[發明專利]一種電磁波場衰減系數的確定方法、裝置以及介質

有效

• 申請號: 202011018741.4
• 申請日: 2020-03-30
• 公開（公告）號: CN112285790B
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: 付長民;王嘯天;底青云
• 申請（專利權）人: 中國科學院地質與地球物理研究所
• 主分類號: G01V3/12
• 分類號: G01V3/12;G01V3/38;G01S13/88
• 代理公司: 北京君慧知識產權代理事務所(普通合伙) 11716
• 代理人: 吳紹群

1.一種電磁波場衰減系數的確定方法，其特征在于，所述方法包括：

根據實際電磁波場數據確定出所述實際電磁波場數據對應的無耗損電磁波場數據；

對所述實際電磁波場數據與所述無耗損電磁波場數據進行第一振幅補償，其中，所述第一振幅補償為補償由幾何衰減對所述實際電磁波場數據與所述無耗損電磁波場數據所帶來的振幅誤差；

提取所述實際電磁波場數據中電磁波的波形信息與所述無耗損電磁波場數據中電磁波的波形信息；

在所述實際電磁波場數據中電磁波的波形信息與所述無耗損電磁波場數據中電磁波的波形信息中，分別確定出符合預設條件的所述實際電磁波場數據對應的第一特征值序列與所述無耗損電磁波場數據對應的第二特征值序列，并確定出所述第一特征值序列與所述第二特征值序列對應的時間序列；

所述預設條件的所述實際電磁波場數據對應的第一特征值序列為所述實際電磁波場數據對應的特征波形的多個周期中振幅最大值序列，或者為所述實際電磁波場數據對應的特征波形的多個周期中振幅絕對值最大值序列；所述預設條件的所述無耗損電磁波場數據對應的第二特征值序列為所述無耗損電磁波場數據對應的特征波形的多個周期中振幅最大值序列，或者為所述無耗損電磁波場數據對應的特征波形的多個周期中振幅絕對值最大值序列；

根據第一預設方式確定出所述實際電磁波場數據的衰減系數，并根據所述衰減系數對所述實際電磁波場數據進行第二振幅補償，其中，所述第二振幅補償為補償由衰減系數對所述實際電磁波場數據所帶來的振幅誤差;

根據第一預設方式確定出所述實際電磁波場數據的衰減系數，具體包括：

將所述第一特征值序列、所述第二特征值序列以及時間序列輸入至公式，確定出所述實際電磁波場數據的衰減系數；

其中，為實際電磁波場數據，為所述無耗損電磁波場數據，β為衰減系數，t為時間，x為場源至接收點的距離，b為常量;

所述根據實際電磁波場數據確定出所述實際電磁波場數據對應的無耗損電磁波場數據，具體包括：

對獲取的所述實際電磁波場數據進行數據處理，其中，所述數據處理包括濾波、反褶積、零點時間校正中的一種或多種；

對處理后的所述實際電磁波場數據進行速度分析，得出速度模型；其中，所述速度分析是在共中心點道集的基礎上，利用不同的速度值做速度掃描后得到速度譜，通過所述速度譜得到所述速度模型，所述速度模型為電磁波在介質中速度的分布情況；

根據所述速度模型確定出所述實際電磁波場數據對應的無耗損電磁波場數據。

2.根據權利要求1所述的電磁波場衰減系數的確定方法，其特征在于，所述根據第一預設方式確定出所述實際電磁波場數據的衰減系數之前，所述方法還包括：

通過正演模型模擬出測試波場，并根據所述第一預設方式確定出測試電磁波場數據的衰減系數；

將所述測試電磁波場數據的衰減系數與測試電磁波場數據衰減系數的理論值進行對比，以確定出所述第一預設方式得出的所述測試電磁波場數據的衰減系數是否正確。

3.根據權利要求1所述的電磁波場衰減系數的確定方法，其特征在于，所述電磁波的波形信息類型包括反射波或直達波。