[發(fā)明專利]耐久性分析中相對小裂紋擴(kuò)展速率的計(jì)算方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010964915.X | 申請日: | 2020-09-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112329195B | 公開(公告)日: | 2023-05-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 賀小帆;左冉東 | 申請(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06F30/20 | 分類號(hào): | G06F30/20;G06F30/15;G06F119/04 |
| 代理公司: | 北京集智東方知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11578 | 代理人: | 關(guān)兆輝 |
| 地址: | 100191*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 耐久性 分析 相對 裂紋 擴(kuò)展 速率 計(jì)算方法 | ||
本發(fā)明提供的一種耐久性分析中相對小裂紋擴(kuò)展速率的計(jì)算方法,包括:利用da/dN=Qasupgt;b/supgt;計(jì)算相對小裂紋擴(kuò)展速率,其中,a為裂紋長度,N為應(yīng)力循環(huán)次數(shù),R為應(yīng)力比,σ為峰值應(yīng)力,Ysubgt;0/subgt;為應(yīng)力強(qiáng)度因子修正系數(shù),C、n為用Paris公式表征的裂紋穩(wěn)定擴(kuò)展段的擴(kuò)展參數(shù)。基于應(yīng)力強(qiáng)度因子近似解確定相對小裂紋尺寸上界asubgt;u/subgt;,當(dāng)裂紋尺寸小于asubgt;u/subgt;時(shí)定義為相對小裂紋,基于該標(biāo)準(zhǔn)利用上述公式計(jì)算裂紋擴(kuò)展速率,操作方便。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及疲勞試驗(yàn)的技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及耐久性分析中相對小裂紋擴(kuò)展速率的計(jì)算方法。
背景技術(shù)
概率斷裂力學(xué)方法是一種有效的耐久性分析方法,該方法基于描述結(jié)構(gòu)原始疲勞質(zhì)量的當(dāng)量初始缺陷尺寸(EIFS)分布給出損傷度隨時(shí)間變化的函數(shù)關(guān)系,進(jìn)而依據(jù)指定的損傷度要求預(yù)測結(jié)構(gòu)的經(jīng)濟(jì)壽命,因而備受關(guān)注。在該方法中,原始疲勞質(zhì)量和使用期裂紋擴(kuò)展控制曲線(SCGMC)的確定都基于結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)相對小裂紋擴(kuò)展速率公式的建立,因此相對小裂紋擴(kuò)展速率公式的研究非常重要。
按幾何尺寸不同,疲勞裂紋可分為小裂紋和長裂紋,一般而言,小裂紋是指裂紋長度小于幾百微米的裂紋,而長裂紋則是指長于?2mm的裂紋。結(jié)構(gòu)耐久性分析對應(yīng)的裂紋長度往往是小于等于工程可檢裂紋尺寸的裂紋,其長度一般在0.1-1.2mm范圍,通常稱為相對小裂紋。
Yang?J?N在進(jìn)行飛機(jī)結(jié)構(gòu)耐久性分析時(shí),首次采用式(1)描述相對小裂紋擴(kuò)展速率,并采用該式確定EIFS分布。Gallagher?J?P等人基于角裂紋擴(kuò)展行數(shù)據(jù)分析,驗(yàn)證了式(1)的有效性。Hoeppner?D?W[14]通過對大量裂紋擴(kuò)展模型的對比分析,也指出了式(1)的有效性。
da/dN=Qab????????????????(1)
該公式在概率斷裂力學(xué)方法中具有非常重要的作用,盡管大量的試驗(yàn)數(shù)據(jù)已經(jīng)證明了式(1)的有效性,但仍存在如下問題:
1)該公式的適用范圍不明確,相對小裂紋尺寸范圍與細(xì)節(jié)幾何尺寸有關(guān),而目前缺乏統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)明確該范圍;
2)式(1)中參數(shù)的確定必須基于大量的耐久性試驗(yàn),與試驗(yàn)的具體情況有關(guān)。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題
本發(fā)明的目的是提供耐久性分析中相對小裂紋擴(kuò)展速率的計(jì)算方法,以解決上文提到的問題。
(二)技術(shù)方案
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種耐久性分析中相對小裂紋擴(kuò)展速率的計(jì)算方法,其包括:
利用da/dN=Qab計(jì)算相對小裂紋擴(kuò)展速率,其中,a為裂紋長度,N為應(yīng)力循環(huán)次數(shù),?R為應(yīng)力比,σ為峰值應(yīng)力,Y為應(yīng)力強(qiáng)度因子修正系數(shù),C、n為用?Paris公式表征的裂紋穩(wěn)定擴(kuò)展段的擴(kuò)展參數(shù)。
在一些實(shí)施例中,優(yōu)選為,在所述利用da/dN=Qab計(jì)算相對小裂紋擴(kuò)展速率之前,所述耐久性分析中相對小裂紋擴(kuò)展速率的計(jì)算方法還包括:
利用應(yīng)力強(qiáng)度因子近似解確定相對小裂紋尺寸上界au;
當(dāng)a<au時(shí),利用da/dN=Qab計(jì)算相對小裂紋擴(kuò)展速率。
在一些實(shí)施例中,優(yōu)選為,所述au的確定方法包括:基于應(yīng)力強(qiáng)度因子近似解模擬裂紋擴(kuò)展并獲得a-Y曲線,按工程許用誤差±5%確定au和Y0。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京航空航天大學(xué),未經(jīng)北京航空航天大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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