[發明專利]一種電子元器件老化試驗裝置

在審

• 申請號: 202010987353.0
• 申請日: 2020-09-18
• 公開（公告）號: CN112067933A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 胡玉璇
• 申請（專利權）人: 廣州融益科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04;G01M13/00
• 代理公司: 北京冠和權律師事務所 11399
• 代理人: 趙真

本發明涉及元器件老化試驗技術領域，且公開了一種電子元器件老化試驗裝置，包括底板，所述底板上表面四角均固定連接有支撐柱，所述支撐柱上表面固定連接有承載板，所述承載板上表面右前側和右后側均固定連接有滑軌，所述滑軌外表面套接有滑塊，所述滑塊內側面固定連接有第一矩形板。該電子元器件老化試驗裝置，通過設置電動推桿、三棱塊、第二支撐塊、第二轉軸和圓形滑槽，使傳動軸可以較為方便穩定的與圓形滑槽適配，從而使左右兩側的傳動塊可以較為方便穩定的帶動左右兩側的卡塊對電子元器件進行固定，可以較為方便有效的對電子元器件進行老化試驗，大大提高了電子元器件的試驗效果。

技術領域

本發明涉及元器件老化試驗技術領域，具體為一種電子元器件老化試驗裝置。

背景技術

電子元器件老化試驗裝置主要是針對高性能電子產品仿真出的一種高溫、惡劣環境的試驗裝置，是提高產品穩定性、可靠性的重要實驗設備、是各生產企業提高產品質量和競爭性的重要生產流程；在電子元器件生產加工過程中需要對電子元器件進行試驗，避免不合格的產品流入市場；現有技術的電子元器件老化試驗裝置直接將電子元器件放置在檢測臺上，不能較為方便有效的對電子元器件進行試驗，降低了電子元器件的試驗效果。

發明內容

(一)解決的技術問題

針對現有技術的不足，本發明提供了一種電子元器件老化試驗裝置，解決了上述背景技術中提出的問題。

(二)技術方案

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種電子元器件老化試驗裝置，包括底板，所述底板上表面四角均固定連接有支撐柱，所述支撐柱上表面固定連接有承載板，所述承載板上表面右前側和右后側均固定連接有滑軌，所述滑軌外表面套接有滑塊，所述滑塊內側面固定連接有第一矩形板，所述承載板上表面左側固定連接有第二矩形板，所述第一矩形板和第二矩形板上表面均設置有固定夾緊裝置，所述底板上表面設置有支撐裝置，所述底板下表面固定連接有第一支撐塊，所述第一支撐塊內側面插接有第一轉軸，所述第一轉軸外表面套接有移動滾輪，所述底板上表面前后兩側均開設有矩形通孔。

優選的，所述固定夾緊裝置包括電動推桿，電動推桿下表面與第二矩形板和第一矩形板上表面固定連接，電動推桿外側面固定連接有三棱塊，第二矩形板上表面前后兩側均固定連接有第二支撐塊，第二支撐塊內側面插接有第二轉軸，第二轉軸外表面套接有傳動塊，傳動塊內側面開設有圓形滑槽，電動推桿輸出端插接有傳動軸，傳動塊下表面內側固定連接有卡塊。

優選的，所述支撐裝置包括第一固定塊，第一固定塊內側面插接有第一圓軸，第一圓軸外表面套接有第一錐齒輪，底板上表面轉動連接有第二圓軸，第二圓軸上表面固定連接有第二錐齒輪，第一錐齒輪與第二錐齒輪嚙合，第二圓軸外表面套接有蝸桿，底板上表面前后兩側均固定連接有第二固定塊，第二固定塊內側面插有第三圓軸，第三圓軸外表面套接有傳動桿，傳動桿內側面外側插接有固定軸，固定軸外表面套接有底座，第一圓軸正面固定連接有轉盤，第三圓軸外表面套接有蝸輪，蝸桿與蝸輪嚙合。

優選的，所述第二固定塊內側面開設有圓形通孔，且圓形通孔內部設置有滾珠，且圓形通孔與滾珠形成的形狀與第三圓軸相適配。

優選的，所述底座的寬度小于矩形通孔的寬度，且矩形通孔的寬度為十二毫米。

優選的，所述圓形滑槽的寬度與傳動軸的內徑相適配，且傳動軸的材質為不銹鋼。

優選的，所述三棱塊的數量為四組，位于左側的三棱塊下表面與第二矩形板上表面焊接，位于右側的三棱塊下表面與第一矩形板上表面焊接。

優選的，所述卡塊的表面設置有激光信號薄片，所述激光信號薄片包括縫隙檢測層和激光信號層；

所述第二矩形板的上端設置有光接收處理模塊；

所述卡塊的上方設置有壓力感應模塊；

所述固定夾緊裝置的一側設置有報警器；