[發(fā)明專利]單片集成多波長(zhǎng)量子級(jí)聯(lián)激光器陣列結(jié)構(gòu)及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010976458.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112072471B | 公開(公告)日: | 2022-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郭強(qiáng)強(qiáng);張錦川;程鳳敏;劉峰奇;劉俊岐;卓寧;王利軍;劉舒曼;王占國(guó) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所 |
| 主分類號(hào): | H01S5/40 | 分類號(hào): | H01S5/40;H01S5/065;H01S5/125 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 孫蕾 |
| 地址: | 100083 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 單片 集成 波長(zhǎng) 量子 級(jí)聯(lián) 激光器 陣列 結(jié)構(gòu) 及其 制作方法 | ||
1.一種單片集成多波長(zhǎng)量子級(jí)聯(lián)激光器陣列結(jié)構(gòu),其中,包括形成于襯底上,脊型的陣列直條區(qū)、分布布拉格反射區(qū)和光束組合區(qū);
陣列直條區(qū),形成呈陣列結(jié)構(gòu)的多個(gè)解離腔;
分布布拉格反射區(qū),與所述陣列直條區(qū)結(jié)合形成呈陣列結(jié)構(gòu)的多個(gè)完整諧振腔,其中,所述分布布拉格反射區(qū)包括多個(gè)呈陣列結(jié)構(gòu)的分布布拉格反射單元,各個(gè)所述分布布拉格反射單元的二級(jí)光柵的周期不同;
光束組合區(qū),用于將所述呈陣列結(jié)構(gòu)的多個(gè)完整諧振腔耦合集成,實(shí)現(xiàn)光束多波長(zhǎng)連續(xù)同軸輸出;
其中,所述陣列直條區(qū)、分布布拉格反射區(qū)和光束組合區(qū)由下至上依次包括:下波導(dǎo)層、下限制層、有源層、上限制層、上波導(dǎo)層和歐姆接觸層;
在所述上限制層對(duì)應(yīng)所述分布布拉格反射區(qū)刻蝕形成二級(jí)光柵。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單片集成多波長(zhǎng)量子級(jí)聯(lián)激光器陣列結(jié)構(gòu),其中,在所述歐姆接觸層的陣列直條區(qū)與分布布拉格反射區(qū)之間,以及分布布拉格反射區(qū)與光束組合區(qū)之間的區(qū)域形成電隔離溝,用于各區(qū)間的電隔離。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單片集成多波長(zhǎng)量子級(jí)聯(lián)激光器陣列結(jié)構(gòu),其中,所述襯底的材料為InP,摻雜濃度為1×1017~3×1017 cm-3;
所述下波導(dǎo)層的材料為n型摻雜的InP,摻雜濃度為2×1016~4×1016 cm-3,厚度為1~3μm;
所述下限制層為n型摻雜的InGaAs,摻雜濃度為2×1016cm-3,厚度為200nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單片集成多波長(zhǎng)量子級(jí)聯(lián)激光器陣列結(jié)構(gòu),其中,所述有源層由20~60個(gè)周期的InGaAs/InAlAs疊層依次堆疊構(gòu)成,所述有源層對(duì)應(yīng)的光波長(zhǎng)為4~12μm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單片集成多波長(zhǎng)量子級(jí)聯(lián)激光器陣列結(jié)構(gòu),其中,所述上限制層為n型摻雜的InGaAs,摻雜濃度為2×1016cm-3,厚度為300nm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單片集成多波長(zhǎng)量子級(jí)聯(lián)激光器陣列結(jié)構(gòu),其中,所述上限制層對(duì)應(yīng)所述分布布拉格反射區(qū)的區(qū)域,二級(jí)光柵刻蝕深度為120~150nm,二級(jí)光柵占空比不等于50%。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單片集成多波長(zhǎng)量子級(jí)聯(lián)激光器陣列結(jié)構(gòu),其中,所述上波導(dǎo)層為n型摻雜的InP,所述上波導(dǎo)層在靠近所述上限制層的3.4μm厚度的上波導(dǎo)層的摻雜濃度為1~3×1016cm-3,靠近所述歐姆接觸層的0.2μm厚度的上波導(dǎo)層的摻雜濃度線性漸變,整體厚度為3.6μm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單片集成多波長(zhǎng)量子級(jí)聯(lián)激光器陣列結(jié)構(gòu),其中,所述歐姆接觸層為n型摻雜的InP,摻雜濃度為5×1018cm-3,厚度為0.5μm。
9.一種單片集成多波長(zhǎng)量子級(jí)聯(lián)激光器陣列結(jié)構(gòu)的制作方法,其中,包括以下步驟:
在襯底上依序生長(zhǎng)下波導(dǎo)層、下限制層、有源層、上限制層、預(yù)備上波導(dǎo)層和預(yù)備歐姆接觸層;
腐蝕掉所述預(yù)備歐姆接觸層和預(yù)備上波導(dǎo)層,并在所述上限制層上生長(zhǎng)掩膜層;
通過光刻和濕法腐蝕形成圖案化的掩膜層,以所述圖案化的掩膜層作掩膜,在所述上限制層的裸露區(qū)域制作二級(jí)光柵;
除去所述圖案化的掩膜層,二次外延生長(zhǎng)上波導(dǎo)層和歐姆接觸層;
通過光刻和濕法腐蝕,制作脊型結(jié)構(gòu),其中腐蝕深度超過所述有源層;
通過光刻和濕法腐蝕,在所述脊型結(jié)構(gòu)上對(duì)應(yīng)所述二級(jí)光柵的兩側(cè)制作電隔離溝,其中腐蝕深度超過所述歐姆接觸層;形成脊型的陣列直條區(qū)、分布布拉格反射區(qū)和光束組合區(qū),完成制作,其中,所述分布布拉格反射區(qū)包括多個(gè)呈陣列結(jié)構(gòu)的分布布拉格反射單元,各個(gè)所述分布布拉格反射單元的二級(jí)光柵的周期不同。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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