[發明專利]基于巖性與水性的雙參數流體性質識別方法

有效

• 申請號: 202010940465.0
• 申請日: 2020-09-09
• 公開（公告）號: CN111963162B
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: 席輝;張海濤;戰沙;張少華;湯宏平;郭浩鵬;鐘曉勤;鐘吉彬;劉廣林;陳陣
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00;G06F30/20
• 代理公司: 西安吉盛專利代理有限責任公司 61108
• 代理人: 張馳

1.基于巖性與水性的雙參數流體性質識別方法，其特征在于，包括：

獲取若干已開采儲層的自然伽馬測井曲線，以及未開采目標儲層的自然伽馬測井曲線，計算每個儲層的巖性非均質性表征參數V_GR；

獲取所述每個儲層的陣列感應電阻率曲線，反演視地層水電阻率譜C_RDIST；

對所述視地層水電阻率譜C_RDIST進行拾取，獲得所述每個儲層的視地層水電阻率均值R_wav和視地層水電阻率歪度S_wa；

根據所述視地層水電阻率均值R_wav和所述視地層水電阻率歪度S_wa，構建所述每個儲層的視地層水特征指示參數WI；

根據所述若干已開采儲層的巖性非均質性表征參數V_GR和視地層水特征指示參數WI，建立雙參數流體性質識別圖版；

根據所述雙參數流體性質識別圖版，對所述未開采目標儲層的流體進行性質識別。

2.如權利要求1所述的基于巖性與水性的雙參數流體性質識別方法，其特征在于，獲取若干已開采儲層的自然伽馬測井曲線，以及未開采目標儲層的自然伽馬測井曲線，計算每個儲層的巖性非均質性表征參數V_GR，具體包括：

式中：

GR_i是自然伽馬測井值，API；

為自然伽馬平均值，API；

n為采樣點的總數。

3.如權利要求1或2所述的基于巖性與水性的雙參數流體性質識別方法，其特征在于，所述獲取每個儲層的陣列感應電阻率曲線，反演視地層水電阻率譜C_RDIST，具體包括以下步驟：

S101.利用陣列感應測井儀獲取所述每個儲層的不同深度的陣列感應電阻率曲線，至少包括陣列感應電阻率AT90曲線、陣列感應電阻率AT60曲線和陣列感應電阻率AT10曲線，其中AT90表示90in徑向探測深度下的陣列感應電阻率，AT60表示60in徑向探測深度下的陣列感應電阻率，AT10表示10in徑向探測深度下的陣列感應電阻率；

S102.利用陣列感應電阻率曲線反演視地層水電阻率R_wa，反演過程如下：

式中：

R_t為原狀視地層電阻率，Ω·m；

R_i為過渡帶視地層電阻率，Ω·m；

R_xo為沖洗帶視地層電阻率，Ω·m；

a、b為巖性系數，無量綱；

m為膠結指數，

R_wa公式內的n為飽和度指數；

Φ為孔隙度，％；

S_w為原狀地層含水飽和度，取值100％；

S_i為過渡帶含水飽和度，取值100％；

S_xo為沖洗帶含水飽和度，取值100％；

n為采樣點的總數；

j為采樣點的個數；

S103.對視地層水電阻率R_wa進行直方圖頻率統計，得到視地層水電阻率譜C_RDIST。

4.如權利要求3所述的基于巖性與水性的雙參數流體性質識別方法，其特征在于，對所述視地層水電阻率譜C_RDIST進行拾取，獲得所述目標地層的視地層水電阻率均值R_wav和視地層水電阻率歪度S_wa，具體包括：

式中：

R_wai為第i個采樣點的視地層水電阻率值，Ω·m；

為視地層水電阻率分布頻數，無量綱；

R_m為視地層水電阻率平均值，Ω·m。

5.如權利要求4所述的基于巖性與水性的雙參數流體性質識別方法，其特征在于，根據所述視地層水電阻率均值R_wav和視地層水電阻率歪度S_wa，構建所述目標地層的視地層水特征指示參數WI，具體包括：