[發明專利]孤石探測方法、裝置、終端設備以及存儲介質

在審

• 申請號: 202010944271.8
• 申請日: 2020-09-09
• 公開（公告）號: CN112051570A
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: 于祥濤;李增良;岳琳輝;仲維玲;徐娜;余雄軍
• 申請（專利權）人: 中鐵二十局集團有限公司
• 主分類號: G01S13/88
• 分類號: G01S13/88;G01S7/41;G01S13/89
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 張志江

1.一種孤石探測方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

向目標地層發射電磁波，以獲取所述目標地層中目標孤石的正演模擬數據集；

將所述正演模擬數據集中屬于同一探測平面的正演模擬數據劃分至同一個子數據集，獲得多個子數據集；

根據預設圓形截面信息獲得策略和所述多個子數據集，獲得多個圓形截面信息，其中，一個子數據集對應一個圓形截面信息；

根據所述多個圓形截面信息，獲得所述目標孤石的探測結果。

2.如權利要求1所述的孤石探測方法，其特征在于，所述根據預設圓形截面信息獲得策略和所述多個子數據集，獲得多個圓形截面信息的步驟包括：

對每個子數據集確定選定響應點；

根據預設圓形截面信息獲得策略和每個子數據集對應的所述選定響應點，獲得每個子數據集對應的圓形截面信息。

3.如權利要求2所述的孤石探測方法，其特征在于，所述根據預設圓形截面信息獲得策略和每個子數據集對應的所述選定響應點，獲得每個子數據集對應的圓形截面信息的步驟之前，所述方法還包括：

對每個子數據集對應的所述選定響應點進行雙曲線擬合，獲得多個擬合雙曲線，一個子數據集對應一個擬合雙曲線；

在所述多個擬合雙曲線中確定目標點；

利用圓弧法對每個雙曲線對應的所述目標點進行處理，獲得每個子數據集對應的結果點；

所述根據預設圓形截面信息獲得策略和每個子數據集對應的所述選定響應點，獲得每個子數據集對應的圓形截面信息的步驟包括：

根據預設圓形截面信息獲得策略和每個子數據集對應的所述結果點，獲得每個子數據集對應的圓形截面信息。

4.如權利要求3所述的孤石探測方法，其特征在于，所述在所述多個擬合雙曲線中確定目標點的步驟之前，所述方法還包括：

利用預設修正系數對所述多個擬合雙曲線進行修正，獲得多個目標雙曲線；

所述在所述多個擬合雙曲線中確定目標點的步驟包括：

在所述多個目標雙曲線中確定目標點。

5.如權利要求4所述的孤石探測方法，其特征在于，每個子數據集對應的所述結果點包括三個；所述根據預設圓形截面信息獲得策略和每個子數據集對應的所述結果點，獲得每個子數據集對應的圓形截面信息的步驟包括：

根據預設圓形截面信息獲得策略和每個子數據集對應的所述三個結果點，獲得每個子數據集對應的圓形截面信息，所述圓形截面信息包括目標圓心和目標半徑。

6.如權利要求5所述的孤石探測方法，其特征在于，所述根據預設圓形截面信息獲得策略和每個子數據集對應的所述三個結果點，獲得每個子數據集對應的圓形截面信息的步驟包括：

根據公式一和每個子數據集對應的所述三個結果點，獲得每個子數據集對應的圓形截面信息；

所述公式一為：

其中，X₀為所述目標圓心的橫坐標，y₀為所述目標圓心的縱坐標，r為所述目標半徑，X_i為每個子數據集對應的所述三個結果點中第一個結果點的橫坐標，Y_i為所述第一個結果點的縱坐標，X_i+1為每個子數據集對應的所述三個結果點中第二個結果點的橫坐標，Y_i+1為所述第二個結果點的縱坐標，X_i+2為每個子數據集對應的所述三個結果點中第三個結果點的橫坐標，Y_i+2為所述第三個結果點的縱坐標。

7.如權利要求1-6任一項所述的孤石探測方法，其特征在于，所述向目標地層發射電磁波，以獲取所述目標地層中目標孤石的正演模擬數據集的步驟包括：

向目標地層發射電磁波，以獲取所述目標地層中目標孤石的電磁波反射數據；

基于所述電磁波反射數據，獲得正演模擬數據集。