[發(fā)明專利]一種小目標(biāo)物體檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010969487.X | 申請日: | 2020-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN112184641A | 公開(公告)日: | 2021-01-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 崔綺嫦;王斌;羅桂蓮;鄭少鋒;何南堅(jiān);李偉才;黃慧宇;王文;余娟;畢興忠;王軍 | 申請(專利權(quán))人: | 佛山中紡聯(lián)檢驗(yàn)技術(shù)服務(wù)有限公司;廣州冠圖視覺科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06K9/46;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京世譽(yù)鑫誠專利代理有限公司 11368 | 代理人: | 郭官厚 |
| 地址: | 528200 廣東省佛山市南*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 目標(biāo) 物體 檢測 方法 | ||
1.一種小目標(biāo)物體檢測方法,其特征在于,包括:
S1對小目標(biāo)物體所在的原始圖像連續(xù)多次進(jìn)行下采樣,得到多個(gè)特征圖像;
S2根據(jù)下采樣的時(shí)間先后順序,對所述多個(gè)特征圖像進(jìn)行排序,得到特征圖像組;
S3選取所述特征圖像組中處于最后的n張?zhí)卣鲌D像,根據(jù)尺寸大小順序,將所述n張?zhí)卣鲌D像依次記為C1、C2、C3…Cn;
S4對特征圖像Cn進(jìn)行1*1進(jìn)行卷積操作,得到特征圖像Mn;
S5對特征圖像進(jìn)行Mn上采樣,得到尺寸與特征圖像C4一致的特征圖像Mn-;
S6對特征圖像Cn-1進(jìn)行1*1進(jìn)行卷積操作,得到特征圖像Cn-1-;
S7將特征圖像Mn-與特征圖像Cn-1-進(jìn)行疊加,得到特征圖像Mn-1;
S8重復(fù)步驟S6-S7,得到特征圖像Mn-2…特征圖像M2、特征圖像M1;
S9分別對特征圖像M1、特征圖像M2、特征圖像M3…特征圖像Mn-1、特征圖像Mn進(jìn)行卷積操作,使得特征圖像M1、特征圖像M2、特征圖像M3…特征圖像Mn-1、特征圖像Mn的輸出通道數(shù)相同;
S10采用尺寸大小為[8*8,16*16,32*32,64*64,128*128…2n+2*2n+2]n組預(yù)測框分別預(yù)測特征圖像M1、特征圖像M2、特征圖像M3…特征圖像Mn-1、特征圖像Mn中的小目標(biāo)物體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小目標(biāo)物體檢測方法,其特征在于,特征圖像M1、特征圖像M2、特征圖像M3…特征圖像Mn-1、特征圖像Mn輸出通道數(shù)均為256。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小目標(biāo)物體檢測方法,其特征在于,其特征在于,n的值為5。
4.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-2所述的步驟。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于佛山中紡聯(lián)檢驗(yàn)技術(shù)服務(wù)有限公司;廣州冠圖視覺科技有限公司,未經(jīng)佛山中紡聯(lián)檢驗(yàn)技術(shù)服務(wù)有限公司;廣州冠圖視覺科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010969487.X/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 目標(biāo)檢測裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測系統(tǒng)及目標(biāo)檢測方法
- 目標(biāo)監(jiān)測方法、目標(biāo)監(jiān)測裝置以及目標(biāo)監(jiān)測程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測方法和目標(biāo)檢測裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法





