[發明專利]嵌入式控制器的仿真參數調試方法、裝置及控制器

在審

• 申請號: 202010985325.5
• 申請日: 2020-09-18
• 公開（公告）號: CN112230563A
• 公開（公告）日: 2021-01-15
• 發明（設計）人: 陳長喜;劉繼偉
• 申請（專利權）人: 天津農學院;天津理工大學中環信息學院
• 主分類號: G05B17/02
• 分類號: G05B17/02
• 代理公司: 天津合正知識產權代理有限公司 12229
• 代理人: 呂琦

1.一種嵌入式控制器的仿真參數調試方法，其特征在于，包括：

在接收到仿真控制數據時，啟動計時，所述仿真控制數據由仿真系統模型發出，且經過零階保持器保持，以使得發送時間滿足控制算法周期要求；

在下一次接收到的仿真控制數據，停止計時，并根據計時確定接收仿真控制數據的時間間隔；

將所述時間間隔作為控制周期進行控制。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述仿真控制數據為仿真系統模型經過整型處理，以將浮點型控制數據轉換為整型控制數據。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述仿真控制數據為仿真系統模型經過整型處理，包括：

仿真控制數據為仿真系統模型將數據乘以1000后進行整型處理。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

計算控制指標，所述控制指標用于表征控制結果和控制時長對應的控制效果。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所述控制指標調整嵌入式控制器控制參數。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述計算控制指標包括：

采用如下方式計算控制指標；

控制指標＝∑|Sp-Pv|*dt，其中dt代表控制周期，設定值和反饋值分別設為Sp和Pv。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，在計算控制指標之前，所述方法還包括：

將控制系統設定值和反饋值放大10倍，而后轉換為整型數據；

相應的，利用轉換后的設定值和反饋值計算控制指標。

8.一種嵌入式控制器的仿真參數調試裝置，其特征在于，包括：

啟動模塊，用于在接收到仿真控制數據時，啟動計時，所述仿真控制數據由仿真系統模型發出，且經過零階保持器保持，以使得發送時間滿足控制算法周期要求；

確定模塊，用于在下一次接收到的仿真控制數據，停止計時，并根據計時確定接收仿真控制數據的時間間隔；

控制模塊，用于將所述時間間隔作為控制周期進行控制。

9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

計算模塊，用于計算控制指標，所述控制指標用于表征控制結果和控制時長對應的控制效果。

10.一種控制器，所述控制器用于執行如權利要求1-7任一所述的嵌入式控制器的仿真參數調試方法。