[發明專利]腔內補償的光參量振蕩裝置及光譜儀有效
| 申請號: | 202010967100.7 | 申請日: | 2020-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN112054378B | 公開(公告)日: | 2022-09-06 |
| 發明(設計)人: | 胡水明;程存峰;章紫覃 | 申請(專利權)人: | 中國科學技術大學 |
| 主分類號: | H01S3/107 | 分類號: | H01S3/107;H01S3/108;H01S3/081;G02F1/355;G02F1/39;G01J3/26;G01J3/28 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 姚璐華 |
| 地址: | 230026 安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 補償 參量 振蕩 裝置 光譜儀 | ||
1.一種腔內補償的光參量振蕩裝置,其特征在于,所述光參量振蕩裝置包括:
光學諧振腔,所述光學諧振腔包括多個腔鏡;所述光學諧振腔用于輸入泵浦光以及實現信號光多次反射增強;
位于所述光學諧振腔內的非線性晶體,所述非線性晶體用于基于所述泵浦光形成信號光和閑頻光;所述閑頻光通過一個所述腔鏡導出所述光學諧振腔;所述信號光在所述光學諧振腔中共振放大后,部分所述信號光通過另一個所述腔鏡導出所述光學諧振腔;
光學頻率參考,所述光學頻率參考用于基于所述光學諧振腔出射的所述信號,產生控制信號;
位于所述光學諧振腔內的電光晶體;所述電光晶體用于基于所述控制信號,調節所述信號光的頻率,對所述光學諧振腔內的信號光相位進行快速補償;
所述光學頻率參考,用于產生參考信號,基于所述參考信號與所述參考信號的頻率比對結果,生成所述控制信號,所述參考信號包括:原子吸收信號、分子吸收信號和光學腔信號中的任一種,所述控制信號包括:誤差信號和反饋控制信號。
2.根據權利要求1所述的光參量振蕩裝置,其特征在于,所述光學諧振腔具有四個所述腔鏡;該四個所述腔鏡依次為第一腔鏡至第四腔鏡;
所述第一腔鏡用于入射所述泵浦光,且反射所述信號光;所述第二腔鏡為閑頻光導光鏡,用于導出所述閑頻光,且反射所述信號光;所述第三腔鏡為信號光導光鏡,能夠導出經過共振放大后的部分所述信號光;
所述非線性晶體位于第一腔鏡和第二腔鏡的光線傳播路徑之間;
所述電光晶體位于第三腔鏡和第四腔鏡的光線傳播路徑之間。
3.根據權利要求2所述的光參量振蕩裝置,其特征在于,所有所述腔鏡均為二色鏡;
所述第一腔鏡、所述第二腔鏡以及所述第四腔鏡對所述信號光的反射率大于99%;
所述第三腔鏡對所述信號光的反射率大于97%。
4.根據權利要求1所述的光參量振蕩裝置,其特征在于,所述非線性晶體和所述電光晶體分別位于單獨的溫控爐內。
5.根據權利要求1所述的光參量振蕩裝置,其特征在于,所述電光晶體相對的兩個通電端面均具有金屬鍍膜,用于實現導電性;
所述電光晶體的通光端面均具有信號光的增透膜。
6.根據權利要求1所述的光參量振蕩裝置,其特征在于,所述電光晶體為氧化鎂摻雜的鈮酸鋰電光晶體。
7.根據權利要求1所述的光參量振蕩裝置,其特征在于,所述電光晶體具有設定切角,使得所述信號光以布儒斯特角入射所述電光晶體。
8.一種光譜儀,其特征在于,包括如權利要求1-7任一項所述的光參量振蕩裝置。
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