[發明專利]一種可檢驗超聲波反射片狀態的超聲波流量計及檢測方法

在審

• 申請號: 202010971643.6
• 申請日: 2020-09-16
• 公開（公告）號: CN112067065A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 嚴軍榮;盧玉龍;王晟
• 申請（專利權）人: 杭州乾博科技有限公司
• 主分類號: G01F1/66
• 分類號: G01F1/66;G01F25/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種檢驗超聲波反射片狀態方法，其特征在于，包括：

根據超聲波反射片的角度變化值和/或表面粗糙度和/或位移數據和/或晃動數據判斷超聲波反射片的狀態是否出現異常。

2.根據權利要求1所述的檢驗超聲波反射片狀態方法，其特征在于，所述超聲波反射片的角度變化值是單個反射片角度變化值、兩個超聲波發射片的角度變化值之差的任一項或多項組合。

3.根據權利要求1所述的檢驗超聲波反射片狀態方法，其特征在于，所述表面粗糙度是根據檢測聲波的發射強度和接收強度之差得到和/或根據激光探測器檢測的超聲波反射片表面平整度得到和/或根據超聲波反射片一定時間內的厚度變化值得到。

4.根據權利要求1所述的檢驗超聲波反射片狀態方法，其特征在于，所述位移數據是超聲波反射片支架的水平位置變化值、超聲波反射片支架的垂直位置變化值、超聲波反射片與超聲波反射片支架的相對位置變化值的任一項或多項組合。

5.根據權利要求1所述的檢驗超聲波反射片狀態方法，其特征在于，所述晃動數據是根據超聲波反射片支架連續多個時刻的位置數據變化和/或超聲波反射片與超聲波反射片支架連續多個時刻的相對位置數據變化計算。

6.根據權利要求1所述的檢驗超聲波反射片狀態方法，其特征在于，所述根據超聲波反射片的角度變化值和/或表面粗糙度和/或位移數據和/或晃動數據判斷超聲波反射片的狀態是否出現異常，包括步驟：

根據超聲波反射片的角度變化值和/或表面粗糙度和/或位移數據和/或晃動數據計算超聲波反射片的異常指數；

根據超聲波換能器的聲波接收范圍和計量精度計算超聲波反射片的異常容許度；

當超聲波反射片的異常指數大于異常容許度時，則判定超聲波反射片的狀態出現異常。

7.根據權利要求6所述的檢驗超聲波反射片狀態方法，其特征在于，所述根據超聲波反射片的角度變化值和/或表面粗糙度和/或位移數據和/或晃動數據計算超聲波反射片的異常指數，是：根據超聲波反射片的角度變化對超聲波接收的影響計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的表面粗糙度與超聲波反射衰減的關系計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的位移對超聲波接收的影響計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的晃動對超聲波接收的影響計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的角度變化對超聲波接收的影響和超聲波反射片的表面粗糙度與超聲波反射衰減的關系計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的角度變化和位移對超聲波接收的影響計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的角度變化和晃動對超聲波接收的影響計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的表面粗糙度與超聲波反射衰減的關系和超聲波反射片的位移對超聲波接收的影響計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的表面粗糙度與超聲波反射衰減的關系和超聲波反射片的晃動對超聲波接收的影響計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的位移和晃動對超聲波接收的影響計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的角度變化和位移對超聲波接收的影響和超聲波反射片的表面粗糙度與超聲波反射衰減的關系計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的角度變化和晃動對超聲波接收的影響和超聲波反射片的表面粗糙度與超聲波反射衰減的關系計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的角度變化和位移和晃動對超聲波接收的影響計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的位移和晃動對超聲波接收的影響和超聲波反射片的表面粗糙度與超聲波反射衰減的關系計算超聲波反射片的異常指數、根據超聲波反射片的角度變化和位移和晃動對超聲波接收的影響和超聲波反射片的表面粗糙度與超聲波反射衰減的關系計算超聲波反射片的異常指數的任一項。

8.一種計算機可讀存儲介質，其存儲用于電子數據交換的計算機程序，其中，所述計算機程序使計算機執行如權利要求1-7任一項所述的方法。