[發明專利]一種測量微小材料樣本多頻點介電常數的裝置與方法

有效

• 申請號: 202010953534.1
• 申請日: 2020-09-11
• 公開（公告）號: CN112083233B
• 公開（公告）日: 2021-12-31
• 發明（設計）人: 王彬;徐徹;蒙林;殷勇;李海龍;袁學松;張平
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01R1/04
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 李朝虎

1.一種測量微小材料樣本多頻點介電常數的裝置，其特征在于，包括高頻諧振結構，所述高頻諧振結構包括螺孔(5)和進出口(1)，所述進出口(1)用于放入或取出微擾體(3)，所述螺孔(5)用于螺紋連接調諧螺釘，所述高頻諧振結構用于測量所述微擾體(3)的介電常數，所述調諧螺釘用于改變高頻諧振結構的工作頻率點；

所述高頻諧振結構為諧振腔(2)，所述高頻諧振結構工作頻率點在30GHz~300GHz范圍內；

所述高頻諧振結構為長方體結構；

所述高頻諧振結構包括兩個腔體，分別為樣本腔體和波導腔體，兩個腔體之間隔開，且兩個腔體之間通過矩形窗連通；

所述樣本腔體用于放置微擾體(3)，所述波導腔體用于傳導輸入輸出波導(4)。

2.根據權利要求1所述的一種測量微小材料樣本多頻點介電常數的裝置，其特征在于，所述樣本腔體包括設置在一端的螺孔(5)，還包括進出口(1)，所述螺孔(5)和所述進出口(1)均為打通樣本腔體側面的孔洞結構，其中所述螺孔(5)的內部內側有配合所述調諧螺釘的內螺紋。

3.根據權利要求2所述的一種測量微小材料樣本多頻點介電常數的裝置，其特征在于，包括多個螺孔(5)和多個進出口(1)。