[發明專利]母基板和顯示面板

有效

• 申請號: 202011012061.1
• 申請日: 2020-09-23
• 公開（公告）號: CN112068375B
• 公開（公告）日: 2022-10-11
• 發明（設計）人: 陳政鴻;袁海江
• 申請（專利權）人: 北海惠科光電技術有限公司;惠科股份有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 熊文杰

本申請涉及一種母基板和包括該母基板的顯示面板，其中，該母基板包括：輸入襯墊，位于母基板的邊緣：子基板，其顯示區內分布有開關陣列和與開關陣列相連的信號線，信號線的一端引出第一測試走線，信號線的另一端與輸入襯墊連接并引出第二測試走線，第一測試走線和第二測試走線位于不同的導電層且相互絕緣，第一測試走線和第二測試走線在非顯示區內的部分正投影相互重疊。根據第一測試走線和第二測試走線的設計，使得形成母基板時兩測試走線處于斷開狀態，信號線僅一端與輸入襯墊連接，而形成顯示面板時，兩測試走線因受到擠壓而連接，信號線兩端均與輸入襯墊連接，實現一個輸入襯墊輸入兩路信號，減小輸入襯墊的數目。

技術領域

本申請涉及顯示領域，特別是涉及一種母基板和顯示面板。

背景技術

顯示面板的制備過程包括多個工藝步驟，如制備母基板、膠框涂布、液晶滴落(ODF)、對位組裝、UV光配向、切割、偏光片偏貼、綁定等。在母基板制備完成后，會向母基板中的信號線輸入測試信號以進行測試，以判斷當前流片是否正常，若正常，則進入下一步工藝，若異常，則不進入一下步工藝，從而避免出現異常后仍執行后續制備工藝而浪費時間和成本。而在UV光配向時，也需要向母基板中的信號線輸入電信號，以使液晶分子呈一定的偏轉角度。在實際的制備工藝中，為簡化走線設計，在光配向步驟中向信號線輸送信號的走線共用母基板測試步驟中所使用的測試走線。在對母基板進行測試時，若同一信號線同時接入多個測試信號，難以檢測出信號線斷線的情況，因此，在測試時同一信號線一般僅接入一路測試信號，即通過單測試襯墊進行測試即可。在在光配向過程中，為保證信號線上的信號均勻度較好，一般需在同一信號線兩端分別接入電信號，即需要接入兩路電信號。此時，為了兼顧母基板測試和光配向過程，需保證信號線兩端接入電信號的通路相互獨立，因此，一般會設計兩個獨立的襯墊，當對母基板進行測試時，僅使用其中一個襯墊向同一信號線輸入單路測試信號，以確保能檢測出信號線斷線的異常，而當進行光配向時，則同時使用兩個襯墊向同一信號線輸入兩路電信號，以保證信號線上的信號具有較佳的均勻度。然而，上述結構中，同一信號線對應設計兩組襯墊，基板上的襯墊數目較多，所占面積較大，導致基板結構更加復雜。

發明內容

基于此，有必要針對通過目前的電輸入襯墊較多、襯墊所占面積較大的技術問題，提出一種母基板和顯示面板。

一種母基板，包括：

輸入襯墊，位于所述母基板的邊緣：

子基板，所述子基板分為顯示區和非顯示區，所述顯示區內分布有開關陣列和與所述開關陣列相連的信號線，所述信號線的一端引出第一測試走線，所述信號線的另一端與所述輸入襯墊連接并引出第二測試走線，所述第一測試走線和所述第二測試走線位于不同的導電層且相互絕緣，所述第一測試走線和所述第二測試走線在所述非顯示區內具有相互重疊的正投影區域。

在其中一個實施例中，所述信號線包括數據線和掃描線，所述輸入襯墊包括數據信號輸入襯墊和掃描信號輸入襯墊，所述數據線與所述數據信號輸入襯墊連接，所述掃描線的一端引出所述第一測試走線，所述掃描線的另一端與所述掃描信號輸入襯墊連接并引出所述第二測試走線。

在其中一個實施例中，所述母基板包括多個所述子基板。

在其中一個實施例中，各所述非顯示區分布有兩個掃描測試襯墊，所述掃描線的一端與其中一個所述掃描測試襯墊連接并引出所述第一測試走線，所述掃描線的另一端與其中另一個所述掃描測試襯墊以及所述所述掃描信號輸入襯墊連接并引出所述第二測試走線。

在其中一個實施例中，所述非顯示區還分布有數據測試襯墊，所述數據線與所述數據信號輸入襯墊和所述數據測試襯墊連接。

在其中一個實施例中，各所述掃描測試襯墊具有多個測試端，同一掃描測試襯墊中不同的所述測試端連接不同的所述掃描線。

在其中一個實施例中，所述掃描信號輸入襯墊具有多個輸入端，所述掃描測試襯墊的各測試端連接至所述掃描信號輸入襯墊的不同輸入端。