[發明專利]一種擴展的分布式級聯抗輻照波控控制電路

有效

• 申請號: 202010948670.1
• 申請日: 2020-09-10
• 公開（公告）號: CN112162504B
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 宋云霞;陳之濤;宣浩;段玲琳;胡進忠;錢小東;張宏財
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第三十八研究所
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042;G01R31/317
• 代理公司: 合肥昊晟德專利代理事務所(普通合伙) 34153
• 代理人: 王林

1.一種擴展的分布式級聯抗輻照波控控制電路，其特征在于：包括一級波控單元、二級波控單元，所述一級波控單元包括第一差分接收模塊、第一差分驅動模塊、第一數據幀提取模塊、第一數據幀校驗模塊、第一數據幀分解模塊、第一延時數據處理模塊、二級波控單元數據處理模塊、第一遙測數據模塊，所述二級波控單元包括第二差分接收模塊、第二差分驅動模塊、第二數據幀提取模塊、第二數據幀校驗模塊、第二數據幀分解模塊、組件數據處理模塊、組件時序處理模塊、第二遙測數據模塊；

所述第一差分接收模塊與所述第二差分接收模塊，用于將差分信號轉換為TTL信號；

所述第一差分驅動模塊與所述第二差分驅動模塊，用于將TTL信號轉換為差分信號；

所述第一數據幀提取模塊，用于提取來自波束控制器的大數據幀；

所述第一數據幀校驗模塊，用于對所述第一數據幀提取模塊提取的大數據幀進行校驗，記錄校驗結果；

所述第一數據幀分解模塊，用于將大數據幀分解為延時數據和二級波控單元數據；

所述第一延時數據處理模塊，用于發送延時數據；

所述二級波控單元數據處理模塊，用于發送二級波控單元數據；

所述第一遙測數據模塊，用于收集所控二級波控單元的遙測碼、所述第一數據幀校驗模塊的大數據幀校驗結果并發送給波束控制器；

所述第二數據幀提取模塊，用于接收來自所述一級波控單元的大數據幀，并根據地址控制位從大數據幀中提取相應所述二級波控單元的小數據幀；

所述第二數據幀校驗模塊，用于對所述第二數據幀提取模塊提取的小數據幀進行校驗，記錄校驗結果；

所述第二數據幀分解模塊，用于將小數據幀分解為組件波控碼和組件時序；

所述組件數據處理模塊，用于發送所述第二數據幀分解模塊分解的組件波控碼；

所述組件時序處理模塊，用于將所述第二數據幀分解模塊分解的組件時序進行時序組合邏輯判斷，當時序組合邏輯判斷正確則輸出時序給組件，當時序組合邏輯判斷錯誤則將當前時序強制轉換為負載態再輸出時序給組件；

所述第二遙測數據模塊，用于收集所控組件的BIT信號、所述二級波控單元的小數據幀校驗結果并發送給所述一級波控單元。

2.根據權利要求1所述的一種擴展的分布式級聯抗輻照波控控制電路，其特征在于：所述二級波控單元的數量為多個，多個所述二級波控單元與所述一級波控單元級聯。

3.根據權利要求2所述的一種擴展的分布式級聯抗輻照波控控制電路，其特征在于：所述第一數據幀提取模塊從波束控制器串行接收數據，完成串并轉換后接收大數據幀。

4.根據權利要求3所述的一種擴展的分布式級聯抗輻照波控控制電路，其特征在于：所述第一數據幀提取模塊提取的大數據幀包括延時的數據、多個所述二級波控單元的數據、校驗位，其中所述校驗位為波束控制器通過和校驗方式產生。

5.根據權利要求4所述的一種擴展的分布式級聯抗輻照波控控制電路，其特征在于：所述第一數據幀校驗模塊采用和校驗方式，將大數據幀數據依次進行疊加，將疊加結果與校驗位進行比較，相等則校驗結果為1，否則校驗結果為0，再將校驗結果發送給所述第一遙測數據模塊處理。

6.根據權利要求5所述的一種擴展的分布式級聯抗輻照波控控制電路，其特征在于：所述第一數據幀分解模塊在對大數據幀進行分解時，截取大數據幀相應位作為延時數據，其中延時數據包括延時時序和延時波控碼，同時截取大數據幀相應位作為多個二級波控單元數據。

7.根據權利要求6所述的一種擴展的分布式級聯抗輻照波控控制電路，其特征在于：所述第二數據幀提取模塊接收所述一級波控單元發送的多個二級波控單元的大數據幀，每個二級波控單元根據地址控制位截取小數據幀，其中每個二級波控單元的小數據幀包括多個組件的波控碼、多個組件的時序、校驗位。