[發(fā)明專利]一種軟件調(diào)試方法和電子設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010949710.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114168447A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-03-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 魏可鑫;董鑫;林志強(qiáng);胡紹平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華為技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京匯思誠(chéng)業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11444 | 代理人: | 周放 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 軟件 調(diào)試 方法 電子設(shè)備 | ||
1.一種軟件調(diào)試方法,其特征在于,包括:
確定待測(cè)試程序的待測(cè)試變量,所述待測(cè)試變量包括具備關(guān)聯(lián)關(guān)系的自變量以及因變量;
數(shù)據(jù)采集,包括,在所述待測(cè)試程序運(yùn)行過(guò)程中,記錄所述自變量以及所述因變量的值的連續(xù)變化,獲取記錄數(shù)據(jù)集,根據(jù)所述記錄數(shù)據(jù)集生成訓(xùn)練數(shù)據(jù)集;
模型訓(xùn)練,包括,基于所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集訓(xùn)練計(jì)算機(jī)學(xué)習(xí)模型,擬合測(cè)試用回歸模型,其中,所述測(cè)試用回歸模型用于體現(xiàn)所述自變量與所述因變量間的關(guān)聯(lián)關(guān)系,在模型訓(xùn)練過(guò)程中,模型輸入項(xiàng)為所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中的自變量的值,模型輸出項(xiàng)為所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中的因變量的值;
異常點(diǎn)定位,包括,將所述待測(cè)試程序運(yùn)行過(guò)程中所述自變量的值輸入到所述測(cè)試用回歸模型,對(duì)比所述測(cè)試用回歸模型的輸出以及所述待測(cè)試程序運(yùn)行過(guò)程中所述因變量的值,確定所述待測(cè)試程序運(yùn)行過(guò)程中的數(shù)據(jù)異常點(diǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述數(shù)據(jù)采集,包括:
重復(fù)運(yùn)行所述待測(cè)試程序,當(dāng)所述待測(cè)試程序的運(yùn)行次數(shù)滿足預(yù)設(shè)次數(shù)或者所述記錄數(shù)據(jù)集中的記錄數(shù)滿足預(yù)設(shè)記錄數(shù)時(shí),停止運(yùn)行所述待測(cè)試程序,根據(jù)所述記錄數(shù)據(jù)集生成訓(xùn)練數(shù)據(jù)集。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述數(shù)據(jù)采集,包括:
重復(fù)運(yùn)行所述待測(cè)試程序,當(dāng)所述待測(cè)試程序的運(yùn)行次數(shù)滿足預(yù)設(shè)次數(shù)或者所述記錄數(shù)據(jù)集中的記錄數(shù)滿足預(yù)設(shè)記錄數(shù)時(shí),輸出數(shù)據(jù)采集完成提示;
當(dāng)數(shù)據(jù)采集被關(guān)閉或者軟件調(diào)試被啟動(dòng)時(shí),停止運(yùn)行所述待測(cè)試程序,根據(jù)所述記錄數(shù)據(jù)集生成訓(xùn)練數(shù)據(jù)集。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:
所述數(shù)據(jù)采集,包括:運(yùn)行所述待測(cè)試程序,記錄所述自變量以及所述因變量的值的連續(xù)變化,獲取第一記錄數(shù)據(jù)集,將所述第一記錄數(shù)據(jù)集作為所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集;
所述異常點(diǎn)定位,包括:
所述數(shù)據(jù)采集,包括:運(yùn)行所述待測(cè)試程序,記錄所述自變量以及所述因變量的值的連續(xù)變化,獲取第二記錄數(shù)據(jù)集,將所述第二記錄數(shù)據(jù)集作為所述測(cè)試數(shù)據(jù)集;
將所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中所述自變量的值輸入到所述測(cè)試用回歸模型,對(duì)比所述測(cè)試用回歸模型的輸出以及所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中所述因變量的值,確定所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中的數(shù)據(jù)異常點(diǎn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:
所述數(shù)據(jù)采集,包括:運(yùn)行所述待測(cè)試程序,記錄所述自變量以及所述因變量的值的連續(xù)變化,獲取所述記錄數(shù)據(jù)集;將所述記錄數(shù)據(jù)集分割為所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集以及測(cè)試數(shù)據(jù)集;
所述異常點(diǎn)定位,包括,將所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中所述自變量的值輸入到所述測(cè)試用回歸模型,對(duì)比所述測(cè)試用回歸模型的輸出以及所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中所述因變量的值,確定所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中的數(shù)據(jù)異常點(diǎn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述模型訓(xùn)練,包括:
調(diào)用機(jī)器學(xué)習(xí)模型庫(kù)中的一個(gè)未調(diào)用過(guò)的機(jī)器學(xué)習(xí)模型:
基于所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集訓(xùn)練所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型,以擬合備選測(cè)試用回歸模型;
將所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中的自變量的值作為輸入項(xiàng)輸入所述備選測(cè)試用回歸模型,以獲取所述備選測(cè)試用回歸模型的輸出;
計(jì)算所述備選測(cè)試用回歸模型的輸出,與所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中的因變量的值之間的相似度;
當(dāng)所述備選測(cè)試用回歸模型的輸出,與所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中的因變量的值之間的相似度大于等于預(yù)設(shè)相似度閾值時(shí),將所述備選測(cè)試用回歸模型作為所述測(cè)試用回歸模型。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述模型訓(xùn)練,包括:
調(diào)用機(jī)器學(xué)習(xí)模型庫(kù)中的機(jī)器學(xué)習(xí)模型:
基于所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集,分別訓(xùn)練所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型庫(kù)中的每一個(gè)機(jī)器學(xué)習(xí)模型,以擬合多個(gè)備選測(cè)試用回歸模型;
將所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中的自變量的值作為輸入項(xiàng)分別輸入每一個(gè)所述備選測(cè)試用回歸模型,以獲取每一個(gè)所述備選測(cè)試用回歸模型的輸出;
計(jì)算每一個(gè)所述備選測(cè)試用回歸模型的輸出,與所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中的因變量的值之間的相似度,獲取相似度數(shù)組;
當(dāng)所述相似度數(shù)組中的最大相似度值大于等于預(yù)設(shè)相似度閾值時(shí),將所述最大相似度值對(duì)應(yīng)的所述備選測(cè)試用回歸模型作為所述測(cè)試用回歸模型。
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G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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