[發(fā)明專利]一種用于檢測液體含糖量的檢測裝置及其工作方法

在審

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• 申請日: 2020-09-18
• 公開（公告）號: CN112240868A
• 公開（公告）日: 2021-01-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳斌
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州市美益添生物科技有限公司
• 主分類號: G01N21/21
• 分類號: G01N21/21;G01N21/01
• 代理公司: 北京卓嵐智財知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11624
• 代理人: 郭智

本發(fā)明涉及一種用于檢測液體含糖量的檢測裝置及其工作方法，包括：控制處理器、取樣裝置、檢測裝置；控制處理器與云端服務(wù)器連接，控制處理器還與檢測裝置連接；檢測裝置包括光源、透鏡、偏振裝置、光功率計；取樣裝置包括樣品臺、反光裝置；取樣裝置設(shè)置于檢測裝置之間；反光裝置設(shè)置于樣品臺兩側(cè)，反光裝置的反光面分別相對設(shè)置；透鏡包括第一透鏡與第二透鏡；偏振裝置包括起偏器與檢偏器；檢偏器設(shè)置于樣品臺的一側(cè)；第二透鏡設(shè)置于檢偏器一側(cè)并與檢偏器的中心位于同一水平線上，第二透鏡用于將檢偏器射出的光線聚焦于光功率計上；光功率計用于測量光強(qiáng)數(shù)據(jù)，光功率計將光強(qiáng)數(shù)據(jù)向控制處理器輸出，控制處理對光強(qiáng)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及食品檢測領(lǐng)域，特別涉及一種用于檢測液體含糖量的檢測裝置及其工作方法。

背景技術(shù)

糖料作物主要指甘蔗和糖用甜萊，它們所含糖分幾乎全是蔗搪。前者可直接壓汁測定糖含量，后者則須用水浸提后測定。測定蔗糖的的方法有旋光法、拆光法和容量法等，其中廣泛采用的是旋光法，其特點是簡單、快速、準(zhǔn)確，但需用旋光計或檢糖計。比重法和折光法不夠準(zhǔn)確。

旋光法測糖的原理是基于糖類分子具有不對稱碳原子，可使通過的光的偏振面旋轉(zhuǎn)。當(dāng)光的波長、溫度和液層厚度一定時，溶液中蔗糖的濃度與偏振光面旋轉(zhuǎn)角度成正比，因此，可用旋光計或檢糖計測定蔗糖的含量。

但是使用旋光法測量時，旋光度的準(zhǔn)確測量是非常重要的，在傳統(tǒng)的利用旋光測量法中，為了準(zhǔn)確測出旋光度，除了對儀器精度要求較高外，還要求測量樣品容器比較長(一般要20cm左右，以致需要樣品較多)和樣品濃度較大。對于樣品較少，樣品中糖分含量較低時測量精度就會下降。

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明目的：

針對背景技術(shù)中提到的問題，本發(fā)明提供一種用于檢測液體含糖量的檢測裝置及其工作方法。

技術(shù)方案：

一種用于檢測液體含糖量的檢測裝置，包括：控制處理器、取樣裝置、檢測裝置；

所述控制處理器與云端服務(wù)器連接，所述控制處理器還與所述檢測裝置連接；

所述檢測裝置包括光源、透鏡、偏振裝置、光功率計；

所述取樣裝置包括樣品臺、反光裝置；所述取樣裝置設(shè)置于所述檢測裝置之間；

所述反光裝置設(shè)置于所述樣品臺兩側(cè)，所述反光裝置的反光面分別相對設(shè)置；

所述透鏡包括第一透鏡與第二透鏡，所述光源與第一透鏡的中心設(shè)置于同一水平線上，所述光源設(shè)置于所述第一透鏡的一側(cè)；

所述偏振裝置包括起偏器與檢偏器，所述起偏器設(shè)置于所述第一透鏡的另一側(cè)，所述光源透過第一透鏡穿過起偏器；

所述樣品臺設(shè)置于起偏器的一側(cè)，所述光源的光線穿過起偏器向所述樣品臺射出；設(shè)置于所述樣品臺兩側(cè)的反光裝置對所述樣品臺接收的光線進(jìn)行反射；

所述檢偏器設(shè)置于所述樣品臺的一側(cè)，用于接收所述反光裝置反射的光線；所述第二透鏡設(shè)置于所述檢偏器一側(cè)并與所述檢偏器的中心位于同一水平線上，所述第二透鏡用于將所述檢偏器射出的光線聚焦于所述光功率計上；

所述光功率計用于測量光強(qiáng)數(shù)據(jù)，所述光功率計將光強(qiáng)數(shù)據(jù)向控制處理器輸出，控制處理對光強(qiáng)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選方式，所述第一透鏡與起偏器的距離為所述第一透鏡的焦距。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選方式，所述第二透鏡與所述檢偏器的距離為所述第二透鏡焦距。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選方式，所述反光裝置包括第一反射裝置與第二反射裝置，所述第一反射裝置設(shè)置于樣品臺與起偏器之間，所述第二反射裝置設(shè)置于樣品臺與檢偏器之間。