[發(fā)明專利]一種太赫茲真空電子器件冷陰極柵網及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011014023.X | 申請日: | 2020-09-24 |
| 公開(公告)號: | CN112289664A | 公開(公告)日: | 2021-01-29 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李興輝;韓攀陽;杜婷;姜琪;楊金生;蔡軍;馮進軍 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第十二研究所 |
| 主分類號: | H01J1/304 | 分類號: | H01J1/304;H01J9/02 |
| 代理公司: | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人: | 鄒歡 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 赫茲 真空 電子器件 陰極 及其 制備 方法 | ||
1.一種太赫茲真空電子器件冷陰極柵網,其特征在于,其包括:
柵網基片,在所述柵網基片中心區(qū)域包含柵極透孔陣列;
柵網支撐環(huán),位于所述柵網基片上,二者焊接一體;
其中,所述柵網基片選自銅、鎳、鉻、金中的一種。
2.根據權利要求1所述的太赫茲真空電子器件冷陰極柵網,其特征在于,所述柵網支撐環(huán)位于柵網基片邊緣,避開柵極透孔陣列;
優(yōu)選地,所述柵網支撐環(huán)內環(huán)具有30-70度傾角;
優(yōu)選地,所述柵網支撐環(huán)選自銅、不銹鋼、鉬中的一種。
3.根據權利要求1所述的太赫茲真空電子器件冷陰極柵網,其特征在于,所述柵網基片的厚度為40微米至5微米。
4.根據權利要求1所述的太赫茲真空電子器件冷陰極柵網,其特征在于,所述柵極透孔陣列透光率為70%-90%;
優(yōu)選地,所述柵極透孔陣列中,柵極透孔的形狀為密排方形、圓形、三角形、正六邊形或輪輻柵形。
5.如權利要求1-4任一項所述的太赫茲真空電子器件冷陰極柵網的制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
提供基底;
在基底上形成電鍍材料粘附層;
在電鍍材料粘附層上涂敷光刻膠;
對光刻膠進行曝光、顯影,形成位于電鍍材料粘附層中心區(qū)域的、圖形與柵極透孔陣列圖形一一對應的光刻膠模具;
形成完全包覆光刻膠模具和電鍍材料粘附層的柵極電鍍層;
減薄上述光刻膠模具與柵極電鍍層形成的混合層,至柵極電鍍層的厚度達到所需柵網基片的厚度;
去除光刻膠模具,得到由柵極電鍍層構成的柵網基片;
將柵網支撐環(huán)焊接在柵網基片上;
去除基底和電鍍材料粘附層,得到所述柵網。
6.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于,所述電鍍材料粘附層的材料為鉻或鈦,電鍍材料粘附層的厚度為30納米-100納米;
優(yōu)選地,形成所述電鍍材料粘附層的方法為真空蒸發(fā)鍍膜或磁控濺射鍍膜。
7.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于,所述光刻膠為MEMS技術中使用的光刻厚膠,優(yōu)選為KMPR光刻膠或SU8光刻膠;
優(yōu)選地,所述光刻膠模具的厚度大于所需柵極透孔陣列的深度。
8.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于,所述基底為硅片、氧化硅片、玻璃片或表面平行度和平整度滿足光刻要求的金屬基片。
9.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于,去除光刻膠模具的方法為濕法化學腐蝕、氧等離子體刻蝕、高溫灰化或熔鹽法。
10.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于,所述焊接的方式為釬焊、激光焊或擴散焊。
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