[發明專利]檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的方法、裝置

在審

• 申請號: 202010955982.5
• 申請日: 2020-09-11
• 公開（公告）號: CN112082662A
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 李浩;耿榮鑫;尤立星;王鎮;謝曉明
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海微系統與信息技術研究所
• 主分類號: G01J11/00
• 分類號: G01J11/00;B82Y15/00
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 余明偉

1.一種檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的方法，其特征在于，所述方法包括：

提供超導納米線單光子探測器件，所述超導納米線單光子探測器件包括探測芯片，所述探測芯片與入射光纖相對準；

獲取所述探測芯片的圖像，所述圖像包括所述探測芯片的探測面的中心和入射到所述探測面上的所述入射光纖的光斑；

對所述圖像進行處理，獲取所述光斑的中心與所述探測面的中心之間的距離，以根據所述距離獲取所述入射光纖與所述探測芯片的對準結果。

2.根據權利要求1所述的檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的方法，其特征在于，獲取所述探測芯片的圖像的方法包括：

控制圖像采集部件拍攝位于顯微鏡視野中的所述探測芯片，獲取位于所述視野中的所述探測芯片的圖像。

3.根據權利要求1所述的檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的方法，其特征在于，獲取所述對準結果的方式包括：

判斷所述距離是否在預設數值范圍內；根據判斷結果，獲取所述對準結果。

4.根據權利要求1-3中任意一項所述的檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的方法，其特征在于，所述超導納米線單光子探測器件包括自對準超導納米線單光子探測器件，所述自對準超導納米線單光子探測器件包括芯片固定件，所述芯片固定件中設有安裝孔，所述探測芯片安裝在所述安裝孔中，所述入射光纖的光纖頭插設于所述安裝孔中。

5.根據權利要求4所述的檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的方法，其特征在于，所述安裝孔中還安裝有插芯，所述插芯與所述探測芯片的底面相對，所述底面與所述探測面為所述探測芯片的兩相對面。

6.根據權利要求5所述的檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的方法，其特征在于，所述插芯中設有觀察孔，所述探測面的中心線位于所述觀察孔中，基于所述觀察孔獲取所述探測芯片的圖像。

7.一種檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的裝置，其特征在于，所述裝置包括：

圖像采集部件，用于拍攝超導納米線單光子探測器件的探測芯片的圖像，所述圖像包括所述探測芯片的探測面的中心和入射到所述探測面上的入射光纖的光斑；

圖像處理部件，用于對所述圖像進行處理，獲取所述光斑的中心與所述探測面的中心之間的距離，以根據所述距離獲取所述自對準超導納米線單光子探測器件的對準結果。

8.根據權利要求7所述的檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的裝置，其特征在于，所述裝置還包括顯微鏡，所述顯微鏡用于放大所述探測芯片，所述圖像采集部件用于采集位于所述顯微鏡視野中的所述探測芯片的圖像。

9.根據權利要求7或8所述的檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的裝置，其特征在于，所述超導納米線單光子探測器件包括自對準超導納米線單光子探測器件，所述自對準超導納米線單光子探測器件包括芯片固定件及插芯，所述芯片固定件中設有安裝孔，所述探測芯片安裝在所述安裝孔中，所述入射光纖的光纖頭插設于所述安裝孔中，所述插芯安裝在所述安裝孔中，且所述插芯中設有觀察孔，所述探測面的中心線位于所述觀察孔中，所述插芯與所述探測芯片的底面相對，所述底面與所述探測面為所述探測芯片的兩相對面。

10.一種檢測超導納米線單光子探測器件對準結果的設備，其特征在于，所述設備包括：

至少一個處理器；以及

與所述處理器通信連接的存儲器；其中，

所述存儲器存儲有可被所述處理器執行的指令，所述指令被所述處理器執行，以使所述處理器能夠執行權利要求1-6中任一項所述的方法。

11.一種計算機存儲介質，其上存儲有計算機程序指令，其特征在于，當所述計算機程序指令被處理器執行時實現如權利要求1-6中任一項所述的方法。