[發明專利]一種密閉式介質絕緣性能測試裝置

在審

• 申請號: 202010976459.0
• 申請日: 2020-09-15
• 公開（公告）號: CN113945809A
• 公開（公告）日: 2022-01-18
• 發明（設計）人: 陳金秀;趙玉峰;熊斌;阮琳
• 申請（專利權）人: 中國科學院電工研究所
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 鄭越

本發明涉及高電壓下絕緣性能測試技術領域，具體涉及一種密閉式介質絕緣性能測試裝置，包括：密封殼體，內設有一對相對設置的高壓電極和低壓電極；加熱結構，設于所述密封殼體中，用于對所述密封殼體中的介質進行加熱使其處于氣液兩相流狀態；位置調節結構，包括與所述密封殼體固定的接頭以及用于連接所述接頭和高壓電極的調節件，所述接頭和所述高壓電極至少之一設有允許所述調節件朝不同方向移動的調節空間，所述調節件設于所述調節空間中，并在所述高壓電極移動至與所述低壓電極平行時將所述高壓電極和接頭緊固。本發明提供了一種方便調節高壓電極的位置，測試準確度高的密閉式介質絕緣性能測試裝置。

技術領域

本發明涉及高電壓下絕緣性能測試技術領域，具體涉及一種密閉式介質絕緣性能測試裝置。

背景技術

氟碳介質無毒、易揮發，且在不同工況下，其壓力、溫度、流速、兩相流氣體體積占有率等狀態參數不同。因此，為精準測試氟碳介質應用于浸泡式蒸發冷卻變壓器時的絕緣性能，實驗裝置需滿足密封、電極自加熱、介質循環流動的要求，還要能實時測量氟碳介質的物性參數。

為此，現有技術公開了一種用于氣液兩相流狀態下介質絕緣性能測量的裝置，包括密封容器、加熱裝置、冷凝裝置、高壓電極、低壓電極、高壓電極密封裝置和低壓電極密封裝置；加熱裝置位于密封容器的底部，冷凝裝置處于密封容器的上部；冷凝裝置的進水口和出水口穿過密封容器頂板，通向密封容器外；高壓電極和低壓電極處于密封容器的中部，分別通過高壓電極密封裝置和低壓電極密封裝置從相對的兩個方向穿入密封容器內；密封容器中加入待測液體介質，加熱裝置對待測液體介質加熱至沸騰兩相流狀態，使低壓電極接地，高壓電極按照一定速率增壓，直至發生擊穿放電，記錄擊穿時間和電壓，重復若干次，即可得到液體介質在氣液兩相流狀態下的擊穿電壓特性。但是由于受加工精度或安裝精度影響，在測試時，高壓電極和低壓電極難以調整至完全平行的同心位置，導致電極間隙不均勻，容易影響測試的準確性，而高壓電極與低壓電極需要與箱體間實現密封，安裝固定后調節不便。

發明內容

因此，本發明要解決的技術問題在于克服現有技術中的裝置高壓電極的位置調節不便，影響測試的準確性的缺陷，從而提供一種方便調節高壓電極的位置，測試準確度高的密閉式介質絕緣性能測試裝置。

為了解決上述技術問題，本發明提供了一種密閉式介質絕緣性能測試裝置，包括：

密封殼體，內設有一對相對設置的高壓電極和低壓電極；

加熱結構，設于所述密封殼體中，用于對所述密封殼體中的介質進行加熱使其處于氣液兩相流狀態；

位置調節結構，包括與所述密封殼體固定的接頭以及用于連接所述接頭和高壓電極的調節件，所述接頭和所述高壓電極至少之一設有允許所述調節件朝不同方向移動的調節空間，所述調節件設于所述調節空間中，并在所述高壓電極移動至與所述低壓電極平行時將所述高壓電極和接頭緊固。

所述的密閉式介質絕緣性能測試裝置，所述調節空間為成型于所述接頭和高壓電極至少之一上的通孔，所述調節件包括貫穿所述通孔的螺桿和設于所述螺桿端部的螺母。

所述的密閉式介質絕緣性能測試裝置，還包括至少部分設于所述密封殼體外部的絕緣套管，所述接頭與所述絕緣套管連接，且設于所述密封殼體內部。

所述的密閉式介質絕緣性能測試裝置，還包括與所述密封殼體連通設置的流速調節結構，所述流速調節結構設于所述密封殼體外部，用于控制所述密封殼體中的介質按預定流速循環流動。

所述的密閉式介質絕緣性能測試裝置，所述流速調節結構包括與所述密封殼體連通設置的管路以及設于所述管路上的泵體和流量計。

所述的密閉式介質絕緣性能測試裝置，在所述管路上還設有冷凝結構，位于所述冷凝結構內部的管路上設有閥門和壓力測量儀。

所述的密閉式介質絕緣性能測試裝置，在所述冷凝結構和所述泵體之間設有蓄流箱。