[發明專利]一種光開關的定標方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202011007125.9
• 申請日: 2020-09-23
• 公開（公告）號: CN112114403B
• 公開（公告）日: 2023-05-05
• 發明（設計）人: 王震;鄭潔;黃菁華;王敏;肖清明
• 申請（專利權）人: 武漢光迅科技股份有限公司
• 主分類號: G02B6/35
• 分類號: G02B6/35
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 崔曉嵐;張穎玲

1.一種光開關的定標方法，其特征在于，所述光開關包括光纖陣列、準直透鏡和微電機系統MEMS反射鏡；所述方法包括：

將多個電壓依次輸入至所述光開關，獲得第一輸出通道的初始電壓值；所述多個電壓基于預設電壓和第一電壓步進值獲得；所述第一輸出通道為所述光纖陣列的任一光纖對應的輸出通道；所述初始電壓值表示所述第一輸出通道的插入損耗的最小值對應的電壓值；

在二維坐標系下固定第一軸的初始電壓值，基于第二軸的初始電壓值、依次采用預設的第二電壓步進值改變輸入至所述光開關的輸入電壓，獲得所述第一輸出通道的插入損耗的變化量；

根據所述第二軸的初始電壓和所述插入損耗的變化量調整所述預設的第二電壓步進值，獲得可調的第二電壓步進值；

基于所述初始電壓值和所述可調的第二電壓步進值確定所述第一輸出通道的定標電壓；所述可調的第二電壓步進值小于所述第一電壓步進值；所述定標電壓用于定標所述第一輸出通道對應的光功率。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將多個電壓依次輸入至所述光開關，獲得第一輸出通道的初始電壓值，包括：

將預設第一電壓輸入至所述光開關之后，依次采用第一電壓步進值改變輸入至所述光開關的輸入電壓，根據所述準直透鏡的位置調整所述MEMS反射鏡的位置，使得所述MEMS反射鏡分別掃描到所述光纖陣列的所有外層光纖，固定所述MEMS反射鏡的位置；

根據所述MEMS反射鏡的位置和所述準直透鏡的位置獲得所述光纖陣列、所述準直透鏡、所述MEMS反射鏡的相對位置關系；

將預設第二電壓輸入至所述光開關之后，基于所述相對位置關系、依次采用第一電壓步進值改變輸入至所述光開關的輸入電壓，使得所述MEMS反射鏡分別掃描到所述光纖陣列中由內層向外層螺旋的光纖，獲得每次掃描后所述第一輸出通道的插入損耗；

確定所述MEMS反射鏡掃描過程中所述第一輸出通道的插入損耗的最小值，將所述插入損耗的最小值對應的電壓值作為初始電壓值。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述初始電壓值和所述可調的第二電壓步進值確定所述第一輸出通道的定標電壓，包括：

根據所述可調的第二電壓步進值更新所述初始電壓值，獲得第一輸出通道的定標電壓。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述可調的第二電壓步進值更新所述初始電壓值，獲得第一輸出通道的定標電壓，包括：

在所述插入損耗的變化量的方向發生變化的情況下，基于所述可調的第二電壓步進值和所述插入損耗的變化量的方向更新所述第二軸的初始電壓，獲得第一輸出通道第二軸的定標電壓。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于第二軸的初始電壓、依次采用預設的第二電壓步進值改變輸入至所述光開關的輸入電壓，獲得所述第一輸出通道的插入損耗的變化量，包括：

根據所述第二軸的初始電壓往正負方向依次采用預設的第二電壓步進值改變輸入至所述光開關的輸入電壓，獲得不同電壓分別對應的所述第一輸出通道的多個插入損耗；

根據所述多個插入損耗確定所述第一輸出通道的插入損耗的變化量。

6.根據權利要求1-5任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

檢測所述定標電壓是否滿足預設條件；

在所述定標電壓不滿足預設條件的情況下，重新基于所述初始電壓值和可調的第二電壓步進值確定所述第一輸出通道的定標電壓。