[發明專利]一種存儲器中數據塊的檢測方法及相關設備

有效

• 申請號: 202011002456.3
• 申請日: 2020-09-22
• 公開（公告）號: CN112083891B
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 龍承東
• 申請（專利權）人: 深圳芯邦科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙) 44285
• 代理人: 李杭

1.一種存儲器中數據塊的檢測方法，其特征在于，包括：

確定存儲器中的第一源數據塊集合；

將擦除后的所述第一源數據塊集合中的每個數據塊寫滿隨機數據，得到第二源數據塊集合；

將所述第二源數據塊集合中每個數據塊的數據寫入第一數據塊集合，得到第二數據塊集合，所述第一數據塊集合為所述存儲器中除所述第一源數據塊集合之外的數據塊的集合；

對所述第二數據塊集合中每個數據塊進行數據校驗，以確定出所述第二數據塊集合中數據校驗正確的第三數據塊集合；

確定所述第三數據塊集合中的第三源數據塊集合，所述第三源數據塊集合中的數據塊數量與所述第一源數據塊集合中的數據塊數量相同；

將擦除后的所述第三源數據塊集合中的每個數據塊寫滿隨機數據，得到第四源數據塊集合；

將所述第四源數據塊集合中每個數據塊的數據寫入所述第一源數據塊集合，得到第五源數據塊集合；

對所述第五源數據塊集合中的每個數據塊進行數據校驗，以確定出所述第五源數據塊集合中數據校驗正確的第四數據塊集合。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定所述存儲器中的第一源數據塊集合包括：

獲取所述存儲器中數據塊的有效頁數M以及所述存儲器在SLC模式下的頁數N；

根據所述有效頁數M以及所述頁數N從所述存儲器對應的數據塊中進行抽取，得到所述第一源數據塊集合。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述有效頁數M以及所述頁數N從所述存儲器對應的數據塊中抽取，得到所述第一源數據塊集合包括：

通過所述有效頁數M與所述頁數N的比值確定所述第一源數據塊集合中的數據塊數量；

基于所述數據塊數量從所述存儲器對應的數據塊中進行抽取，得到所述第一源數據塊集合。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述數據塊數量從所述存儲器對應的數據塊中進行抽取，得到所述第一源數據塊集合包括：

基于所述數據塊數量從所述存儲器對應的數據塊中進行抽取，得到初始數據塊集合；

通過數據讀寫的方式從所述初始數據塊集合中確定出錯誤的數據塊；

將所述初始數據塊集合中除所述錯誤的數據塊之外的數據塊集合確定為所述第一源數據塊集合。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

將所述存儲器中除所述第三數據塊集合以及所述第四數據塊集合之外的數據塊標記為壞塊；

接收針對于所述存儲器的目標操作指令；

響應所述目標操作指令，將目標數據寫入所述第三數據塊集合中的數據塊和/或所述第四數據塊集合中的數據塊，所述目標數據為與所述目標操作指令對應的待寫入所述存儲器的數據。

6.一種存儲器中數據塊的檢測裝置，其特征在于，包括：

確定單元，用于確定存儲器中的第一源數據塊集合；

寫入單元，用于將擦除后的所述第一源數據塊集合中的每個數據塊寫滿隨機數據，得到第二源數據塊集合；

所述寫入單元，還用于將所述第二源數據塊集合中每個數據塊的數據寫入第一數據塊集合，得到第二數據塊集合，所述第一數據塊集合為所述存儲器中除所述第一源數據塊集合之外的數據塊的集合；

校驗單元，用于對所述第二數據塊集合中每個數據塊進行數據校驗，以確定出所述第二數據塊集合中數據校驗正確的第三數據塊集合；

所述確定單元，還用于確定所述第三數據塊集合中的第三源數據塊集合，所述第三源數據塊集合中的數據塊數量與所述第一源數據塊集合中的數據塊數量相同；

所述寫入單元，還用于將擦除后的所述第三源數據塊集合中的每個數據塊寫滿隨機數據，得到第四源數據塊集合；

所述寫入單元，用于將所述第四源數據塊集合中每個數據塊的數據寫入所述第一源數據塊集合，得到第五源數據塊集合；

所述校驗單元，用于對所述第五源數據塊集合中的每個數據塊進行數據校驗，以確定出所述第五源數據塊集合中數據校驗正確的第四數據塊集合。