[發(fā)明專利]一種空間飛行器全方位繞飛軌跡規(guī)劃方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011012633.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112180959A | 公開(公告)日: | 2021-01-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙春艷;富燕榮;張學(xué)才;林童;李鑫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G05D1/08 | 分類號(hào): | G05D1/08;G05D1/10 |
| 代理公司: | 上海邦德專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31312 | 代理人: | 余昌昊 |
| 地址: | 200093 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 空間 飛行器 全方位 軌跡 規(guī)劃 方法 | ||
1.一種空間飛行器全方位繞飛軌跡規(guī)劃方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、規(guī)劃繞飛平面,為使繞飛軌跡覆蓋目標(biāo)周圍全部空域,進(jìn)行繞飛軌跡設(shè)計(jì)時(shí),繞飛平面不能局限在軌道平面內(nèi),期望為任意空間平面;
S2、通過規(guī)劃的繞飛平面建立XYZ軌道坐標(biāo)系,坐標(biāo)原點(diǎn)為O;
S3、通過XYZ軌道坐標(biāo)系定義繞飛平面傾角與繞飛升交點(diǎn)角;
S4、規(guī)劃繞飛平面內(nèi)軌跡,繞飛平面內(nèi)軌跡規(guī)劃包括軌跡形狀、大小、繞飛速度、繞飛初始位置;
S5、根據(jù)規(guī)劃繞飛平面內(nèi)軌跡設(shè)計(jì)繞飛橢圓及速度參數(shù)、繞飛橢圓拱線方向及繞飛橢圓中心點(diǎn)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種空間飛行器全方位繞飛軌跡規(guī)劃方法,其特征在于,所述步驟S3中的所述繞飛平面傾角為繞飛平面與軌道坐標(biāo)系XOY的夾角或繞飛法線方向與-Z軸夾角,取值為-90°~90°。
3.如權(quán)利要求1所述的一種空間飛行器全方位繞飛軌跡規(guī)劃方法,其特征在于,所述步驟S3的所述繞飛升交點(diǎn)角為繞飛軌跡由+Z方向向-Z方向穿越軌道坐標(biāo)系XOY面時(shí)與OX軸的夾角,角度極性相對(duì)于Z軸滿足右手定則,取值為0°~360°。
4.如權(quán)利要求1所述的一種空間飛行器全方位繞飛軌跡規(guī)劃方法,其特征在于,所述步驟S2的XYZ軌道坐標(biāo)系定義如下:
O—坐標(biāo)原點(diǎn),空間飛行器質(zhì)心;
Z軸—由原點(diǎn)指向地心;
X軸—軌道平面內(nèi)垂直于OZ指向衛(wèi)星飛行方向;
Y軸—與X軸和Z軸構(gòu)成右手坐標(biāo)系。
5.如權(quán)利要求1所述的一種空間飛行器全方位繞飛軌跡規(guī)劃方法,其特征在于,所述步驟S5的所述繞飛橢圓,通過假設(shè)所述繞飛橢圓橢圓兩條軸線分別在X和Y軸上,該表達(dá)式為:
上式中,R1為橢圓長半軸,繞飛半徑1;
R2為橢圓短半軸,繞飛半徑2;
ω為繞飛角速度,通過繞飛時(shí)間長度T和繞飛圈數(shù)n決定:
為繞飛初始相位角,通過該變量,可以設(shè)定不同的初始繞飛位置。
6.如權(quán)利要求5所述的一種空間飛行器全方位繞飛軌跡規(guī)劃方法,其特征在于,所述繞飛橢圓中的R1和R2相同時(shí),繞飛軌跡為圓;當(dāng)R1和R2不同時(shí),繞飛軌跡為橢圓;通過調(diào)整R1和R2的比例可以對(duì)繞飛偏心率進(jìn)行設(shè)置;通過調(diào)整R1和R2大小可以對(duì)繞飛橢圓大小進(jìn)行設(shè)置。
7.如權(quán)利要求1所述的一種空間飛行器全方位繞飛軌跡規(guī)劃方法,其特征在于,所述步驟S5的所述繞飛橢圓拱線包括繞飛橢圓拱線幅角,在繞飛平面內(nèi),繞飛橢圓長半軸指向可能會(huì)有不同,參考軌道6要素中的近地點(diǎn)幅角,設(shè)計(jì)參數(shù)ωfa為繞飛橢圓拱線幅角,即繞Z軸旋轉(zhuǎn)角度。
8.如權(quán)利要求1所述的一種空間飛行器全方位繞飛軌跡規(guī)劃方法,其特征在于,所述步驟S5的所述繞飛橢圓中心點(diǎn)設(shè)計(jì)為:考慮繞飛對(duì)象處于繞飛軌跡的中心位置,為了進(jìn)一步增加靈活性來滿足特定任務(wù)的需求,設(shè)定繞飛中心參數(shù)Xo、Yo及Zo。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海理工大學(xué),未經(jīng)上海理工大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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