[發明專利]多探針無損檢查系統

在審

• 申請號: 202011012208.7
• 申請日: 2020-09-24
• 公開（公告）號: CN112630481A
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: J·M·史諾澤奇;B·A·菲澤
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 尚曉芹

1.一種無損檢查系統(100)，其包括：

運動平臺(102)；和

工具組件(110)，其連接至所述運動平臺(102)，使得所述工具組件(110)可相對于所述運動平臺(102)移動，其中所述工具組件(110)包括檢查工具組件(130)，所述檢查工具組件(130)包括：

連接至所述工具組件(110)的基礎結構(131)；和

連接至所述基礎結構的多個探針組件(134a、134n)，每個探針組件(134a、134n)包括第一線性致動器(133a、133n)和探針(135a、135n)，所述探針(135a、135n)不同于所述多個探針組件(134a、134n)中的任何其他一個的探針(135a、135n)，用于檢查結構(140)的不同結構特征(145、146)，其中每個探針(135a、135n)使用多個探針組件(134a、134n)中相應一個的第一線性致動器(133a、133n)沿第一軸(A)相對于探針(135a、135n)的另一個探針并且垂直于所述基礎結構(131)可移動。

2.根據權利要求1所述的無損檢查系統(100)，其中：

所述檢查工具組件(130)進一步包括第二線性致動器(132)，所述第二線性致動器(132)連接至所述基礎結構(131)和所述多個探針組件(134a、134n)中的每個；和

所述第二線性致動器(132)被配置為使所述多個探針組件(134a、134n)沿垂直于所述第一軸(A)的第二軸(B)移動。

3.根據權利要求2所述的無損檢查系統(100)，進一步包括控制器(108)，其被配置為致動所述第一線性致動器(133a，133n)以將所述多個探針中的一個定位到掃描位置并且將所述其他一個或多個探針定位到非掃描位置。

4.根據權利要求3所述的無損檢查系統(100)，其中：

第一軸(A)穿過所述工具組件(110)的參考點(145)；

處于所述掃描位置的所述多個探針組件(134a、134n)中的一個與所述參考點(145)對準，使得所述第一軸(A)穿過所述多個探針組件(134a、134n)中的一個；和

處于非掃描位置的所述其他探針組件(134a、134n)未與所述參考點(145)對準，使得所述第一軸(A)不穿過所述其他探針組件(134a、134n)。

5.根據權利要求3所述的無損檢查系統(100)，其中：

所述第一軸(A)穿過所述工具組件(110)的參考點(145)；和

確定定位在所述掃描位置的所述多個探針組件(134a、134n)中的一個的位置相對于所述參考點(145)的偏移，用于掃描。

6.根據權利要求1-5中任一項所述的無損檢查系統(100)，其中所述多個探針組件(134a、134n)中的每個探針(135a、135n)可圍繞平行于所述第一軸(A)的第一徑向軸(C)旋轉，并且可圍繞垂直于所述第一軸(A)和所述第一徑向軸(C)的第二徑向軸(D)旋轉。

7.根據權利要求1-5中任一項所述的無損檢查系統(100)，其中：

所述多個探針組件(134a、134n)中的探針組件(134a、134n)包括多個探針(135a、135n)；和

當所述多個探針組件(134a、134n)中的至少另一個處于非掃描位置時，所述多個探針(135a、135n)被配置為當所述探針組件(134a、134n)處于掃描位置時同時掃描所述結構(140)。

8.根據權利要求1-5中任一項所述的無損檢查系統(100)，其進一步包括一個或多個傳感器(136)，其中基于使用所述一個或多個傳感器(136)捕獲的關于所述結構(140)的數據，所述多個探針組件(134a、134n)中的探針組件(134a、134n)被選擇為處于掃描位置并且所述多個探針組件(134a、134n)中的另一個探針組件(134a、134n)中被選擇為處于非掃描位置。