[發(fā)明專利]一種基于雙波長差值的強度型SPRi傳感系統(tǒng)及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010967252.7 | 申請日： | 2020-09-15 |
| 公開（公告）號： | CN112098371A | 公開（公告）日： | 2020-12-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 邵永紅;曾佑君;屈軍樂 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳大學(xué) |
| 主分類號： | G01N21/552 | 分類號： | G01N21/552;G01N21/41 |
| 代理公司： | 深圳市君勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44268 | 代理人： | 徐凱凱;吳志益 |
| 地址： | 518060 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基于 波長 差值 強度 spri 傳感 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種基于雙波長差值的強度型SPRi傳感系統(tǒng)，其特征在于，包括：依次設(shè)置在同一光路上的光源、起偏器、SPR傳感模塊、窄帶濾波片和探測器，以及與所述探測器連接的終端設(shè)備；
所述光源發(fā)出的寬帶光經(jīng)過所述起偏器產(chǎn)生P偏振光，所述P偏振光入射至所述SPR傳感模塊，與放置待測樣品的所述SPR傳感模塊產(chǎn)生等離子體共振，形成強度改變的P偏振光，強度改變的P偏振光通過所述SPR傳感模塊反射至所述窄帶濾波片，由所述窄帶濾波片進行窄帶濾波形成第一波長P偏振光和第二波長P偏振光，所述第一波長P偏振光和所述第二波長P偏振光由所述窄帶濾波片出射至所述探測器，由所述探測器形成所述第一波長P偏振光對應(yīng)的第一SPR傳感面圖像和所述第二波長P偏振光對應(yīng)的第二SPR傳感面圖像，并反饋至所述終端設(shè)備，由所述終端設(shè)備根據(jù)所述第一SPR傳感面圖像和所述第二SPR傳感面圖像得到待測樣品的檢測結(jié)果；其中，所述第一波長和所述第二波長分別位于SPR光譜曲線的上升沿線性區(qū)和下降沿線性區(qū)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙波長差值的強度型SPRi傳感系統(tǒng)，其特征在于，所述光源和所述起偏器之間還設(shè)置有耦合光纖和準直擴束模塊；
所述光源發(fā)出的寬帶光經(jīng)過所述耦合光纖耦合至所述準直擴束模塊，由所述準直擴束模塊對所述耦合光纖耦合后的寬帶光進行準直擴束。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙波長差值的強度型SPRi傳感系統(tǒng)，其特征在于，所述SPR傳感模塊與所述窄帶濾波片之間設(shè)置有第一成像透鏡、第一檢偏器以及雙色鏡；
所述SPR傳感模塊反射的強度改變的P偏振光通過所述第一成像透鏡收集，由所述第一成像透鏡出射至所述第一檢偏器進行過濾，過濾后的強度改變的P偏振光入射至所述雙色鏡，由所述雙色鏡出射至所述窄帶濾波片。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于雙波長差值的強度型SPRi傳感系統(tǒng)，其特征在于，所述窄帶濾波片包括第一窄帶濾波片和第二窄帶濾波片，所述探測器包括第一探測器和第二探測器；
所述第一檢偏器過濾后的強度改變的P偏振光通過所述雙色鏡透射和反射至所述第一窄帶濾波片和所述第二窄帶濾波片，由所述第一窄帶濾波片和所述第二窄帶濾波片進行窄帶濾波形成第一波長P偏振光和第二波長P偏振光，所述第一波長P偏振光由所述第一窄帶濾波片出射至所述第一探測器，形成所述第一波長P偏振光對應(yīng)的第一SPR傳感面圖像，所述第二波長P偏振光由所述第二窄帶濾波片出射至所述第二探測器，形成所述第二波長P偏振光對應(yīng)的第二SPR傳感面圖像。
5.一種基于雙波長差值的強度型SPRi傳感系統(tǒng)，其特征在于，包括：依次設(shè)置在同一光路上的光源、起偏器、SPR傳感模塊和探測器，以及與所述探測器連接的終端設(shè)備；
所述光源發(fā)出的第一波長激發(fā)光和第二波長激發(fā)光經(jīng)過所述起偏器產(chǎn)生第一波長P偏振光和第二波長P偏振光，所述第一波長P偏振光和所述第二波長P偏振光入射至所述SPR傳感模塊，與放置待測樣品的所述SPR傳感模塊產(chǎn)生等離子體共振，形成強度改變的第一波長P偏振光和強度改變的第二波長P偏振光，強度改變的第一波長P偏振光和強度改變的第二波長P偏振光通過所述SPR傳感模塊反射至所述探測器，由所述探測器形成強度改變的第一波長P偏振光對應(yīng)的第三SPR傳感面圖像和強度改變的第二波長P偏振光對應(yīng)的第四SPR傳感面圖像，并反饋至所述終端設(shè)備，由所述終端設(shè)備根據(jù)所述第三SPR傳感面圖像和所述第四SPR傳感面圖像得到待測樣品的檢測結(jié)果；其中，所述第一波長和所述第二波長分別位于SPR光譜曲線的上升沿線性區(qū)和下降沿線性區(qū)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于雙波長差值的強度型SPRi傳感系統(tǒng)，其特征在于，所述光源和所述起偏器之間還設(shè)置有耦合光纖和準直擴束模塊；
所述光源發(fā)出的第一波長激發(fā)光和第二波長激發(fā)光經(jīng)過所述耦合光纖耦合至所述準直擴束模塊，由所述準直擴束模塊對所述耦合光纖耦合后的第一波長激發(fā)光和第二波長激發(fā)光進行準直擴束。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
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