[發明專利]頁巖氣藏地層模型建立方法、電子設備及介質

在審

• 申請號: 202011018681.6
• 申請日: 2020-09-24
• 公開（公告）號: CN114429015A
• 公開（公告）日: 2022-05-03
• 發明（設計）人: 商曉飛;段太忠;吳雙;廉培慶;趙磊;張文彪;李蒙;李燕;趙華偉;王鳴川
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06T17/05
• 代理公司: 北京思創畢升專利事務所 11218
• 代理人: 孫向民;廉莉莉

1.一種基于水平井巖相層標定的頁巖氣藏地層模型建立方法，其特征在于，包括：

建立頁巖氣層關鍵層面模型；

基于多個水平井實測資料和所述頁巖氣層關鍵層面模型，獲取多個巖相小層的層面模型；

在每個巖相小層的層面模型中，調整各個巖相層面之間的垂直距離，獲得多個新的層面模型；

對每個所述新的層面模型進行層面深度校正，獲得對應校正后的層面模型；

基于每個所述校正后的層面模型，獲得最終的頁巖氣藏地層模型。

2.根據權利要求1所述的基于水平井巖相層標定的頁巖氣藏地層模型建立方法，其特征在于，基于地震解釋頁巖層的頂層面、底層面，利用導眼井和水平井豎直段的頁巖分層數據進行層面校正，采用離散光滑插值法，建立頁巖氣層關鍵層面模型。

3.根據權利要求2所述的基于水平井巖相層標定的頁巖氣藏地層模型建立方法，其特征在于，根據以下步驟獲取多個巖相小層的層面模型：

基于所述每個水平井實測資料，利用導眼井和水平井豎直段的巖相小層測井特征標志，確定出所述水平井水平段軌跡所穿行的巖相類型，記錄所述水平井水平段的巖相變化情況及巖相層變化處坐標；

根據所述每個水平井水平段的巖相變化情況，選取多個穿行多個巖相層的水平井；

在所述選取的每個水平井水平段中的各巖相層變化處設置一個虛擬直井；

基于所述多個虛擬直井和所述頁巖氣層關鍵層面模型，獲取多個巖相小層的層面模型。

4.根據權利要求3所述的基于水平井巖相層標定的頁巖氣藏地層模型建立方法，其特征在于，所述基于所述多個虛擬直井和所述頁巖氣層關鍵層面模型，獲取多個巖相小層的層面模型包括：

針對每個巖相層，以所述巖相層變化處的所有虛擬直井的分層深度數據為條件數據，利用所述頁巖氣層關鍵層面模型的關鍵層面約束，采用離散光滑插值法，建立所述巖相層對應的頁巖內部巖相小層的層面模型。

5.根據權利要求4所述的基于水平井巖相層標定的頁巖氣藏地層模型建立方法，其特征在于，通過以下步驟獲得多個新的層面模型；

利用導眼井和水平井豎直段的巖相層標定結果，確定各巖相小層在頁巖層段內的厚度占比；

根據所述厚度占比，在多個巖相小層的層面模型中調整各個巖相層面之間的垂直距離，直至每個巖相小層的地層厚度符合其在頁巖層段內的厚度占比，形成多個新的層面模型。

6.根據權利要求5所述的基于水平井巖相層標定的頁巖氣藏地層模型建立方法，其特征在于，通過以下步驟對所述新的層面模型進行層面深度校正：

針對一個新的層面模型對應的巖相層，沿水平井井軌跡，采用感應測井按相同采樣間隔統計水平井水平段中所述巖相層的測井數值，根據所述測井數值將所述巖相層劃分多個測井區間，選取其中一個測井區間的位置作為校正采樣點；

依據巖相層內感應測井與探測距離的關系，計算所述校正采樣點處鉆井與所述校正采樣點所在巖相層層面之間的距離d；

根據實鉆井軌跡在所述校正采樣點處的垂深數據z₀和所述校正采樣點處鉆井與所述校正采樣點所在巖相層層面之間的距離d，計算所述校正采樣點所在巖相層面的深度值z；

在所述新的層面模型中，將所述校正采樣點的位置調至深度值z處；

針對每個新的層面模型，重復上述步驟，完成所有水平井段的所有巖相層面深度校正，獲得多個校正后的層面模型。