[發明專利]分光檢測單元、粒子檢測裝置及方法有效
申請號: | 202010955276.0 | 申請日: | 2020-09-11 |
公開(公告)號: | CN112255206B | 公開(公告)日: | 2023-06-09 |
發明(設計)人: | 張艷微;鞏巖;郎松;王宏偉;胡慧杰 | 申請(專利權)人: | 中國科學院蘇州生物醫學工程技術研究所 |
主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G01N15/10;G01N21/03 |
代理公司: | 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250 | 代理人: | 張琳琳 |
地址: | 215163 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 分光 檢測 單元 粒子 裝置 方法 | ||
1.一種粒子檢測裝置,其特征在于,包括:
光源模塊、樣品池以及成像模塊,所述樣品池用于放置待測溶液;
物鏡,用于收集所述光源模塊發出的光經所述待測溶液中的粒子后射出的待檢測光;
分光組件,設置在所述物鏡與所述成像模塊之間;其中,所述分光組件包括至少一個分光檢測單元;所述分光組件用于將所述待檢測光分成至少兩組檢測光;
所述成像模塊,用于對所述至少兩組檢測光進行分別成像,以基于成像結果對所述待測溶液中粒子的運動軌跡進行匹配;
所述分光檢測單元包括:
半反半透件,用于將入射光線中的光譜分離,所述半反半透件的反射面用以將第一波長范圍的熒光反射至第一濾光片,所述半反半透件的透射面用以將第二波長范圍的熒光反射至第二濾光片,所述第一波長范圍的檢測光與第二波長范圍的檢測光分別對應于兩種不同的粒子,或者分別對應于同一粒子的不同物質;
第一濾光片,設置在所述半反半透件的反射光路上,用于濾除光源波長的光線以得到第一波長范圍的檢測光;
第二濾光片,設置在所述半反半透件的透射光路上,用于濾除光源波長的光線以得到第二波長范圍的檢測光。
2.根據權利要求1所述的粒子檢測裝置,其特征在于,所述半反半透件為二向色鏡。
3.根據權利要求1或2所述的粒子檢測裝置,其特征在于,所述分光檢測單元,還包括:
第三濾光片,設置在所述分光檢測單元的入射光路上,用于濾除預設波長范圍的光。
4.根據權利要求1所述的粒子檢測裝置,其特征在于,所述分光組件,還包括:
導軌單元,與所述至少一個分光檢測單元連接。
5.根據權利要求1或4所述的粒子檢測裝置,其特征在于,所述光源模塊,包括:
至少一個激光源;
光源調節單元,與所述激光源連接,用于調節所述激光源與所述物鏡的位置關系,以使得所述至少一個激光源發出的光聚焦在所述物鏡的觀測位置。
6.根據權利要求5所述的粒子檢測裝置,其特征在于,所述光源模塊,還包括:
鏡片組,具有與所述激光源一一對應的鏡片;其中,所述鏡片組用于將所述至少一個激光源發出的光合成一束光照射在所述樣品池上。
7.根據權利要求1所述的粒子檢測裝置,其特征在于,所述樣品池,包括:
進料口以及出料口;
照明窗口以及探測窗口,分別開設在所述樣品池兩個表面上,其中,所述照明窗口靠近所述光源模塊設置,所述探測窗口靠近所述物鏡設置。
8.一種粒子檢測方法,其特征在于,包括:
獲取權利要求1-7中任一項所述的粒子檢測裝置中的成像模塊對至少兩組檢測光分別進行成像得到的至少兩組成像圖像;
分別對所述至少兩組成像圖像進行分析,以確定各組所述成像圖像中粒子的運動軌跡;
對各組所述成像圖像中粒子的運動軌跡進行匹配,以得到所述待測溶液對應的檢測結果。
9.根據權利要求8所述的方法,其特征在于,所述對各組所述成像圖像中粒子的運動軌跡進行匹配,以得到所述待測溶液對應的檢測結果,包括:
在各組所述成像圖像中匹配出運動軌跡相同的粒子;
基于所述運動軌跡相同的粒子,確定所述待測溶液對應的檢測結果。
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