[發明專利]一種幾何圖形繪制的方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011017679.7
• 申請日: 2020-09-24
• 公開（公告）號: CN112102435B
• 公開（公告）日: 2023-08-01
• 發明（設計）人: 朱玉榮;請求不公布姓名;請求不公布姓名
• 申請（專利權）人: 安徽文香科技股份有限公司
• 主分類號: G06T11/20
• 分類號: G06T11/20;G06F3/04845
• 代理公司: 北京久誠知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11542
• 代理人: 翟麗紅

1.一種幾何圖形繪制的方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取從書寫開始到書寫結束期間的采樣點坐標序列和所述采樣點坐標序列構成的手繪幾何圖形；所述采樣點坐標序列中的采樣點按順序形成采樣點坐標列表；

根據所述手繪幾何圖形獲取包含所述手繪幾何圖形的最小外接矩形；

根據所述最小外接矩形和所述采樣點坐標列表獲得第一頂點、第二頂點和第三頂點；所述第一頂點、所述第二頂點和所述第三頂點為所述手繪幾何圖形上的采樣點；

根據所述采樣點坐標列表、所述第一頂點、所述第二頂點和所述第三頂點確定所述手繪幾何圖形對應的目標幾何圖形；

繪制所述手繪幾何圖形對應的目標幾何圖形；

所述根據所述最小外接矩形和所述采樣點坐標列表獲得第一頂點、第二頂點和第三頂點，包括：

確定所述最小外接矩形的中心點；

計算所述采樣點坐標列表中的每個采樣點和所述中心點的第一距離，取所述第一距離最遠的采樣點作為第一頂點；

計算所述采樣點坐標列表中的每個采樣點和所述第一頂點的第二距離，取所述第二距離最遠的采樣點作為第二頂點；

計算所述采樣點坐標列表中的每個采樣點到第一線段的第一垂線距離，取所述第一垂線距離最遠的采樣點作為第三頂點；所述第一線段為連接所述第一頂點和所述第二頂點所形成的線段。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述目標幾何圖形包括：目標線段、目標三角形、目標角、目標四邊形、目標曲線；所述目標四邊形包括目標矩形、目標平行四邊形和目標普通四邊形；所述目標曲線包括目標圓形和目標橢圓形；

所述根據所述采樣點坐標列表、所述第一頂點、所述第二頂點和所述第三頂點確定所述手繪幾何圖形對應的目標幾何圖形，包括：

根據所述第一頂點、所述第二頂點和所述第三頂點判斷所述手繪幾何圖形是否為所述目標線段，如果是，確定所述手繪幾何圖形對應的目標幾何圖形為所述目標線段；

根據所述采樣點坐標列表、所述第一頂點、所述第二頂點和所述第三頂點判斷所述手繪幾何圖形是否為所述目標三角形或所述目標角，如果是，確定所述手繪幾何圖形對應的所述目標幾何圖形為所述目標三角形或所述目標角；

根據所述采樣點坐標列表、所述第一頂點、所述第二頂點和所述第三頂點判斷所述手繪幾何圖形是否為所述目標四邊形，如果是，確定所述手繪幾何圖形對應的所述目標幾何圖形為所述目標四邊形；

根據所述采樣點坐標列表、所述第一頂點、所述第二頂點和所述第三頂點判斷所述手繪幾何圖形是否為所述目標曲線，如果是，確定所述手繪幾何圖形對應的所述目標幾何圖形為所述目標曲線。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一頂點、所述第二頂點和所述第三頂點判斷所述手繪幾何圖形是否為所述目標線段，如果是，確定所述手繪幾何圖形對應的目標幾何圖形為所述目標線段，包括：

計算所述第三頂點到過所述第一線段的直線的第二垂線距離；

判斷所述第二垂線距離是否小于第一閾值，如果小于第一閾值，則所述手繪幾何圖形對應的目標幾何圖形為所述目標線段。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述繪制所述手繪幾何圖形對應的目標幾何圖形，包括：

當所述手繪幾何圖形對應的目標幾何圖形為所述目標線段時，所述繪制所述手繪幾何圖形對應的目標幾何圖形，包括：

擦除所述手繪幾何圖形，繪制所述第一線段；所述第一線段為所述目標線段。