[發(fā)明專利]一種標準單元庫的建立方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010998114.5
• 申請日: 2020-09-21
• 公開（公告）號: CN112100158B
• 公開（公告）日: 2022-11-22
• 發(fā)明（設計）人: 戴明;張亞光
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G06F16/21
• 分類號: G06F16/21;G06F16/28;G06F30/20;G06F119/04
• 代理公司: 北京市廣友專利事務所有限責任公司 11237
• 代理人: 張仲波

1.一種標準單元庫的建立方法，其特征在于，包括：

獲取預設工藝-電壓-溫度條件下標準單元庫的第一時序模型文件和所述標準單元庫中各標準單元的第一網(wǎng)表文件，所述第一網(wǎng)表文件包括所述標準單元默認的輸入信號、默認的輸出信號以及所述標準單元在所述輸入信號和所述輸出信號條件下對應的出廠性能參數(shù)；

在所述第一網(wǎng)表文件中，為每個所述標準單元添加性能退變參數(shù)，得到第二網(wǎng)表文件，其中，所述性能退變參數(shù)包括所述標準單元自出廠時間起所經歷的老化時長，以及所述老化時長對所述出廠性能參數(shù)的改變情況；

根據(jù)所述第二網(wǎng)表文件為每個所述標準單元構建老化函數(shù)，所述老化函數(shù)用于描述老化時長與老化性能參數(shù)之間的映射關系；

利用所述老化函數(shù)和所述第一時序模型文件生成所述標準單元庫的第二時序模型文件，以利用所述第二時序模型文件對電路進行靜態(tài)時序分析來驗證產品老化后的性能；

其中，所述根據(jù)所述第二網(wǎng)表文件為每個所述標準單元構建老化函數(shù)包括：

根據(jù)所述第二網(wǎng)表文件對所述標準單元進行仿真，得到所述標準單元的老化性能參數(shù)；

對所述老化性能參數(shù)和所述老化時長進行函數(shù)擬合，生成老化函數(shù)。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述第一網(wǎng)表文件中，為每個所述標準單元添加性能退變參數(shù)，得到第二網(wǎng)表文件包括：

從預設參數(shù)文件中獲取每個所述標準單元的性能退變參數(shù)；

通過預設腳本文件，將所述性能退變參數(shù)批量添加到所述第一網(wǎng)表文件的各所述標準單元中，得到所述第二網(wǎng)表文件。

3.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述老化函數(shù)和所述第一時序模型文件生成所述標準單元庫的第二時序模型文件包括：

將所述老化函數(shù)添加到所述第一時序模型文件中，并建立所述老化函數(shù)與對應的標準單元之間的映射關系，生成所述標準單元庫的第二時序模型文件。

4.根據(jù)權利要求3所述的方法，其特征在于，所述將所述老化函數(shù)添加到所述第一時序模型文件中，并將所述老化函數(shù)與對應的標準單元建立映射關系，生成所述標準單元庫的第二時序模型文件之后，所述方法還包括：

在所述第二時序模型文件中，為所述老化函數(shù)設置使能控制選項，以通過所述使能控制選項確定是否使用所述老化函數(shù)進行靜態(tài)時序分析。

5.根據(jù)權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，所述性能退變參數(shù)包括在所述預設工藝-電壓-溫度條件下和/或不在所述預設工藝-電壓-溫度條件下，所述標準單元自出廠時間起所經歷的老化時長，以及所述老化時長對所述出廠性能參數(shù)的改變情況。

6.根據(jù)權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，所述出廠性能參數(shù)包括以下至少一項：延遲時間、轉換時間、功耗、內部功耗、漏電功耗、建立時間、保持時間。

7.一種標準單元庫的建立裝置，其特征在于，包括：

獲取單元，用于獲取預設工藝-電壓-溫度條件下標準單元庫的第一時序模型文件和所述標準單元庫中各標準單元的第一網(wǎng)表文件，所述第一網(wǎng)表文件包括所述標準單元默認的輸入信號、默認的輸出信號以及所述標準單元在所述輸入信號和所述輸出信號條件下對應的出廠性能參數(shù)；

添加單元，用于在所述第一網(wǎng)表文件中，為每個所述標準單元添加性能退變參數(shù)，得到第二網(wǎng)表文件，其中，所述性能退變參數(shù)包括所述標準單元自出廠時間起所經歷的老化時長，以及所述老化時長對所述出廠性能參數(shù)的改變情況；

構建單元，用于根據(jù)所述第二網(wǎng)表文件為每個所述標準單元構建老化函數(shù)，所述老化函數(shù)用于描述老化時長與老化性能參數(shù)之間的映射關系；

生成單元，用于利用所述老化函數(shù)和所述第一時序模型文件生成所述標準單元庫的第二時序模型文件，以利用所述第二時序模型文件對電路進行靜態(tài)時序分析來驗證產品老化后的性能；

其中，所述構建單元包括：

仿真模塊，用于根據(jù)所述第二網(wǎng)表文件對所述標準單元進行仿真，得到所述標準單元的老化性能參數(shù)；

擬合單元，用于對所述老化性能參數(shù)和所述老化時長進行函數(shù)擬合，生成老化函數(shù)。