[發(fā)明專(zhuān)利]一種接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)方法及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010942532.2
• 申請(qǐng)日: 2020-09-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112269060A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-01-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張杭;方彥彥;王琳舒;沈雪玲;唐玲;崔義;云鳳玲;張瀟華;閆坤;史冬;方升;余章龍;蘇子龍
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 國(guó)聯(lián)汽車(chē)動(dòng)力電池研究院有限責(zé)任公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R27/02
• 分類(lèi)號(hào): G01R27/02;G01R27/14;G06F30/23
• 代理公司: 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 楊明月

1.一種接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)方法，其特征在于，包括：

獲取試驗(yàn)?zāi)Ｐ停谒鲈囼?yàn)?zāi)Ｐ瞳@取待測(cè)結(jié)構(gòu)體的試驗(yàn)電流值；

建立電學(xué)仿真模型，基于所述電學(xué)仿真模型獲取所述待測(cè)結(jié)構(gòu)體的接觸面電導(dǎo)率值和仿真電流值；

比較所述試驗(yàn)電流值和所述仿真電流值，對(duì)所述接觸面電導(dǎo)率值進(jìn)行調(diào)整，得到調(diào)整后的接觸面電導(dǎo)率值；

根據(jù)所述調(diào)整后的接觸面電導(dǎo)率值得到所述待測(cè)結(jié)構(gòu)體的實(shí)際接觸面電導(dǎo)率值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)方法，其特征在于，所述獲取試驗(yàn)?zāi)Ｐ停谒鲈囼?yàn)?zāi)Ｐ瞳@取待測(cè)結(jié)構(gòu)體的試驗(yàn)電流值，具體包括：

在所述待測(cè)結(jié)構(gòu)體兩端施加預(yù)設(shè)恒定電壓，獲取所述試驗(yàn)電流值。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)方法，其特征在于，所述建立電學(xué)仿真模型，基于所述電學(xué)仿真模型獲取所述待測(cè)結(jié)構(gòu)體的接觸面電導(dǎo)率值和仿真電流值，具體包括：

建立數(shù)字幾何模型，根據(jù)所述試驗(yàn)?zāi)Ｐ椭械脑囼?yàn)條件建立電學(xué)有限元仿真模型；

根據(jù)所述預(yù)設(shè)恒定電壓和所述試驗(yàn)電流值，得到試驗(yàn)電阻值；

獲取所述電學(xué)有限元仿真模型中的仿真接觸面積和所述仿真電流值，基于所述試驗(yàn)電阻值和所述仿真接觸面積，得到所述接觸面電導(dǎo)率值。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)方法，其特征在于，所述比較所述試驗(yàn)電流值和所述仿真電流值，對(duì)所述接觸面電導(dǎo)率值進(jìn)行調(diào)整，得到調(diào)整后的接觸面電導(dǎo)率值，具體包括：

比較所述試驗(yàn)電流值和所述仿真電流值，輸出電流比較結(jié)果；

調(diào)整所述接觸面電導(dǎo)率值，直至所述電流比較結(jié)果在預(yù)設(shè)誤差范圍內(nèi)，得到所述調(diào)整后的接觸面電導(dǎo)率值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述調(diào)整后的接觸面電導(dǎo)率值得到所述待測(cè)結(jié)構(gòu)體的實(shí)際接觸面電導(dǎo)率值，具體包括：

基于所述調(diào)整后的接觸面電導(dǎo)率值和所述仿真電流值，得到接觸電阻；

通過(guò)預(yù)設(shè)接觸面測(cè)量方法獲取實(shí)際接觸面積；

由所述接觸電阻和所述實(shí)際接觸面積，得到所述實(shí)際接觸面電導(dǎo)率值。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)接觸面測(cè)量方法包括接觸面拆解法。

7.一種接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)系統(tǒng)，其特征在于，包括：

試驗(yàn)?zāi)K，用于獲取試驗(yàn)?zāi)Ｐ停谒鲈囼?yàn)?zāi)Ｐ瞳@取待測(cè)結(jié)構(gòu)體的試驗(yàn)電流值；

仿真模塊，用于建立電學(xué)仿真模型，基于所述電學(xué)仿真模型獲取所述待測(cè)結(jié)構(gòu)體的接觸面電導(dǎo)率值和仿真電流值；

調(diào)整模塊，用于比較所述試驗(yàn)電流值和所述仿真電流值，對(duì)所述接觸面電導(dǎo)率值進(jìn)行調(diào)整，得到調(diào)整后的接觸面電導(dǎo)率值；

處理模塊，用于根據(jù)所述調(diào)整后的接觸面電導(dǎo)率值得到所述待測(cè)結(jié)構(gòu)體的實(shí)際接觸面電導(dǎo)率值。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)系統(tǒng)，其特征在于，所述試驗(yàn)?zāi)K具體用于：

在所述待測(cè)結(jié)構(gòu)體兩端施加預(yù)設(shè)恒定電壓，獲取所述試驗(yàn)電流值。

9.一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)方法的步驟。

10.一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述接觸電阻及接觸電導(dǎo)率辨識(shí)方法的步驟。