[發明專利]基于時序擴展的正交鄰域保持嵌入模型的構建與應用有效
| 申請號: | 202010969184.8 | 申請日: | 2020-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN112149054B | 公開(公告)日: | 2023-08-04 |
| 發明(設計)人: | 王妍;凌丹;韓帥帥;王延峰;顧曉光;孫軍偉;王英聰;朱傳遷 | 申請(專利權)人: | 鄭州輕工業大學 |
| 主分類號: | G06F17/16 | 分類號: | G06F17/16;G06F17/18;G06F30/20 |
| 代理公司: | 鄭州盈派知識產權代理事務所(普通合伙) 41196 | 代理人: | 張曉輝;樊羿 |
| 地址: | 450000 *** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 時序 擴展 正交 鄰域 保持 嵌入 模型 構建 應用 | ||
1.一種基于時序擴展的正交鄰域保持嵌入模型的構建方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)獲取CSTR過程中的m個物理量監測點的n個正常歷史樣本,組成矩陣X1=[x11,x12,…x1n]∈Rm×n,將每一行數據減去此行樣本數據的均值后除以此行樣本數據的標準差,得到矩陣X=[x1,x2,…xn]∈Rm×n;
(2)應用TONPE模型的故障監控方法,計算出投影矩陣A(a1,…,ab)∈Rm×b,其中b≤m,并計算每個正常歷史樣本xi∈Rm的統計量Ti2和統計量SPEi,其中的i=1,2,…n;
式中,ai是投影向量,且i=1,…b;b是降維維度;Λ=YYT/(n-1);Y=ATX;yi=ATxi,其中i=1,2,…n;
其中,投影矩陣A的獲取方法如下:
(2a)構建空間鄰域集S
針對某個正常歷史樣本點xi∈Rm且i=1,2,…n,計算與其它樣本點的歐式距離d,然后選取距離此樣本點歐氏距離d最小的k個點組成空間鄰域集表示樣本xi的第k個臨近點;
(2b)構建時間鄰域集Q
對此xi樣本點進行構建時間鄰域集Q∈{xi-m,...,xi-1,xi+1,...,xi+m},并且在數值上k=2m;
(2c)確定權重系數矩陣W
由最小化函數得到空間鄰域集S的權重系數矩陣Ws:
其中,表示樣本xi的第j個臨近點,WSij為矩陣Ws的第i行第j列元素,代表樣本對重構樣本xi的權重系數;約束條件為且i=1,2,…n,如果樣本不是xi的鄰域,則WSij=0;
再由最小化函數得到時間系數權重矩陣WQ:
其中,WQij為矩陣WQ的第i行第j列元素,代表樣本xj對重構樣本xi的權重系數;約束條件為且i=1,2,…n,如果當xj不是xi的時間鄰域點時,WQij=0;
(2d)建立目標函數J(y):
其中,yi為xi的投影向量,和yj分別表示yi空間鄰近點和時間鄰近點,空間特征信息的權重系數η取值范圍是0≤η≤1;
(2e)計算投影矩陣A(a1,…,ab)∈Rm×b
將yi=ATxi帶入公式(5)得:
其中,Ms=(I-Ws)T(I-WS),MQ=(I-WQ)T(I-WQ),M=ηMS+(1-η)MQ;
在公式(6)基礎上加入約束條件ATXXTA=I,且i=2,…,b,利用拉格朗日乘子法包含約束來求解以上優化問題,式(6)轉化為如下的廣義特征值求解問題,即:
XMXTA=λXXTA???????????????????(7)
求解公式(7)得:
1)a1是(XXT)-1XMXT的最小特征值對應的特征向量;
2)ai(i=2,…,b)是Q(i)的最小特征值對應的特征向量;
Q(i)={I-(XXT)-1a(i-1)[G(i-1)]T}(XXT)-1XMXT??????????(8)
式中,G(i-1)=[a(i-1)]T(XXT)-1a(i-1);a(i-1)=[a1,a2,…ai-1];
由(8)式求出所有的ai的值,且i=1,…,b,得到投影矩陣A;
(3)應用核密度估計函數計算Ti2的控制限和統計量SPEi的控制限SPElim,其中的i=1,2,…n。
2.一種基于權利要求1所構建的正交鄰域保持嵌入模型的CSTR過程故障監控方法,包括如下步驟:
①在線采集CSTR過程中的m個物理量監測點的n1個測試樣本數據,組成矩陣Xnew1=[xnew11,xnew12,…xnew1n1]∈Rm×n1,將Xnew1的每一行減去正常歷史樣本矩陣X1的對應行的數據均值后除以對應行數據的標準差,得到矩陣Xnew=[xnew1,xnew2,…xnewn1]∈Rm×n1;
②應用權利要求1所構建的正交鄰域保持嵌入模型的故障監控方法計算測試數據xnewi∈Rm的監測指標和SPEnewi,其中的i=1,2,…,n1;
SPEnewi=xnewi(I-ATA)[xnewi(I-ATA)]T???????????????(10)
其中,Λ=(ATXnew)(ATXnew)T/(n1-1),ynewi=ATxnewi且i=1,2,…,n1;
③將所得統計量SPEnewi和控制限SPElim分別比較,大于控制限的部分即認為此樣本點有故障發生;然后總結所有的故障樣本點,求出檢測率和誤報率。
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