[發明專利]各向異性介質深度域成像的方法及裝置在審
| 申請號: | 202011000068.1 | 申請日: | 2020-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN112305589A | 公開(公告)日: | 2021-02-02 |
| 發明(設計)人: | 楊宗青;李宏偉;楊曉;歐居剛;唐怡;周祺 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團東方地球物理勘探有限責任公司 |
| 主分類號: | G01V1/28 | 分類號: | G01V1/28;G01V1/30;G01V1/40 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 薛平;吳學鋒 |
| 地址: | 100007 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 各向異性介質 深度 成像 方法 裝置 | ||
本發明公開了一種各向異性介質深度域成像的方法及裝置,該方法包括:根據工區的各向同性深度域解釋層位數據,計算工區每一層位的偏移地層厚度;根據工區每一層位的偏移地層厚度和井位處的井震誤差,對工區每一層位進行插值計算,確定工區每一層位結合地層厚度后的井震誤差曲面;根據工區每一層位結合地層厚度后的井震誤差曲面,建模得到工區的各向異性介質參數模型;對工區的各向異性介質參數模型進行各向異性疊前深度偏移處理,確定工區的各向異性介質深度域成像數據。本發明可結合偏移地層厚度,準確地進行各向異性介質參數模型建模,進而提高了各向異性介質深度域成像精度。
技術領域
本發明涉及地球物理技術領域,尤其涉及各向異性介質深度域成像的方法及裝置。
背景技術
本部分旨在為權利要求書中陳述的本發明實施例提供背景或上下文。此處的描述不因為包括在本部分中就承認是現有技術。
由于地下介質中的各向異性普遍存在,導致了經各向同性疊前深度偏移處理得到的反射界面,與地下真實界面深度不符。為了消除這種井震誤差,可以使用各向異性疊前深度偏移技術進行處理。而各向異性疊前深度偏移技術的基礎是各向異性介質參數模型。傳統的各向異性介質深度域成像的方法,需進行TTI(Tilted Transversely Isotropic,傾斜橫向各向同性介質)各向異性參數建模與偏移處理。
傳統各向異性介質深度域成像的方法中,進行TTI各向異性參數建模時,主要以井震誤差為依據,因此將井位處的井震誤差插值到整個工區范圍是非常重要的一步。但這種方法僅考慮到了井位處的井震誤差,經大量生產實踐表明,利用此種方法反演得到的各向異性介質參數模型會出現畸變,導致各向異性介質深度域成像的結果不精確。
發明內容
本發明實施例提供一種各向異性介質深度域成像的方法,用以提高各向異性介質深度域成像精度,該方法包括:
根據工區的各向同性深度域解釋層位數據,計算工區每一層位的偏移地層厚度;
根據工區每一層位的偏移地層厚度和井位處的井震誤差,對工區每一層位進行插值計算,確定工區每一層位結合地層厚度后的井震誤差曲面;
根據工區每一層位結合地層厚度后的井震誤差曲面,建模得到工區的各向異性介質參數模型;
對工區的各向異性介質參數模型進行各向異性疊前深度偏移處理,確定工區的各向異性介質深度域成像數據。
本發明實施例還提供一種各向異性介質深度域成像的裝置,用以提高各向異性介質深度域成像精度,該裝置包括:
地層厚度獲取模塊,用于根據工區的各向同性深度域解釋層位數據,計算工區每一層位的偏移地層厚度;
井震誤差曲面確定模塊,用于根據工區每一層位的偏移地層厚度和井位處的井震誤差,對工區每一層位進行插值計算,確定工區每一層位結合地層厚度后的井震誤差曲面;
各向異性介質參數模型建模模塊,用于根據工區每一層位結合地層厚度后的井震誤差曲面,建模得到工區的各向異性介質參數模型;
深度偏移處理模塊,用于對工區的各向異性介質參數模型進行各向異性疊前深度偏移處理,確定工區的各向異性介質深度域成像數據。
本發明實施例還提供一種計算機設備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序,所述處理器執行所述計算機程序時實現上述各向異性介質深度域成像的方法。
本發明實施例還提供一種計算機可讀存儲介質,所述計算機可讀存儲介質存儲有執行上述各向異性介質深度域成像的方法的計算機程序。
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