū)域包括遠(yuǎn)離所述正常曝光區(qū)域的全遮光區(qū)域和靠近所述正常曝光區(qū)域的部分遮光區(qū)域,所述全遮光區(qū)域與所述部分遮光區(qū)域連接。本發(fā)明掩膜版,通過調(diào)整拼接曝光區(qū)域的形狀,使得一半以上的拼接曝光區(qū)域由全遮光區(qū)域形成,增加了開口率,改善了面板的縱條紋Mura。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種曝光的技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種掩膜版。
背景技術(shù)
UV2A(Ultra Violet Vertical Alignment)技術(shù)是一種使用紫外線(UV=UltraViolet)進(jìn)行液晶配向的VA(Vertical Alignment,垂直配向)面板技術(shù),其名稱來源于紫外線UV與液晶面板VA模式的相乘。通過導(dǎo)入UV2A技術(shù)后,可以省去目前在VA模式液晶面板中用于控制液晶分子配向的狹縫隙和突起,因此通過UV2A技術(shù)液晶面板的開口率、對比度和響應(yīng)速度都能得到提高,并能大幅削減生產(chǎn)程序。
如圖1所示,UV2A光配向技術(shù)光配向技術(shù)利用線性偏極的紫外線(UV)10照射在具有感光劑的高分子聚合物形成的配向膜20上,使得高分子聚合物表面的高分子主鏈向紫外線(UV)10照射方向傾斜,從而具有配向能力,液晶分子30就會沿著這條主鏈的方向傾斜;通過控制配向的角度,液晶分子30的配向精度是相對于液晶分子的長度(約2nm)成±20pm的角度。其優(yōu)點(diǎn)為可避免玻璃基板表面的污染、可以進(jìn)行小面積的配向、透過光罩可作圖形的配向,利用入射光的角度與照射時間的長短,可以控制液晶單元的參數(shù),如預(yù)傾角、表面定向強(qiáng)度等。
UV2A曝光時,配向曝光機(jī)由12塊掩膜版41組成,6塊掩膜版41位于上側(cè)、6塊掩膜版41位于下側(cè),上側(cè)的掩膜版和下側(cè)的掩膜版存在交疊的位置,這樣12塊掩膜版41可拼接對一個基板100進(jìn)行完整的曝光,如圖2所示,不同的掩膜版都由獨(dú)立的燈源和光路組成。
圖3為采用圖2所示的12個掩膜版進(jìn)行多疇配向的液晶顯示面板,其中一塊大基板1可以切割成6個小基板2,采用12個掩膜對大基板1進(jìn)行曝光時,在灰階畫面下出現(xiàn)縱Mura不良,其縱條紋Mura位置與上側(cè)掩膜版和下側(cè)掩膜版之間的交疊位置3(圖3示意了交疊位置3的長度為45mm)相符,影響液晶顯示面板品質(zhì)。由于不同掩膜版的燈源和光路差異,導(dǎo)致上側(cè)掩膜版和下側(cè)掩膜版之間的交疊位置3界處產(chǎn)生縱條紋Mura。
圖4為掩膜版正常曝光區(qū)域和拼接曝光區(qū)域示意圖,每塊掩膜版的曝光區(qū)域由正常曝光區(qū)域和拼接曝光區(qū)域組成,其中正常曝光區(qū)域的長度為160mm,拼接曝光區(qū)域的長度為45mm,拼接區(qū)域采用正余弦波形結(jié)構(gòu)。
圖5為掩膜版正常曝光區(qū)域和拼接曝光區(qū)域的放大示意圖,非拼接處002為正常曝光區(qū)域,拼接處001為拼接曝光區(qū)域,上側(cè)掩膜版和下側(cè)掩膜版的拼接曝光區(qū)域,組成一個完整的曝光。
現(xiàn)有掩膜版在灰階畫面下出現(xiàn)縱Mura不良,其縱條紋Mura位置與TFT側(cè)掩膜版的交疊位置相符,影響面板品質(zhì)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種調(diào)整拼接曝光區(qū)域的形狀且改善縱條紋Mura的掩膜版。
本發(fā)明揭示一種掩膜版,用于光配向技術(shù),其包括遮光區(qū)域和曝光區(qū)域,掩膜版的曝光區(qū)域包括正常曝光區(qū)域以及位于正常曝光區(qū)域兩側(cè)的拼接曝光區(qū)域,所述拼接曝光區(qū)域包括遠(yuǎn)離所述正常曝光區(qū)域的全遮光區(qū)域和靠近所述正常曝光區(qū)域的部分遮光區(qū)域,所述全遮光區(qū)域與所述部分遮光區(qū)域連接。
進(jìn)一步地,所述全遮光區(qū)域的形狀為矩形,所述部分遮光區(qū)域的形狀為正余弦波形。
進(jìn)一步地,所述全遮光區(qū)域的寬度大于部分遮光區(qū)域的寬度2倍以上。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準(zhǔn)或測試的特殊涂層或標(biāo)記;其制備





