[發明專利]一種芯片多功能測試臺

在審

• 申請號: 202011002495.3
• 申請日: 2020-09-22
• 公開（公告）號: CN112130059A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 任曉偉
• 申請（專利權）人: 復漢海志（江蘇）科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;G01R31/52
• 代理公司: 鹽城平易安通知識產權代理事務所(普通合伙) 32448
• 代理人: 陳彩芳

1.一種芯片多功能測試平臺，包括測試臺（1）和擠壓板（2），其特征在于：所述測試臺（1）的頂部上表面中間位置開設有凹槽（3），所述凹槽（3）內部設置有檢測板（4），所述測試臺（1）的底部表面中間位置設置有插桿（5），所述插桿（5）的底端位置設置有連接環（6），所述擠壓板（2）的底面中間位置安裝有銜接塊（7），所述擠壓板（2）的內部靠近兩側的位置設置有限位板（8），所述擠壓板（2）的后方表面位置安裝有檢測器（9）。

2.根據權利要求1所述的一種芯片多功能測試平臺，其特征在于：所述測試臺（1）呈長方體狀，所述凹槽（3）呈矩形，所述檢測板（4）的底面連接于凹槽（3）的底面，并且二者之間為固定連接，所述測試臺（1）的上表面靠近外邊緣位置內嵌有墊圈（10），所述墊圈（10）呈矩形，所述插桿（5）的頂端貫穿測試臺（1）的底部，并且固定連接于與檢測板（4）的底面位置。

3.根據權利要求1所述的一種芯片多功能測試平臺，其特征在于：所述銜接塊（7）的底面固定連接有電流探頭（11），所述銜接塊（7）的兩側位置開設有槽口（12），所述槽口（12）呈長條矩形，所述槽口（12）的數量有兩個，并且以銜接塊（7）為中心呈對稱分布，所述檢測器（9）固定連接于擠壓板（2）的后方位置。

4.根據權利要求3所述的一種芯片多功能測試平臺，其特征在于：所述限位板（8）穿過槽口（12），所述限位板（8）數量有兩塊，所述限位板（8）的底端位置固定連接有接觸板（13），所述接觸板（13）的數量有兩塊，所述擠壓板（2）的兩側位置均設置有調節螺栓（14），所述調節螺栓（14）通過螺孔（17）穿過擠壓板（2）和槽口的側面并與限位板（8）之間為相互螺接，所述右側的限位板（8）的內部表面位置開設有限位槽（15），所述調節螺栓（14）穿過限位槽（15），所述限位板（8）通過限位槽（15）活動連接于擠壓板（2）。

5.根據權利要求1所述的一種芯片多功能測試平臺，其特征在于：所述限位板（8）的正上方位置固定連接有調節架（16），所述調節架（16）的數量有兩個，所述調節架（16）呈“n”字形，所述調節架（16）的頂端中間位置開設有螺孔（17），所述螺孔（17）中安裝有固定螺栓（18），所述固定螺栓（18）穿過調節架（16）頂部的螺孔（17）與限位板（8）進行螺接，所述固定螺栓（18）與螺孔（17）的數量均有兩個。

6.根據權利要求1所述的一種芯片多功能測試平臺，其特征在于：所述插桿（5）穿過測試臺（1）的底部，并且與檢測板（4）的底面進行焊接，所述連接環（6）焊接于插桿（5）的末端位置，所述連接環（6）與測試臺（1）的底面之間的位置活動連接有彈簧（19），所述彈簧（19）套接于插桿（5）的中段位置。