[發(fā)明專(zhuān)利]痘痘檢測(cè)設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010964114.3
• 申請(qǐng)日: 2020-09-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112200772A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-01-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳仿雄
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 深圳數(shù)聯(lián)天下智能科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06T7/00
• 分類(lèi)號(hào): G06T7/00;G06K9/62
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種痘痘檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括存儲(chǔ)器以及一個(gè)或多個(gè)處理器，所述一個(gè)或多個(gè)處理器用于執(zhí)行存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中的與痘痘識(shí)別模型對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序，所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模型包含卷積模塊、一級(jí)標(biāo)簽?zāi)K及二級(jí)標(biāo)簽?zāi)K，所述一級(jí)標(biāo)簽?zāi)K及所述二級(jí)標(biāo)簽?zāi)K分別與所述卷積模塊連接，所述卷積模塊用于對(duì)輸入所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模型的痘痘圖像進(jìn)行卷積處理，得到第一特征圖像，所述第一特征圖像用于輸入所述一級(jí)標(biāo)簽?zāi)K及輸入所述二級(jí)標(biāo)簽?zāi)K，所述一級(jí)標(biāo)簽?zāi)K用于根據(jù)輸入的第一特征圖像輸出第一預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)，所述第一預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)用于指示所述痘痘圖像屬于各一級(jí)標(biāo)簽的可能性，所述一級(jí)標(biāo)簽是與痘痘分類(lèi)組合具有一對(duì)一關(guān)系的標(biāo)簽，所述痘痘分類(lèi)組合是按照特征相似度劃分的，且一個(gè)所述痘痘分類(lèi)組合包含至少兩個(gè)特征相似度滿(mǎn)足預(yù)設(shè)條件的痘痘類(lèi)型，所述二級(jí)標(biāo)簽?zāi)K用于根據(jù)輸入的第一特征圖像輸出第二預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)，所述第二預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)用于指示所述痘痘圖像屬于各二級(jí)標(biāo)簽的可能性，所述二級(jí)標(biāo)簽是與痘痘類(lèi)型具有一對(duì)一關(guān)系的標(biāo)簽；所述一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序被存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中；所述一個(gè)或多個(gè)處理器在執(zhí)行所述一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序時(shí)，使得所述痘痘檢測(cè)設(shè)備執(zhí)行如下步驟：

獲取痘痘樣本數(shù)據(jù)集，所述痘痘樣本數(shù)據(jù)集中包含痘痘圖像、所述痘痘圖像的一級(jí)標(biāo)簽及二級(jí)標(biāo)簽；

利用所述痘痘圖像對(duì)預(yù)設(shè)的痘痘類(lèi)型識(shí)別模型進(jìn)行迭代訓(xùn)練，直至基于所述第一預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)、所述第二預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)、所述痘痘圖像的一級(jí)標(biāo)簽及二級(jí)標(biāo)簽確定所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模型收斂。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述處理器在執(zhí)行所述利用所述痘痘圖像對(duì)預(yù)設(shè)的痘痘類(lèi)型識(shí)別模型進(jìn)行迭代訓(xùn)練，直至基于所述第一預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)、所述第二預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)、所述痘痘圖像的一級(jí)標(biāo)簽及二級(jí)標(biāo)簽確定所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模型收斂的步驟的過(guò)程中，具體執(zhí)行如下步驟：

將所述痘痘圖像輸入至所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模型的卷積模塊中；

獲取所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模塊中所述一級(jí)標(biāo)簽?zāi)K輸出的所述第一預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)，及獲取所述二級(jí)標(biāo)簽?zāi)K輸出的所述第二預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述第一預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)、所述第二預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)、所述痘痘圖像的一級(jí)標(biāo)簽及二級(jí)標(biāo)簽，確定所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模型是否收斂；

若收斂，則確定收斂后的痘痘類(lèi)型識(shí)別模型為訓(xùn)練完成后的痘痘類(lèi)型識(shí)別模型；

若未收斂，則對(duì)所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模型進(jìn)行參數(shù)優(yōu)化，并返回執(zhí)行所述將所述痘痘圖像輸入至所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模型的卷積模塊中的步驟。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的設(shè)備，其特征在于，所述處理器在執(zhí)行所述根據(jù)所述第一預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)、所述第二預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)、所述痘痘圖像的一級(jí)標(biāo)簽及二級(jí)標(biāo)簽，確定所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模型是否收斂的步驟的過(guò)程中，具體執(zhí)行如下步驟：

利用所述第一預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)及所述痘痘圖像的一級(jí)標(biāo)簽，得到第一損失值，利用所述第二預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)及所述痘痘圖像的二級(jí)標(biāo)簽，得到第二損失值；

根據(jù)所述第一損失值及所述第二損失值確定所述痘痘類(lèi)型識(shí)別模型是否收斂。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的設(shè)備，其特征在于，所述處理器在執(zhí)行所述利用所述第一預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)及所述痘痘圖像的一級(jí)標(biāo)簽，得到第一損失值，利用所述第二預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)及所述痘痘圖像的二級(jí)標(biāo)簽，得到第二損失值的步驟的過(guò)程中，具體執(zhí)行如下步驟：

將所述一級(jí)標(biāo)簽及所述二級(jí)標(biāo)簽分別轉(zhuǎn)換成one-hot類(lèi)型的標(biāo)簽，得到一級(jí)one-hot標(biāo)簽及二級(jí)one-hot標(biāo)簽；

利用所述第一預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)及所述一級(jí)one-hot標(biāo)簽得到所述第一損失值，利用所述第二預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)及所述二級(jí)one-hot標(biāo)簽得到所述第二損失值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述處理器在執(zhí)行所述利用所述痘痘圖像對(duì)預(yù)設(shè)的痘痘類(lèi)型識(shí)別模型進(jìn)行訓(xùn)練，得到訓(xùn)練后的痘痘類(lèi)型識(shí)別模型的步驟之前，還用于執(zhí)行如下步驟：

獲取所述痘痘樣本數(shù)據(jù)集中的最大像素值及最小像素值；

利用所述最大像素值及最小像素值，對(duì)所述痘痘樣本數(shù)據(jù)集中痘痘圖像包含的像素點(diǎn)的像素值進(jìn)行歸一化處理，得到優(yōu)化后的痘痘圖像。