[發(fā)明專利]一種單光路精確測(cè)量近遠(yuǎn)場(chǎng)基準(zhǔn)與準(zhǔn)直裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010965089.0
• 申請(qǐng)日: 2020-09-15
• 公開（公告）號(hào): CN112197940B
• 公開（公告）日: 2022-09-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王溫予;彭宇杰;冷雨欣;呂欣林;馮壬譽(yù);錢俊宇;邵蓓捷
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所
• 主分類號(hào): G01M11/02
• 分類號(hào): G01M11/02;G01B11/27;G01J1/42
• 代理公司: 上海恒慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31317
• 代理人: 張寧展

1.一種單光路精確測(cè)量近遠(yuǎn)場(chǎng)基準(zhǔn)與準(zhǔn)直裝置，其特征在于，包括沿待準(zhǔn)直光輸入方向依次放置的第一透鏡(1)、第二透鏡(2)和CCD(3)；所述的第二透鏡(2)位于第一透鏡(1)像方焦點(diǎn)之后，且兩透鏡共焦，所述的第二透鏡(2)的焦點(diǎn)位于CCD(3)的像面之上，所述的第一透鏡(1)和第二透鏡(2)的光軸與CCD(3)像面的法線平行；

所述的第一透鏡(1)的兩側(cè)鍍有半透半反膜，所述的第二透鏡(2)的兩側(cè)鍍有高透膜。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單光路精確測(cè)量近遠(yuǎn)場(chǎng)基準(zhǔn)與準(zhǔn)直裝置，其特征在于，所述的第一透鏡(1)的焦距大于第二透鏡(2)的焦距，即所述的第一透鏡(1)的像方焦點(diǎn)與第二透鏡(2)的物方焦點(diǎn)重合。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單光路精確測(cè)量近遠(yuǎn)場(chǎng)基準(zhǔn)與準(zhǔn)直裝置，其特征在于，所述的半透半反膜其折射率T與反射率R均為50％，所述的高透膜是透過率R98.5％的透射膜。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的單光路精確測(cè)量近遠(yuǎn)場(chǎng)基準(zhǔn)與準(zhǔn)直裝置，其特征在于，所述的第一透鏡(1)的待準(zhǔn)直光入射側(cè)曲率半徑為R₁，折射率為n₂，空氣折射率為n₁，該第一透鏡(1)的出射側(cè)折射率為R₂滿足如下公式：

式中，