[發明專利]一種液晶模組測試裝置以及系統

在審

• 申請號: 202010987178.5
• 申請日: 2020-09-18
• 公開（公告）號: CN112014985A
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 何鵾;張曉輝
• 申請（專利權）人: 珠海晨新科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G09G3/00
• 代理公司: 北京專贏專利代理有限公司 11797
• 代理人: 李斌

1.一種液晶模組測試裝置，其特征在于，所述液晶模組測試裝置包括：

上料組件，用于將待測試液晶模組傳輸到測試組件上；

所述測試組件，包括測試機構以及驅動機構，所述測試機構用于對液晶模組進行通電測試，所述驅動機構用于驅動所述液晶模組從上料位移動到下料位；

下料組件，用于將完成測試的所述液晶模組從所述測試組件上取下；以及控制組件，所述控制組件與所述上料組件、所述測試組件以及所述下料組件電連接，用于所述上料組件、所述測試組件以及所述下料組件的工作控制。

2.根據權利要求1所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述測試組件設置有若干套，若干套所述測試組件并排或者環形布置，且若干套所述測試組件共用一套所述上料組件、一套所述下料組件。

3.根據權利要求1所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述測試機構包括若干治具，所述治具上設置有夾緊機構以及對接機構；

所述夾緊機構用于對放置于所述治具上的所述液晶模組的夾緊定位；

所述對接機構用于與所述液晶模組的對接。

4.根據權利要求3所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述測試機構還包括供電滑軌，所述供電滑軌能夠與所述治具滑動連接，所述供電滑軌包括導向滑槽以及導電滑槽；

所述導向滑槽與所述治具上設置的滑塊配合，用于所述治具移動時的導向；

所述導電滑槽包括正極滑槽以及負極滑槽，所述正極滑槽與所述治具上的正極導電塊配合，所述負極滑槽與所述治具上的負極導電塊配合。

5.根據權利要求4所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述治具與所述供電滑槽可以相互分離或者嵌合，所述治具與所述供電滑槽嵌合時所述供電滑槽與所述治具上的導電插針電連接。

6.根據權利要求5所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述供電滑槽上設置有第一磁鐵和第二磁鐵，所述治具上設置有第三磁鐵；

所述第一磁鐵與所述第二磁鐵磁性相反，所述第一磁鐵呈條狀，位于所述供電滑槽與所述治具的配合區，所述第二磁鐵呈塊狀，位于所述供電滑槽的末端；

所述第三磁鐵與所述第一磁鐵磁性相反，在所述第一磁鐵與所述第三磁鐵的作用下，所述治具與所述供電滑槽嵌合；在所述第三磁鐵與所述第二磁鐵的作用下，所述治具與所述供電滑槽分離。

7.根據權利要求5所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述驅動機構包括轉動帶；

所述轉動帶呈環形設置，通過電機驅動旋轉；所述轉動帶上等距離設置有若干驅動桿，所述驅動桿與所述治具上的對接孔配合，當所述治具與所述供電滑槽嵌合時，所述驅動桿與所述對接孔分離；當所述治具與所述供電滑槽分離時，所述驅動桿插入所述對接孔中；

所述驅動機構通過旋轉將位于所述供電滑槽末端的所述治具輸送到所述供電滑槽的前端、將與所述供電滑槽嵌合的所述治具沿所述供電滑槽的滑動方向推動。

8.根據權利要求1所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述測試組件還包括圖像采集裝置，所述圖像采集裝置用于對通電后的所述液晶模組進行圖像采集，并將采集到的圖像輸送給所述控制組件；

所述控制組件還用于對所述采集裝置傳輸到的圖像進行識別以判斷相應的液晶模組是否合格。

9.一種液晶模組測試系統，其特征在于，所述液晶模組測試系統包括：

如權利要求1-8任意一項所述的液晶模組測試裝置；以及上下料系統，所述上下料系統與所述上料組件以及所述下料組件配合，用于所述液晶模組測試裝置的供料以及完成測試后的液晶模組的輸送。

10.根據權利要求9所述的液晶模組測試系統，其特征在于，所述上下料系統包括進料皮帶、出料皮帶以及次品皮帶；

所述進料皮帶與所述上料組件配合，用于所述液晶模組測試裝置；

所述出料皮帶以及所述次品皮帶與所述下料組件配合，分別用于輸送合格的液晶模組以及不合格的液晶模組；

所述進料皮帶、所述出料皮帶以及次皮帶的到料端均設置有到料傳感器。