[發(fā)明專利]電容筆、電容筆的筆尖以及電容筆筆尖的磨損檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010952562.1
• 申請(qǐng)日: 2020-09-11
• 公開（公告）號(hào): CN112162647B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 肖棟林
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: OPPO（重慶）智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F3/0354
• 分類號(hào): G06F3/0354;G01N21/95
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 仝麗

本申請(qǐng)公開了一種電容筆、電容筆的筆尖以及電容筆筆尖的磨損檢測(cè)方法，屬于電容筆技術(shù)領(lǐng)域。所述電容筆包括：筆身、筆尖、光線傳感器和處理器；筆尖與筆身連接，筆尖包括不透光的第一殼體，筆身包括不透光的第二殼體，其中，第一殼體遠(yuǎn)離第二殼體的一端的內(nèi)側(cè)依次設(shè)置有透光層和金屬筆芯，透光層位于第一殼體和金屬筆芯之間；光線傳感器設(shè)置于由第一殼體和第二殼體共同形成的腔體空間內(nèi)，用于測(cè)量腔體空間內(nèi)的光線的光強(qiáng)，并將測(cè)得的光強(qiáng)傳遞至處理器；處理器用于在光線傳感器測(cè)得的光強(qiáng)大于預(yù)設(shè)光強(qiáng)閾值的情況下，輸出筆尖磨損信息。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的技術(shù)方案能夠提高檢測(cè)電容筆筆尖的殼體的磨損情況的準(zhǔn)確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及電容筆技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種電容筆、電容筆的筆尖以及電容筆筆尖的磨損檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

當(dāng)前，觸控筆在人們的生活中已經(jīng)越來越常見了，觸控筆是一種用來對(duì)具有觸摸屏的觸控電子設(shè)備進(jìn)行觸控操作的筆形工具。在實(shí)際應(yīng)用中，許多觸控筆都具有導(dǎo)電特性，可以向觸控電子設(shè)備傳遞電信號(hào)，這類型的觸控筆也可以被稱為電容筆。通常情況下，電容筆的筆尖可以包括用來傳遞電信號(hào)的金屬筆芯，同時(shí)，電容筆的筆尖還可以包括包覆該金屬筆芯的殼體，該殼體可以避免金屬筆芯裸露在外，從而可以起到防止金屬筆芯劃傷觸摸屏的目的。然而，隨著電容筆的使用，筆尖包括的殼體很有可能磨損而導(dǎo)致金屬筆芯露出，這會(huì)帶來觸摸屏被劃傷的風(fēng)險(xiǎn)。

目前對(duì)電容筆筆尖的殼體的磨損情況缺乏有效的檢測(cè)手段，更多依賴于用戶自行觀察，從而判斷是否需要更換筆尖。然而，由用戶自行觀察的方式準(zhǔn)確性較差。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種電容筆、電容筆的筆尖以及電容筆筆尖的磨損檢測(cè)方法，可以提高檢測(cè)電容筆筆尖的殼體的磨損情況的準(zhǔn)確性。

第一方面，提供了一種電容筆，該電容筆包括筆身、筆尖、光線傳感器和處理器；

該筆尖與該筆身連接，該筆尖包括不透光的第一殼體，該筆身包括不透光的第二殼體，其中，該第一殼體遠(yuǎn)離該第二殼體的一端的內(nèi)側(cè)依次設(shè)置有透光層和金屬筆芯，該透光層位于該第一殼體和該金屬筆芯之間；該光線傳感器設(shè)置于由該第一殼體和該第二殼體共同形成的腔體空間內(nèi)，用于測(cè)量該腔體空間內(nèi)的光線的光強(qiáng)，并將測(cè)得的光強(qiáng)傳遞至該處理器；該處理器用于在該光線傳感器測(cè)得的光強(qiáng)大于預(yù)設(shè)光強(qiáng)閾值的情況下，輸出筆尖磨損信息。

第二方面，提供了一種電容筆的筆尖，該筆尖包括不透光的第一殼體，其中，該第一殼體遠(yuǎn)離筆身安裝部的一端的內(nèi)側(cè)依次設(shè)置有透光層和金屬筆芯，該透光層位于該第一殼體和該金屬筆芯之間；該筆身安裝部設(shè)置于該筆尖的一端，用于連接該電容筆的筆身。

第三方面，提供了一種電容筆筆尖的磨損檢測(cè)方法，用于上述第一方面所述的電容筆中，該方法包括：

對(duì)該電容筆的腔體空間內(nèi)的光線的光強(qiáng)進(jìn)行檢測(cè)，其中，該腔體空間為由該電容筆的筆身包括的第二殼體和該電容筆的筆尖包括的第一殼體共同形成的空間，其中，該第一殼體遠(yuǎn)離該第二殼體的一端的內(nèi)側(cè)依次設(shè)置有透光層和金屬筆芯，該透光層位于該第一殼體和該金屬筆芯之間；若測(cè)得的光強(qiáng)大于預(yù)設(shè)光強(qiáng)閾值，則輸出筆尖磨損信息。

第四方面，提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述第三方面所述的電容筆筆尖的磨損檢測(cè)方法。

本申請(qǐng)實(shí)施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果至少包括：