[發明專利]細劃痕檢測方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010965641.6
• 申請日: 2020-09-15
• 公開（公告）號: CN112258448A
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 徐明亮;姜曉恒;李振宇;衛慧;張晨民;閆杰;李丙濤;馮春
• 申請（專利權）人: 鄭州金惠計算機系統工程有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T5/50;G06T7/136
• 代理公司: 鄭州銘晟知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 41134
• 代理人: 張萬利

1.一種細劃痕檢測方法，其特征在于，該細劃痕檢測方法包括以下步驟：

通過拉普拉斯算子與待測圖像卷積，銳化增強所述待測圖像得到待測增強圖像；

對所述待測增強圖像進行均值濾波得到背景圖像，并將所述待測增強圖像與所述背景圖像進行差值處理得到含有多個劃痕線段的待測劃痕圖像；

根據直線提取算法對所述待測劃痕圖像中的所述多個劃痕線段進行提取，得到由所述多個劃痕線段的起始點坐標組成的劃痕線段集；

利用所述劃痕線段集中的多個所述起始點坐標生成一幅二值圖，對所述二值圖進行霍夫變換得到劃痕線段。

2.根據權利要求1所述的一種細劃痕檢測方法，其特征在于，所述對所述二值圖進行霍夫變換的步驟如下：

將所述劃痕線段集中的多個所述起始點坐標映射到霍夫空間；

在所述霍夫空間中，相交于同一點的曲線數量大于預設數量的起始點坐標，則判斷檢測到一條劃痕線段；

根據映射關系將所述直線還原到原始空間中，并畫出相應的劃痕線段。

3.根據權利要求1或者2所述的一種細劃痕檢測方法，其特征在于，在所述根據直線提取算法對所述待測劃痕圖像中的所述多個劃痕線段進行提取之前，還包括以下步驟：

通過閾值圖像分割法將圖像分成背景和目標兩部分。

4.根據權利要求3所述的一種細劃痕檢測方法，其特征在于，所述閾值圖像分割法采用自適應閾值圖像分割法。

5.一種細劃痕檢測裝置，其特征在于，該細劃痕檢測裝置包括：

預處理模塊，用于通過拉普拉斯算子與待測圖像卷積，銳化增強所述待測圖像得到待測增強圖像；

去除背景模塊，用于對待測增強圖像進行均值濾波得到背景圖像，并將所述待測增強圖像與所述背景圖像進行差值處理得到含有多個劃痕線段的待測劃痕圖像；

劃痕提取模塊，用于根據直線提取算法對所述待測劃痕圖像中的所述多個劃痕線段進行提取，得到由所述多個劃痕線段的起始點坐標組成的劃痕線段集；

劃痕獲取模塊，用于利用所述劃痕線段集中的多個所述起始點坐標生成一幅二值圖，對所述二值圖進行霍夫變換得到劃痕線段。

6.根據權利要求5所述的一種細劃痕檢測裝置，其特征在于，所述劃痕獲取模塊還包括：

映射模塊，用于將所述劃痕線段集中的多個所述起始點坐標映射到霍夫空間；

判斷模塊，用于在所述霍夫空間中，相交于同一點的曲線數量大于預設數量的起始點坐標，則判斷檢測到一條劃痕線段；

還原模塊，用于根據映射關系將所述直線還原到原始空間中，并畫出相應的劃痕線段。

7.根據權利要求5或者6所述的一種細劃痕檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置，還包括：

閾值分割模塊，用于通過閾值圖像分割法將圖像分成背景和目標兩部分。

8.根據權利要求7所述的一種細劃痕檢測裝置，其特征在于，所述閾值分割模塊采用自適應閾值圖像分割法。

9.一種電子設備，其特征在于，包括存儲器和處理器，其中：

所述存儲器用于存儲一條或多條計算機指令，其中，所述一條或多條計算機指令被所述處理器執行時實現如權利要求1至4中任意一項所述的檢測方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質可存儲有程序，該程序執行時實現如權利要求1至4任意一項所述的檢測方法。