[發明專利]一種半導體激光器的檢測系統及檢測方法

有效

• 申請號: 202011006373.1
• 申請日: 2020-09-21
• 公開（公告）號: CN112098046B
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發明（設計）人: 周少豐;尹曉峰;蒙劍
• 申請（專利權）人: 深圳市星漢激光科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01R31/00;G01R31/26;G01N33/00;G01K11/12
• 代理公司: 武漢瑞創星知識產權代理事務所(普通合伙) 42274
• 代理人: 曹雄

1.一種半導體激光器的檢測方法，用于對半導體激光器進行檢測，所述半導體激光器包括由殼體所形成的收容腔，以及固定于收容腔內的半導體激光發射芯片，其特征在于，在所述半導體激光發射芯片的供電引腳與電源輸入端之間串接不可恢復的異常供電保護單元，所述不可恢復的異常供電保護單元用于在電源輸入端輸入的電壓或者電流異常時，自動斷開供電，且電源輸入端后續輸入的電壓和電流正常時，無法恢復供電狀態；所述收容腔內部固定安裝有不可逆的熱敏變色片，所述不可逆的熱敏變色片在所述收容腔內環境的溫度高于預設溫度時變色，且在所述收容腔內環境的溫度后續恢復到所述預設溫度范圍內，依然保持變色后的顏色；所述收容腔內設置有濕度傳感器，以檢測和保存收容腔內環境的濕度數據；其特征在于，所述檢測方法包含如下步驟：

S1、對半導體激光器進行檢測，判斷是否發生故障，若否，則本次檢測流程結束，否則進入步驟S2；

S2、通過外部檢測設備獲取所述濕度傳感器的濕度數據，然后基于所述濕度數據，判斷濕度在半導體激光器使用時是否大于預設相對濕度值，若是，則判斷為客戶使用導致的故障，否則進入步驟S3；

S3、拆開所述半導體激光器的收容腔，根據所述不可恢復的異常供電保護單元的狀態，判斷所述半導體激光器是否發生過異常供電，若是，則判斷為客戶使用導致的故障，否則進入步驟S4；

S4、獲取所述熱敏變色片的顏色，從而判斷所述收容腔內環境的溫度是否高于過預設溫度，若是，則判斷為客戶使用導致的故障，否則判斷為自然故障。

2.根據權利要求1所述的半導體激光器的檢測方法，其特征在于，所述預設相對濕度值大于10％。

3.根據權利要求1所述的半導體激光器的檢測方法，其特征在于，所述不可恢復的異常供電保護單元為保險絲、不可恢復的自動保險裝置或者不可恢復的自動開關。

4.根據權利要求1所述的半導體激光器的檢測方法，其特征在于，所述濕度傳感器的數據輸出引腳連接數據傳輸線，所述數據傳輸線穿過所述收容腔，采用有線的方式為外部檢測設備提供數據；或者，所述收容腔內還設置有無線傳輸電路，所述濕度傳感器電性連接所述無線傳輸電路，以采用無線的方式為外部檢測設備提供數據。

5.根據權利要求1所述的半導體激光器的檢測方法，其特征在于，還包括靜電傳感器以及控制器，所述靜電傳感器連接并受控于控制器，在所述半導體激光發射芯片的供電引腳與電源輸入端之間還串接有一受控開關，受控開關連接并受控于控制器，所述靜電傳感器用于采集殼體上的靜電數據并傳輸至所述控制器，所述控制器用于在殼體上的靜電超過預設靜電量時，控制所述受控開關斷開。

6.根據權利要求1所述的半導體激光器的檢測方法，其特征在于，所述殼體上設置有防靜電涂層。