[發明專利]一種TR組件測試用的固定裝置

在審

• 申請號: 202010946000.6
• 申請日: 2020-09-10
• 公開（公告）號: CN112285660A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 楊子森;高瞻;雷恒寧
• 申請（專利權）人: 北京無線電測量研究所
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40;G01R31/01;G01R1/04;H05K7/20
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 付生輝

本發明提供一種TR組件測試用的固定裝置，所述固定裝置包括：散熱底座，其上可放置待測TR組件；調節機構，所述調節機構包括限位組件和壓緊組件；所述限位組件在所述散熱底座上形成可在水平X軸方向調節尺寸的固定區域，通過所述固定區域固定所述待測TR組件；所述壓緊組件可在豎直Z軸方向調節高度，并且按壓在所述待測TR組件上；本發明提供的固定裝置，能夠實現多種TR組件尺寸規格通用，采用的散熱底座與TR組件直接接觸的方式，為TR組件提供了測試平臺，且在測試時起到了有效的散熱效果，進一步的，采用的調節機構與散熱底座在水平和豎直方向上配合固定TR組件，使TR組件與散熱底座能夠緊密接觸，滿足TR組件在測試時快速散熱需求。

技術領域

本發明涉及機械結構設計領域，更具體的，涉及一種TR組件測試用的固定裝置。

背景技術

為了提高分辨率和多目標檢測，現在雷達往往采用有源相控陣雷達(ActivePhased AraryRadar,APAR)。有源相控陣雷達外部為天線陣列，內部的每個陣列單元可以獨立完成信號的放大移相等功能，射頻信號經天線發射，所合成的波束就可以朝指定方向進行電子掃描，完成雷達的搜索、跟蹤和測量任務。而完成每一個輻射單元的信號發射和回波信號接收的單元叫做TR(Transmit and Receive)組件。

有源相控陣雷達中的每個天線單元上均有一個TR組件，一個TR組件就是一個雷達的發射/接收前端。組件中的發射信號功率放大器和噪聲接收放大器均與天線輻射單元直接相連。每個有源相控陣雷達由成千上萬個TR組件組成，TR組件在批量生產時數量大、種類多、生產工期緊張；而且TR組件發熱元器件較多，在測試時有散熱需求。

目前常用的測試裝置大多通過螺釘來固定，這種固定方式在批量測試時效率低下，而且測試裝置基本只針對某一型號尺寸的TR組件，難以實現通用化，當型號尺寸改變時需要重新設計加工一種滿足該特定型號尺寸的測試裝置，不僅增加了生產成本，還增加了測試周期。

發明內容

為了解決上述問題中的至少一個，本發明提供一種TR組件測試用的固定裝置，所述固定裝置包括：

散熱底座，其上可放置待測TR組件；調節機構，所述調節機構包括限位組件和壓緊組件；所述限位組件在所述散熱底座上形成可在水平X軸方向調節尺寸的固定區域，通過所述固定區域固定所述待測TR組件；所述壓緊組件可在豎直Z軸方向調節高度，并且按壓在所述待測TR組件上。

在某些實施方式中，所述散熱底座包括：散熱板，所述散熱板的一側上放置所述待測TR組件；散熱片，設于所述散熱板的另一側面表面上。

在某些實施方式中，所述限位組件包括：位于所述散熱底座上的多個壓塊，每個壓塊包括可供螺栓插入的通孔；所述散熱底座上形成有與所述壓塊通過螺栓配合并沿X軸方向設置的槽體，進而可通過調節螺栓的預緊力使所述壓塊在所述槽體上滑動或固定。

在某些實施方式中，所述壓緊組件包括：壓緊部以及調節部；所述壓緊部按壓在所述待測TR組件上，并可通過撥動所述調節部調節所述按壓部的高度。

在某些實施方式中，所述壓緊組件進一步包括：固定部，所述固定部結合固定在所述限位組件上，所述壓緊部和所述調節部均樞接在所述固定部上。

在某些實施方式中，所述壓緊部包括按壓所述待測TR組件的按壓端和與所述調節部共同樞接于相同轉動齒輪上的受力端，所述調節部撥動時通過所述轉動齒輪使所述按壓端樞轉，進而調節所述按壓端的高度。

在某些實施方式中，所述壓緊部包括按壓所述待測TR組件的按壓端和與所述調節部共同樞接于相同轉動軸上的受力端，所述轉動軸上設有復位彈簧，所述調節部撥動時通過所述轉動軸使所述按壓端樞轉，進而調節所述按壓端的高度，所述按壓端在所述復位彈簧的預緊力下使所述待測TR組件在所述豎直Z軸上固定。