[發(fā)明專利]一種科學(xué)級CMOS相機(jī)性能測試系統(tǒng)和方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011004388.4 | 申請日: | 2020-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN112055199A | 公開(公告)日: | 2020-12-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王堅;張藝浩;朱澤宇;蔣維捷;唐騏杰;曲文慶;張謙;賈明皓;張鴻飛 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) |
| 主分類號: | H04N17/00 | 分類號: | H04N17/00;H04N5/374 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 11251 | 代理人: | 張乾楨 |
| 地址: | 230026 安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 科學(xué) cmos 相機(jī) 性能 測試 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種科學(xué)級CMOS相機(jī)性能測試方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1、用戶界面模塊接收用戶的輸入,并將用戶的輸入以請求的形式發(fā)送到流程控制模塊;
步驟2、流程控制模塊解析用戶的請求,調(diào)用相應(yīng)的測試腳本,通過調(diào)用均勻光源系統(tǒng)與待測相機(jī)的接口,控制待測相機(jī)與均勻光源系統(tǒng),實現(xiàn)制冷、設(shè)置配置值、控制曝光強度與曝光時間,成像,并進(jìn)行具體測試,包括FPN測試、暗電流測試、增益、噪聲、響應(yīng)線性度與滿阱容量測試、壞點測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種科學(xué)級CMOS相機(jī)性能測試方法,其特征在于,所述步驟2中,F(xiàn)PN測試步驟如下:
(1)相機(jī)制冷
首先對相機(jī)的制冷溫度,圖片存儲模式與文件存儲路徑進(jìn)行設(shè)置,完成相機(jī)的基礎(chǔ)參數(shù)設(shè)置后,控制相機(jī)開始制冷;
(2)設(shè)置相機(jī)測試增益值
待相機(jī)制冷到目標(biāo)溫度且達(dá)到穩(wěn)定,設(shè)置相機(jī)的增益值與積分球的曝光時間,并控制相機(jī)進(jìn)行若干次曝光,保存圖片;
(3)相機(jī)拍攝存圖
當(dāng)前配置下的圖片曝光結(jié)束后,對所得圖片進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,獲得當(dāng)前增益與溫度下相機(jī)所拍攝圖片的FPN值及其校準(zhǔn)參數(shù),并保留相關(guān)數(shù)據(jù);
(4)更改相機(jī)測試所用增益,進(jìn)行新一輪測試
接下來判斷所需測試的相機(jī)增益值是否測試完畢,若測試結(jié)束,則進(jìn)入下一步,否則回到第(3)步,更改相機(jī)的測試增益與積分球的曝光時間,進(jìn)行下一組圖片的曝光與數(shù)據(jù)處理;測試新增益下相機(jī)的FPN;
(5)更改制冷目標(biāo)溫度,進(jìn)行新一輪測試
若當(dāng)前溫度下的增益值測試完畢,則判斷相機(jī)所需測試的溫度是否測試完畢,若測試完畢,則完成FPN測試流程,否則回到第(1)步,更改相機(jī)的制冷目標(biāo)溫度,重新開始制冷,針對各組增益值測試新溫度下相機(jī)的FPN;
(6)數(shù)據(jù)處理
對測試所得結(jié)果進(jìn)行整理,得到FPN的溫度影響函數(shù)與增益影響函數(shù),將二者合成,得到FPN的溫度、增益影響二維函數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種科學(xué)級CMOS相機(jī)性能測試方法,其特征在于,所述步驟2中,暗電流測試方法包括如下步驟:
采用控制變量的方法來測試不同溫度下相機(jī)的暗電流大小,拍攝無光照時的相機(jī)圖像并計算其像素平均值,減去曝光時間為0s的圖像并除以曝光時間,獲得單位時間內(nèi)一個像素的暗電流;暗電流測試具體步驟如下:
(1)制冷相機(jī)
首先對相機(jī)的制冷溫度,圖片存儲模式與所拍攝圖片的文件存儲路徑進(jìn)行設(shè)置,將相機(jī)遮光,并根據(jù)相機(jī)所設(shè)定的制冷溫度控制相機(jī)進(jìn)行制冷,并制冷至需要測試的溫度;
(2)設(shè)置相機(jī)測試增益值
待相機(jī)制冷至目標(biāo)溫度并穩(wěn)定后,設(shè)置相機(jī)的增益值與積分球的曝光時間,控制相機(jī)進(jìn)行若干次曝光并保存所得圖片;
(3)相機(jī)拍攝成圖
拍攝一張曝光時間為0s與一張曝光時間為T_1的圖像;
(4)數(shù)據(jù)處理
根據(jù)所得圖片進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,計算所拍攝的兩張圖像的均勻區(qū)的像素平均值,計算本次測試所拍攝照片的暗電流,并保存相關(guān)數(shù)據(jù);
(5)更改相機(jī)增益,進(jìn)行新一輪測試
完成當(dāng)前配置值的測試后,判斷當(dāng)前溫度下相機(jī)的所有增益值是否測試完畢,若測試完畢,則進(jìn)入下一步,否則更改相機(jī)的增益值,回到步驟(2)重新進(jìn)行曝光與數(shù)據(jù)處理等步驟;
(6)更改制冷溫度,進(jìn)行新一輪測試
若當(dāng)前溫度下配置中的所有增益值測試完畢,則判斷相機(jī)配置內(nèi)的所有溫度值是否測試完畢,若測試完畢,則結(jié)束測試流程,否則更改相機(jī)的目標(biāo)制冷溫度,回到步驟(1),重新設(shè)置測試增益值與曝光時等參數(shù),并進(jìn)行新一輪的測試。
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