[發(fā)明專利]一種體積渲染方法、裝置、存儲介質(zhì)及計算機設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011017777.0 | 申請日: | 2020-09-24 |
| 公開(公告)號: | CN112138386A | 公開(公告)日: | 2020-12-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 盤琪 | 申請(專利權(quán))人: | 網(wǎng)易(杭州)網(wǎng)絡(luò)有限公司 |
| 主分類號: | A63F13/525 | 分類號: | A63F13/525;G06T15/00;G06T15/04;G06T15/06 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570 | 代理人: | 遠(yuǎn)明 |
| 地址: | 310052 浙江省杭州*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 體積 渲染 方法 裝置 存儲 介質(zhì) 計算機 設(shè)備 | ||
1.一種體積渲染方法,其特征在于,包括:
將待渲染模型體素化為若干體素格;
劃分具有預(yù)定分辨率的像素貼圖區(qū)域,使所述像素貼圖區(qū)域分割為預(yù)定數(shù)量的方塊;
將所述方塊的任意一個頂點Ni的位置映射為三維坐標(biāo)系中每個用于對所述體素格進行體積采樣的采樣相機的位置Pj,所述進行體積采樣獲取的體積采樣數(shù)據(jù)包括沿所述采樣相機的采樣方向獲取的所述體素格的累積濃度d、所述體素格的正向深度fd和所述體素格的反向深度bd;
在所述頂點Ni的位置保存所述位置Pj處采樣相機獲取的體積采樣數(shù)據(jù);
按照渲染相機的視角,匹配所述采樣相機獲取的體積采樣數(shù)據(jù)后對所述待渲染模型進行渲染。
2.如權(quán)利要求1所述體積渲染方法,其特征在于,所述劃分具有預(yù)定分辨率的像素貼圖區(qū)域,使所述像素貼圖區(qū)域分割為預(yù)定數(shù)量的方塊之后,所述方法還包括:
將所述像素貼圖區(qū)域分割的預(yù)定數(shù)量的方塊映射至中心在二維坐標(biāo)系原點的正方形區(qū)域;
記錄所述每個方塊任一頂點Ni在所述正方形區(qū)域的坐標(biāo)(xi,yi)。
3.如權(quán)利要求2所述體積渲染方法,其特征在于,所述將所述方塊的任意一個頂點Ni的位置映射為三維坐標(biāo)系中每個用于對所述體素格進行體積采樣的采樣相機的位置Pj,包括:
將所述頂點Ni的位置映射至半球體的球面上的一個視點,所述視點為所述采樣相機的位置Pj并作為所述采樣相機對所述體素格進行體積采樣的采樣方向的起點,所述半球體至少能夠包圍所述待渲染模型。
4.如權(quán)利要求3所述體積渲染方法,其特征在于,所述將所述頂點Ni的位置映射至半球體的球面上的一個視點,包括:
求取所述頂點Ni的坐標(biāo)xi與yi之和的均值E1,以及坐標(biāo)xi與yi之差的均值E2;
以E1-0.5、1-|E1|-|E2|以及E2作為歸一化函數(shù)的參數(shù),求取所述歸一化函數(shù)的函數(shù)值,所述函數(shù)值作為所述視點在所述三維坐標(biāo)系中的坐標(biāo)(px,py,pz),所述|E1|為所述E1的絕對值,所述|E2|為所述E2的絕對值。
5.如權(quán)利要求1所述體積渲染方法,其特征在于,所述在所述頂點Ni的位置保存所述位置Pj處采樣相機獲取的體積采樣數(shù)據(jù),包括:
在所述頂點Ni的位置對應(yīng)的像素貼圖上,將所述位置Pj處采樣相機獲取的所述體素格的累積濃度d、所述體素格的正向深度fd和所述體素格的反向深度bd分別存儲為所述像素貼圖的RGB通道的R通道值、G通道值和B通道值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于網(wǎng)易(杭州)網(wǎng)絡(luò)有限公司,未經(jīng)網(wǎng)易(杭州)網(wǎng)絡(luò)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011017777.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





