[發明專利]一種低制耳低硬度電容器外殼及其制備方法在審
| 申請號： | 202010985798.5 | 申請日： | 2020-09-18 |
| 公開（公告）號： | CN112126823A | 公開（公告）日： | 2020-12-25 |
| 發明（設計）人： | 曾元;宦文輝;張明成;朱江文 | 申請（專利權）人： | 江蘇鼎勝新能源材料股份有限公司 |
| 主分類號： | C22C21/00 | 分類號： | C22C21/00;C22F1/04;C22C1/02;C22C1/06;B22D11/119;B22D11/06;B21B1/46;B21B3/00 |
| 代理公司： | 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224 | 代理人： | 劉妍妍 |
| 地址： | 212141*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 低制耳低 硬度 電容器 外殼 及其 制備 方法 | ||
1.一種低制耳低硬度電容器外殼，其特征在于，其原料組成成分及質量百分比為：Si≤0.1％，Fe 0.18～0.28％，Cu≤0.03％，Mn≤0.01％，Zn≤0.03％，Ti≤0.03％，余量為Al。
2.一種低制耳低硬度電容器外殼其制備方法，其特征在于，包括如下步驟：
將權利要求1所述的原料充分攪拌均勻進行熔煉，熔煉后鑄軋，鑄軋后的鋁卷成品厚度為6.2±0.3mm；將鑄軋成品卷粗軋冷軋至0.7mm厚度，進行縱剪切邊，切邊后進行精軋軋制至成品厚度0.48mm；260℃退火4h，繼續高溫380℃保溫18-26h。
3.根據權利要求2所述的一種低制耳低硬度電容器外殼制備方法，其特征在于，鑄軋速度為800～1000mm/min，鑄軋區為50～65mm。
4.根據權利要求2所述的一種低制耳低硬度電容器外殼制備方法，其特征在于，熔煉溫度為730～750℃，倒爐溫度為735～750℃。
5.根據權利要求2所述的一種低制耳低硬度電容器外殼制備方法，其特征在于，鑄軋生產前箱溫度為693～697℃。
6.根據權利要求2所述的一種低制耳低硬度電容器外殼制備方法，其特征在于，熔煉時采用精煉劑730℃精煉20min，740℃精煉20min。
7.根據權利要求2所述的一種低制耳低硬度電容器外殼制備方法，其特征在于，除氣箱箱溫度控制725℃，氬氣壓力控制0.2Mpa，氣流量控制2.0m3/h，轉子速度控制550rpm。
8.根據權利要求2所述的一種低制耳低硬度電容器外殼制備方法，其特征在于，過濾箱溫度控制715℃，使用30目+40目過濾板過濾。
9.根據權利要求2所述的一種低制耳低硬度電容器外殼制備方法，其特征在于，鑄嘴開口度控制7.5mm，鑄軋線速度控制900mm/min。
10.根據權利要求2所述的一種低制耳低硬度電容器外殼制備方法，其特征在于，縱剪切邊成1480mm寬。
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