[發明專利]適用于固液混合光鹵石礦層厚度測量的裝置

在審

• 申請號: 202010976710.3
• 申請日: 2020-09-16
• 公開（公告）號: CN111981947A
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: 喻俊志;劉金存;薛志斌;張小磊;李忠奎
• 申請（專利權）人: 北京大學
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 任巖

1.一種適用于固液混合光鹵石礦層厚度測量的裝置，其特征在于，包括一采樣管(1)、若干延長管(4)、一傳送結構(2)和一支架(3)，其中：

所述采樣管(1)的末端連接于所述延長管(4)，所述采樣管(1)的前端為采樣頭(11)，用于對光鹵石礦層進行采樣和測量；

所述延長管(4)連接于所述采樣管(1)，所述采樣管(1)和所述延長管(4)連接后依次穿過所述傳送結構(2)，并在所述傳送結構(2)的驅動下，所述采樣管(1)和所述延長管(4)沿直線運動，使所述采樣管(1)的采樣頭(11)貫穿光鹵石礦層，實現對光鹵石礦層的采樣和測量；

所述傳送結構(2)固定于所述支架(3)上；

所述支架(3)固定于工作船上。

2.根據權利要求1所述的適用于固液混合光鹵石礦層厚度測量的裝置，其特征在于，所述采樣頭(11)為半開鈦合金管，表面設置有多個平行的類似倒齒結構的鈦合金隔板(111)，所述鈦合金隔板(111)的類似倒齒結構在所述采樣管(1)提升過程中截留一部分光鹵石礦樣品。

3.根據權利要求2所述的適用于固液混合光鹵石礦層厚度測量的裝置，其特征在于，相鄰兩個所述鈦合金隔板(111)之間的間隔為1cm。

4.根據權利要求3所述的適用于固液混合光鹵石礦層厚度測量的裝置，其特征在于，所述鈦合金隔板(111)上刻有刻度，通過讀取所述鈦合金隔板(111)上的刻度值得到光鹵石礦層的厚度。

5.根據權利要求1所述的適用于固液混合光鹵石礦層厚度測量的裝置，其特征在于，所述采樣管(1)內部安裝有電機(13)，所述電機(13)的輸出軸連接于一動密封圈(12)，所述動密封圈(12)與所述采樣頭(11)固連，所述電機(13)在轉動過程中帶動所述動密封圈(12)轉動進而帶動所述采樣頭(11)轉動。

6.根據權利要求5所述的適用于固液混合光鹵石礦層厚度測量的裝置，其特征在于，所述采樣管(1)末端安裝有航插母接頭(14)，所述航插母接頭(14)通過O形圈密封在所述采樣管(1)中。

7.根據權利要求6所述的適用于固液混合光鹵石礦層厚度測量的裝置，其特征在于，所述延長管(4)為鈦合金管，兩端分別設置有一航插公接頭(41)和一航插母接頭(42)，所述航插公接頭(41)與另一所述延長管(4)的航插母接頭(42)或所述采樣管(1)的航插母接頭(14)旋轉固定連接，連接成功后能夠傳輸電能。

8.根據權利要求7所述的適用于固液混合光鹵石礦層厚度測量的裝置，其特征在于，在所述延長管(4)內部，所述航插公接頭(41)與所述航插母接頭(42)通過導線連接，用于電能的傳輸；

所述航插公接頭(41)和所述航插母接頭(42)分別通過一O形密封圈(43)密封于所述延長管(4)中，所述O形密封圈(43)用于航插的密封，防止漏水。