[發(fā)明專利]一種雜散光吸收器、光芯片及其制作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010995714.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112099136A | 公開(公告)日: | 2020-12-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 杜炳政;朱曉田;李特爾·布蘭特·埃弗雷特;戴維森·羅伊·理查德;張強(qiáng);李偉恒;王翔 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 珠海奇芯光電科技有限公司;西安奇芯光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02B6/12 | 分類號(hào): | G02B6/12 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 唐沛 |
| 地址: | 519000 廣東省珠海市橫琴新*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 散光 吸收 芯片 及其 制作方法 | ||
1.一種雜散光吸收器,其特征在于:包括開設(shè)在光芯片上的凹槽,凹槽內(nèi)填充有可將不同波長(zhǎng)、不同模式和不同角度的雜散光全部吸收的吸收材料,凹槽的長(zhǎng)度、寬度以及深度均為微米級(jí)或亞微米級(jí)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雜散光吸收器,其特征在于:所述傾斜面為直線斜面或曲線斜面。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的雜散光吸收器,其特征在于:所述凹槽采用CMOS的灰度刻蝕工藝或者機(jī)械刻蝕的制作。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的雜散光吸收器,其特征在于:光吸收材料為吸光環(huán)氧樹脂、吸光聚合物或吸光涂層。
5.一種光芯片,包括輸入波導(dǎo)、輸出波導(dǎo),至少一條光信號(hào)傳輸波導(dǎo)和/或至少一個(gè)敏感區(qū)域;其特征在于:輸入波導(dǎo)兩側(cè)設(shè)置兩個(gè)如權(quán)利要求1-4所述雜散光吸收器,用于將輸入波導(dǎo)輸出的雜散光進(jìn)行吸收。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述光芯片,其特征在于:輸出波導(dǎo)兩側(cè)設(shè)置兩個(gè)如權(quán)利要求1-4所述雜散光吸收器,用于將輸出波導(dǎo)輸出的雜散光進(jìn)行吸收。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述光芯片,其特征在于:光信號(hào)傳輸波導(dǎo)一側(cè)或兩側(cè)設(shè)有如權(quán)利要求1-4所述雜散光吸收器,用于將光信號(hào)傳輸波導(dǎo)輸出的雜散光進(jìn)行吸收。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述光芯片,其特征在于:其特征在于:每一個(gè)敏感區(qū)域被多個(gè)如權(quán)利要求1-4所述雜散光吸收器包圍其中。
9.一種光芯片的制作方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1:芯片本體制作
步驟1.1:在基層上依次采用沉積或生長(zhǎng)的方式制作下包覆層、波導(dǎo)層以及上包覆層,從而構(gòu)成光芯片本體;
步驟1.2:采用CMOS灰度刻蝕的方式在光芯片本體上開設(shè)凹槽;
步驟2:向凹槽內(nèi)填充光吸收材料,在光芯片上形成寬波段雜散光吸收器后再對(duì)光芯片進(jìn)行封裝。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光芯片的制作方法,其特征在于,還包括
封裝前檢測(cè)步驟,具體是:
執(zhí)行完步驟1后判斷開設(shè)凹槽后的光芯片的光串?dāng)_影響是否符合使用需求,
若符合要求,則對(duì)直接對(duì)光芯片進(jìn)行封裝;
若不符合要求,則執(zhí)行步驟2。
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