[發明專利]一種工件表面缺陷檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010964999.7
• 申請日: 2020-09-15
• 公開（公告）號: CN112164034B
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 徐明亮;姜曉恒;崔麗莎;呂培;李振宇;張晨民;閆杰;李丙濤;劉濤;喬利穩
• 申請（專利權）人: 鄭州金惠計算機系統工程有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06N3/0464
• 代理公司: 鄭州銘晟知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 41134
• 代理人: 張萬利

1.一種工件表面缺陷檢測方法，其特征在于，該檢測方法包括以下步驟：

對獲取的工件表面圖像進行預處理，獲得輸入特征圖；利用卷積神經網絡對所述輸入特征圖進行特征提取，得到多個特征圖；在所述卷積神經網絡的網絡前端的至少一個池化層之后設有用于融合多尺度信息的特征保存模塊；其中，所述特征保存模塊包括用于彌補信息損失的第一特征提取分支、用于提取高層次特征的第二特征提取分支和融合模塊；所述融合模塊將所述第一特征提取分支的輸出結果和所述第二特征提取分支的輸出結果進行融合，得到多尺度特征圖；

根據多個所述特征圖通過跳躍式密集連接方式將細節傳遞到高層特征圖，得到多個預測層；其中，所述跳躍式密集連接方式包括：在每個階段后附加若干個卷積層提取特征圖；同時將每個階段所提取的特征圖中每間隔一個所述特征圖與相應階段所輸出的特征圖進行像素級相加融合；

根據所述多個預測層預測不同尺度的用于匹配缺陷大小的預測框。

2.根據權利要求1所述的一種工件表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述融合模塊將所述第一特征提取分支的輸出結果、所述第二特征提取分支的輸出結果和所述輸入特征圖進行融合，得到多尺度特征圖。

3.一種工件表面缺陷檢測裝置，其特征在于，該檢測裝置包括：

特征提取模塊，用于對獲取的工件表面圖像進行預處理，獲得輸入特征圖；利用卷積神經網絡對所述輸入特征圖進行特征提取，得到多個特征圖；在所述卷積神經網絡的網絡前端的至少一個池化層之后設有用于融合多尺度信息的特征保存模塊；其中，所述特征保存模塊包括用于彌補信息損失的第一特征提取分支、用于提取高層次特征的第二特征提取分支和融合模塊；所述融合模塊將所述第一特征提取分支的輸出結果和所述第二特征提取分支的輸出結果進行融合，得到多尺度特征圖；

跳躍式密集連接模塊，用于根據多個所述特征圖通過跳躍式密集連接方式將細節傳遞到高層特征圖，得到多個預測層；其中，所述跳躍式密集連接方式包括：在每個階段后附加若干個卷積層提取特征圖；同時將每個階段所提取的特征圖中每間隔一個所述特征圖與相應階段所輸出的特征圖進行像素級相加融合；

缺陷預測模塊，用于根據所述多個預測層預測不同尺度的用于匹配缺陷大小的預測框。

4.根據權利要求3所述的一種工件表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述融合模塊將所述第一特征提取分支的輸出結果、所述第二特征提取分支的輸出結果和所述輸入特征圖進行融合，得到多尺度特征圖。

5.一種電子設備，其特征在于，包括：

處理器；

用于存儲處理器可執行指令的存儲器；

其中，所述處理器被配置為：執行權利要求1或2所述的方法。

6.一種存儲介質，該存儲介質中存儲有計算機可讀的程序指令，其特征在于，所述程序指令被處理器執行時實現權利要求1或2所述的方法。