[發明專利]電子探針分析標準樣的制備方法及電子探針分析標準樣在電子探針分析中的應用

有效

• 申請號: 202010977814.6
• 申請日: 2020-09-16
• 公開（公告）號: CN112063805B
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發明（設計）人: 陳遠生;李祥龍;曾贊喜;劉春林;雷中鈺;麻國曉;陸偉成;孫福猛;王震;張世歡;田靜;宋璇;曾俊利
• 申請（專利權）人: 廣東韶鋼松山股份有限公司
• 主分類號: C21D1/18
• 分類號: C21D1/18;C21D6/04;C21D1/74;G01N1/28
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 呂露

1.一種電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述電子探針分析標準樣的制備方法包括：以低碳鋼為原樣，對所述原樣進行第一次固溶熱處理獲得板條馬氏體組織；

所述第一次固溶熱處理包括將所述原樣在第一預設溫度下保溫至少15min，冷卻；

所述第一預設溫度為所述原樣的奧氏體化溫度以上50～60℃。

2.根據權利要求1所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，將所述原樣在第一預設溫度下保溫15～20min。

3.根據權利要求1所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述第一次固溶熱處理在惰性氣體保護下進行。

4.根據權利要求1所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述第一次固溶熱處理的冷卻包括將完成保溫的所述原樣在液氮中冷卻。

5.根據權利要求1所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述電子探針分析標準樣的制備方法還包括：在所述對所述原樣進行第一次固溶熱處理獲得板條馬氏體組織后，對所述原樣進行第二次固溶熱處理獲得板條馬氏體組織；

其中，所述第二次固溶熱處理包括將所述原樣在第二預設溫度下保溫至少10min，冷卻；

所述第二預設溫度為所述原樣的奧氏體化溫度以上20～30℃。

6.根據權利要求5所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，將所述原樣在第二預設溫度下保溫10～12min。

7.根據權利要求5所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述第二次固溶熱處理在惰性氣體保護下進行。

8.根據權利要求5所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述第二次固溶熱處理的冷卻包括將完成保溫的所述原樣在液氮中冷卻。

9.根據權利要求5所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述第一次固溶熱處理和所述第二次固溶熱處理在熱模擬試驗機中進行。

10.根據權利要求1～9任一項所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述低碳鋼中C的質量分數為0.096～0.12％。

11.根據權利要求10所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述低碳鋼中Mn的質量分數≤0.487％，Si的質量分數≤0.262％，S的質量分數≤0.015％，P的質量分數≤0.007％。

12.根據權利要求10所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述第一預設溫度為975～985℃。

13.根據權利要求1～9任一項所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述電子探針分析標準樣的制備方法還包括對制得的標準樣進行檢測；

檢測方法包括：在所述標準樣上選取多個待測點，使用電子探針以15～20μm束斑對多個所述待測點的碳元素含量進行測量得到統計碳計數；

當所述統計碳計數的不均勻性不大于1％時，判定所述標準樣合格。

14.根據權利要求13所述的電子探針分析標準樣的制備方法，其特征在于，所述在所述標準樣上選取多個所述待測點前，先將所述標準樣從中部切開得到切面，拋光所述切面，獲得250倍下無劃痕的鏡面，在所述鏡面選取多個所述待測點。

15.一種電子探針分析標準樣在電子探針分析中的應用，其特征在于，所述電子探針分析標準樣根據權利要求1～14任一項所述的電子探針分析標準樣的制備方法制備得到。

16.一種電子探針分析標準樣在電子探針分析中的應用，其特征在于，所述電子探針分析標準樣為單相板條馬氏體組織的低碳鋼。