[發(fā)明專利]一種基于改進(jìn)生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)的鋁板電渦流檢測圖像缺陷分割方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010964423.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112215803B | 公開(公告)日: | 2022-07-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 葉波;張琦;羅思琦;曹弘貴 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 昆明理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06N3/04;G06K9/62;G06V10/774 |
| 代理公司: | 昆明明潤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 53215 | 代理人: | 王鵬飛 |
| 地址: | 650093 云*** | 國省代碼: | 云南;53 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 改進(jìn) 生成 對(duì)抗 網(wǎng)絡(luò) 鋁板電 渦流 檢測 圖像 缺陷 分割 方法 | ||
1.一種基于改進(jìn)生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)的鋁板電渦流檢測圖像缺陷分割方法,其特征在于:
Step1:獲取鋁板電渦流檢測圖像,并對(duì)圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)擴(kuò)充,選擇其中部分?jǐn)?shù)據(jù)集作為訓(xùn)練集,其余作為做測試集,每一張圖像都對(duì)應(yīng)一張手工標(biāo)注的語義分割標(biāo)簽;
Step2:構(gòu)建生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò),生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)包括生成器和判別器兩個(gè)部分,生成器通過學(xué)習(xí)訓(xùn)練集的數(shù)據(jù)分布得到鋁板電渦流檢測圖像的分割圖像,判別器通過學(xué)習(xí)輸入真假樣本對(duì)之間的分布差異對(duì)其進(jìn)行二分類;真樣本對(duì)由鋁板渦流圖像與通過標(biāo)注軟件得到的手工標(biāo)注缺陷的鋁板渦流圖像組成,假樣本對(duì)由生成器分割圖像與鋁板渦流圖像組成;
采用注意力機(jī)制,考慮到生成器特征圖的信息整合方式未考慮到整合時(shí)的權(quán)重分布問題,通過注意力機(jī)制調(diào)整不同尺寸卷積層的特征圖權(quán)重,提高圖像特征信息的利用,增強(qiáng)目標(biāo)特征并抑制背景特征,使得生成器能夠充分學(xué)習(xí)到缺陷圖像的特征分布,提高模型的分割精度;
注意力機(jī)制通過注意力權(quán)重0≤αi≤1來識(shí)別鋁板渦流缺陷圖像缺陷特征的顯著性區(qū)域,注意力權(quán)重由包含豐富語義信息的高級(jí)特征圖和包含全局上下文信息的低級(jí)特征圖得到,計(jì)算公式如下:
其中,和分別為第i層低級(jí)特征圖和高級(jí)特征圖,Wx、Wg和Ψ為1×1卷積操作,bg和bψ為卷積的偏置項(xiàng),通過1×1卷積操作,可以有效減少參數(shù)數(shù)量,降低模型計(jì)算復(fù)雜度,σ1為ReLU激活函數(shù),σ2為Sigmoid激活函數(shù),通過Sigmoid激活函數(shù)將注意力權(quán)重歸一化至[0,1],輸出是輸入低級(jí)特征圖與注意力權(quán)重的乘積:
Step3:設(shè)計(jì)生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)的損失函數(shù),對(duì)模型進(jìn)行訓(xùn)練,
生成器G從鋁板渦流檢測圖像x學(xué)習(xí)到標(biāo)簽圖像y的映射,然后,判別器D對(duì)真假樣本進(jìn)行二進(jìn)制分類,其中真樣本對(duì)由鋁板渦流檢測圖像與標(biāo)簽圖像構(gòu)成,假樣本對(duì)由鋁板渦流檢測圖像與生成的分割圖像G(x)構(gòu)成假樣本對(duì),訓(xùn)練模型是最小化交叉熵的過程,對(duì)分割問題GAN的目標(biāo)函數(shù)可以表述為:
LGAN(G,D)=Ex,y~pdata(x,y)[logD(x,y)]+Ex~pdata(x)[log(1-D(x,G(x)))]
人工標(biāo)簽與生成器生成的分割圖像之間距離的損失函數(shù)采用二元交叉熵的形式,人工標(biāo)簽與生成器分割的缺陷圖像的分割損失表示為:
LSEG(G)=Ex,y~pdata(x,y)-y·log(G(x))-(1-y)·log(1-G(x))
模型總的損失函數(shù)可以表示為:
G*=arg min[maxLGAN(G,D)]+LSEG(G)。
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