[發(fā)明專利]一種硬盤背板帶寬測量方法和裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010989986.5 | 申請日： | 2020-09-18 |
| 公開（公告）號： | CN112131061B | 公開（公告）日： | 2022-12-16 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 宿德欣 | 申請（專利權(quán)）人： | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京連和連知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11278 | 代理人： | 劉小峰;宋薇薇 |
| 地址： | 215100 江蘇省蘇州市吳*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 硬盤 背板 帶寬 測量方法 裝置 | ||
1.一種硬盤背板帶寬測量方法，其特征在于，包括執(zhí)行以下步驟：
初始化裝配滿硬盤的硬盤背板，并確定所述硬盤背板上裝配的硬盤總數(shù)量；
啟動數(shù)據(jù)庫異步輸入輸出引擎，以使得測試工具可用；
基于所述測試工具使從1到所述硬盤總數(shù)量的不同數(shù)量的硬盤循環(huán)執(zhí)行128K序列讀，同時循環(huán)測試各硬盤的帶寬；
在不同時間段依次選取從1到所述硬盤總數(shù)量中的每一數(shù)量的硬盤執(zhí)行128K序列讀，同時循環(huán)測試各硬盤的帶寬，其中，每次選取硬盤執(zhí)行128K序列讀都持續(xù)預(yù)定時間，并且在所述硬盤總數(shù)量的硬盤執(zhí)行128K序列讀持續(xù)預(yù)定時間后重新選取1數(shù)量的硬盤重復(fù)執(zhí)行相同步驟；
響應(yīng)于同一時間的硬盤的帶寬之和在至少兩個不同時間段和不同硬盤數(shù)量上具有相同的最大值，而將所述最大值確定為所述硬盤背板的帶寬。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測試工具包括確定設(shè)備函數(shù)、硬盤擦除函數(shù)、讀寫函數(shù)、帶寬測試函數(shù)、整理函數(shù)；所述測試工具配置為基于確定設(shè)備函數(shù)而尋址到硬盤、基于硬盤擦除函數(shù)初始化硬盤的狀態(tài)、基于讀寫函數(shù)執(zhí)行128K序列讀、基于帶寬測試函數(shù)測試硬盤的帶寬、并基于整理函數(shù)確定所述硬盤背板的帶寬。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述測試工具還包括調(diào)優(yōu)函數(shù)；所述測試工具配置為響應(yīng)于單硬盤帶寬不足而執(zhí)行調(diào)優(yōu)函數(shù)以重置測試系統(tǒng)的性能參數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：在使硬盤執(zhí)行128K序列讀的同時，還使硬盤循環(huán)執(zhí)行以下至少之一：128K序列寫、4K隨機讀、4K隨機寫。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，循環(huán)測試各硬盤的帶寬包括：
在每次選取從1到所述硬盤總數(shù)量中的每一數(shù)量的硬盤執(zhí)行128K序列讀時均記錄硬盤占用的帶寬。
6.一種硬盤背板帶寬測量裝置，其特征在于，包括：
處理器；和
存儲器，存儲有處理器可運行的程序代碼，所述程序代碼在被運行時執(zhí)行以下步驟：
初始化裝配滿硬盤的硬盤背板，并確定所述硬盤背板上裝配的硬盤總數(shù)量；
啟動數(shù)據(jù)庫異步輸入輸出引擎，以使得測試工具可用；
在不同時間段依次選取從1到所述硬盤總數(shù)量中的每一數(shù)量的硬盤執(zhí)行128K序列讀，同時循環(huán)測試各硬盤的帶寬，其中，每次選取硬盤執(zhí)行128K序列讀都持續(xù)預(yù)定時間，并且在所述硬盤總數(shù)量的硬盤執(zhí)行128K序列讀持續(xù)預(yù)定時間后重新選取1數(shù)量的硬盤重復(fù)執(zhí)行相同步驟；
響應(yīng)于同一時間的硬盤的帶寬之和在至少兩個不同時間段和不同硬盤數(shù)量上具有相同的最大值，而將所述最大值確定為所述硬盤背板的帶寬。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述測試工具包括確定設(shè)備函數(shù)、硬盤擦除函數(shù)、讀寫函數(shù)、帶寬測試函數(shù)、整理函數(shù)、以及調(diào)優(yōu)函數(shù)；所述測試工具配置為基于確定設(shè)備函數(shù)而尋址到硬盤、基于硬盤擦除函數(shù)初始化硬盤的狀態(tài)、基于讀寫函數(shù)執(zhí)行128K序列讀、基于帶寬測試函數(shù)測試硬盤的帶寬、并基于整理函數(shù)確定所述硬盤背板的帶寬、以及響應(yīng)于單硬盤帶寬不足而執(zhí)行調(diào)優(yōu)函數(shù)以重置測試系統(tǒng)的性能參數(shù)。
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