[發(fā)明專利]一種鋯石鉿同位素的檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010974890.1 | 申請日: | 2020-09-16 |
| 公開(公告)號: | CN112098396B | 公開(公告)日: | 2021-08-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃超 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所 |
| 主分類號: | G01N21/73 | 分類號: | G01N21/73 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 夏菁 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 鋯石鉿 同位素 檢測 方法 | ||
本發(fā)明提供了鋯石鉿同位素的檢測方法,本發(fā)明提供的方法在鋯石鉿同位素比值測試的同時,能夠檢測鉿氧化物的離子信號,可以通過監(jiān)測氧化物產(chǎn)率,根據(jù)獲得的氧化物產(chǎn)率值調(diào)整質(zhì)譜儀參數(shù),降低氧化物產(chǎn)率,以保證獲得準確的鉿同位素比值結(jié)果。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及同位素地球化學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種鋯石鉿同位素的檢測方法。
背景技術(shù)
鋯石是自然界中各類成因巖石中常見的副礦物,它具有較高的鈾(U)、鉛(Pb)和鉿(Hf)含量,使其成為不僅是U-Pb同位素地質(zhì)年代學(xué)中重要的研究對象,同時也是Hf同位素分析的理想礦物,并逐漸形成了一個應(yīng)用前景極其廣闊的分支學(xué)科-鋯石學(xué)。特別是,將鋯石U-Pb年齡、微量元素、Hf和O等同位素結(jié)合,為研究地球隨時間在空間上的遷移和演化過程提供了重要地球化學(xué)參數(shù)。
隨著電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)技術(shù)的發(fā)展,尤其是具有準確度高、靈敏度高、效率高和記憶效應(yīng)弱的多接收-電感耦合等離子質(zhì)譜儀(MC-ICP-MS)出現(xiàn)后,鉿同位素分析在地球科學(xué)領(lǐng)域得以廣泛應(yīng)用。然而,MC-ICP-MS對樣品純度要求苛刻,在鉿同位素測試時,為了獲得無干擾的離子信號,待測Hf元素必須從樣品基質(zhì)溶液中完全剝離,以保證準確的測試結(jié)果。
但純化后的鋯石樣品溶液中依然存在極少量的稀土元素,例如釓(Gd)和鏑(Dy),他們的氧化物160Gd16O和160Dy16O離子信號將干擾176Hf離子信號,影響最終獲得的鉿同位素比值準確性。
目前,只能根據(jù)經(jīng)驗,通過反復(fù)調(diào)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀樣品氣體流量和炬管位置等參數(shù),獲得相對較為準確的鉿同位素比值,絕對準確的鉿同位素比值很難獲得。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于提供一種鋯石鉿同位素的檢測方法,通過同步檢測鉿氧化物的離子信號,獲得準確的檢測結(jié)果。
本發(fā)明提供了一種鋯石鉿同位素的檢測方法,包括以下步驟:
(1)將鉿標準品溶液引入多接收電感耦合等離子體質(zhì)譜儀的等離子體離子源中進行電離,得到標準品離子;
(2)將所述標準品離子經(jīng)過質(zhì)譜儀中的電場和磁場,實現(xiàn)能量和位置的雙聚焦,并到達離子檢測系統(tǒng);
(3)調(diào)整質(zhì)譜儀的透鏡電壓,使標準品溶液中的鉿氧化物的離子流發(fā)生偏轉(zhuǎn);
(4)使用多個法拉第杯同時檢測經(jīng)過雙聚焦的鉿同位素離子和鉿氧化物離子,并計算所述標準品離子的鉿同位素比值和鉿氧化物產(chǎn)率;
(5)若鉿同位素比值與鉿標準品推薦值不一致,則調(diào)整質(zhì)譜儀參數(shù),減小鉿氧化物產(chǎn)率;
重復(fù)步驟(4)、(5),直至檢測得到的鉿同位素比值與鉿標準品推薦值一致;
(6)將鋯石樣品進行溶解和純化,得到樣品溶液,并進行檢測,得到準確的鋯石樣品的鉿同位素比值。
本發(fā)明中,所述鉿同位素比值為176Hf/177Hf。
本發(fā)明針對目前鉿同位素比值檢測技術(shù)存在的問題,檢測鉿同位素的離子信號時,不能同時檢測鉿氧化物的離子信號,無法同步精確獲得鉿同位素檢測過程中的氧化物產(chǎn)率大小,進而無法據(jù)此調(diào)整質(zhì)譜儀參數(shù)以降低氧化物產(chǎn)率,從而導(dǎo)致測試結(jié)果偏離準確值,通過調(diào)整質(zhì)譜儀的透鏡電壓,使樣品溶液中的鉿氧化物的離子流發(fā)生偏轉(zhuǎn),進而能夠檢測到鉿氧化物的離子信號,實現(xiàn)了在鉿同位素檢測過程中同步監(jiān)測鉿氧化物的產(chǎn)率,根據(jù)同步監(jiān)測的鉿氧化物產(chǎn)率值,調(diào)整質(zhì)譜儀參數(shù)(輔助氣體流量),降低鉿氧化物產(chǎn)率,從而獲得準確的鉿同位素比值。
圖1是本發(fā)明提供的鋯石鉿同位素的檢測方法的流程圖。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010974890.1/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





