[發(fā)明專利]一種定時定量的碳酸鹽巖成巖-孔隙演化恢復方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011000298.8 | 申請日: | 2020-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN112304839B | 公開(公告)日: | 2022-10-04 |
| 發(fā)明(設計)人: | 沈安江;趙文智;胡安平;張杰;喬占峰;姚根順;呂學菊;梁峰;潘立銀;羅憲嬰 | 申請(專利權(quán))人: | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N15/08 | 分類號: | G01N15/08;G01N21/00 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 姚亮;張德斌 |
| 地址: | 100007 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 定時 定量 碳酸鹽 巖成巖 孔隙 演化 恢復 方法 | ||
1.一種定時定量的碳酸鹽巖成巖-孔隙演化恢復方法,其中,該方法包括:
獲取工區(qū)具有成巖-孔隙演化特征的代表性巖樣,具有成巖-孔隙演化特征的代表性巖樣含有不同成巖期次的碳酸鹽巖成巖礦物,所述不同成巖期次的碳酸鹽巖成巖礦物包括不同成巖期次的膠結(jié)物以及可選擇的圍巖;
針對各個巖樣,分別觀察各巖樣中碳酸鹽成巖礦物的特征、產(chǎn)狀和相互交割關(guān)系,確定各巖樣成巖期次和成巖序列;分別對各巖樣各成巖期次的碳酸鹽成巖礦物進行同位素測年獲取各巖樣各成巖期次的碳酸鹽成巖礦物的絕對年齡;分別統(tǒng)計各巖樣的現(xiàn)存孔隙面孔率、各成巖期次的膠結(jié)物的面積百分比和各成巖期次的溶蝕增孔量;
基于獲取的各巖樣的現(xiàn)存孔隙面孔率、各成巖期次的碳酸鹽成巖礦物的絕對年齡、各成巖期次的膠結(jié)物的面積百分比和各成巖期次的溶蝕增孔量,重建碳酸鹽巖儲層成巖-孔隙演化的定時定量曲線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,
進行同位素測年時,使用由各巖樣制成的樣品薄片A進行;
進行現(xiàn)存孔隙面孔率、各成巖期次的膠結(jié)物的面積百分比和各成巖期次的溶蝕增孔量統(tǒng)計時,使用由各巖樣制成的樣品薄片B進行;
其中,所述樣品薄片A的厚度為80-100μm、所述樣品薄片B的厚度為30±3μm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述定時定量的碳酸鹽巖成巖-孔隙演化恢復方法包括:
獲取工區(qū)具有成巖-孔隙演化特征代表性的巖樣;具有成巖-孔隙演化特征的代表性巖樣含有不同成巖期次的碳酸鹽巖成巖礦物,所述不同成巖期次的碳酸鹽巖成巖礦物包括不同成巖期次的膠結(jié)物以及可選擇的圍巖;
針對各個巖樣,分別制備各巖樣對應的至少2個平行樣,其中一個平行樣制成該巖樣的樣品薄片A、一個平行樣制成該巖樣的樣品薄片B;
針對各個巖樣,基于各巖樣的樣品薄片A,觀察該巖樣中碳酸鹽成巖礦物的特征、產(chǎn)狀和相互交割關(guān)系,確定該巖樣成巖期次和成巖序列;基于各巖樣的樣品薄片A,分別圈定擬用于測年的測試礦物區(qū)域進行同位素測年獲取各巖樣各成巖期次的碳酸鹽成巖礦物的絕對年齡;基于各巖樣的樣品薄片B,分別統(tǒng)計各巖樣的現(xiàn)存孔隙面孔率、各成巖期次的膠結(jié)物的面積百分比和各成巖期次的溶蝕增孔量;
基于各巖樣的現(xiàn)存孔隙面孔率、各期次碳酸鹽成巖礦物的絕對年齡、各成巖期次膠結(jié)物的面積百分比和各成巖期次的溶蝕增孔量,重建碳酸鹽巖儲層成巖-孔隙演化的定時定量曲線;其中,各巖樣的初始孔隙度的平均值作為表生期的初始孔隙度,各巖樣現(xiàn)存孔隙的面孔率平均值作為最終孔隙度,各成巖期次的膠結(jié)物的絕對年齡代表每一期膠結(jié)減孔時間;其中,巖樣的現(xiàn)存孔隙面孔率與各期次作為表生期的的面積百分比之和作為該巖樣的初始孔隙度,
其中,所述樣品薄片A的厚度為80-100μm;所述樣品薄片B的厚度為30±3μm。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中,所述針對各個巖樣,分別制備各巖樣對應的至少2個平行樣,其中一個平行樣制成該巖樣的樣品薄片A、一個平行樣制成該巖樣的樣品薄片B通過下述方式進行:將各巖樣切成直徑為1.5-2.5cm厚度為0.8-1.0cm的圓柱體,沿切面兩邊做成2個平行樣;沿2個平行樣的切面兩側(cè)分別取樣,磨制2片平行樣品薄片分別為樣品薄片A、樣品薄片B。
5.根據(jù)權(quán)利要求2-4中任一項所述的方法,其中,各巖樣的樣品薄片A與該巖樣的樣品薄片B鏡像相似度達到90%以上。
6.根據(jù)權(quán)利要求2-4中任一項所述的方法,其中,所述樣品薄片A的直徑為1.5-2.5cm;所述樣品薄片B的直徑為1.5-2.5cm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的方法,其中,所述同位素測年使用激光原位U-Pb同位素測年方式進行。
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